利用先入先出存储单元构成的集成电路测试装置制造方法及图纸

一种利用先入先出存储单元构成的集成电路测试装置，它由被测集成电路ＩＣ和ＰＣ机组成，其中ＰＣ机的输出接先入先出存储单元ＦＩＦＯ－ＩＮ，ＰＣ机的写控制接ＦＩＦＯ－ＩＮ，ＰＣ机的读控制接ＦＩＦＯ－ＯＵＴ；读写控制器读控制接ＦＩＦＯ－ＩＮ，写控制接ＦＩＦＯ－ＯＵＴ；ＦＩＦＯ－ＩＮ输出接被测ＩＣ，ＩＣ的输出接储存测试结果的先入先出存储单元ＦＩＦＯ－ＯＵＴ，ＦＩＦＯ－ＯＵＴ的输出又输入至ＰＣ机；读写控制电路与ＰＣ机相接。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种集成电路测试装置，尤其是一种利用先入先出存储单元构成的集成电路测试装置。自1980年以来，单一的集成电路芯片(IC)所包括在的晶体管数目大幅增加。为设计渐趋复杂的电路，一些电路设计的辅助工具因而被开发出来。但要完成一个IC产品，不单是设计和制造的过程，更重要的是测试它的功能是否正常。如超大型集成电路的设计过程可用附图说明图1来表示。目前开发的集成电路自动测试装置，包含有计算机控制系统，计算机测试板和半导体元件等。这些装置依测试方法分为二种1、用一确定正确的IC，将相同的测试模式同时输入到正确的和待测的IC上，比较两个测试结果是否相同，而判定被测IC是否合格。如图2的所示。2、与以上方法不同的是把模拟产生的预期结查储存在存储单元中，直接去和被测IC所产生的测试结果对比。如图3所示。现有这些测试设备的测试模式及结果是存在RAM中，由于RAM需要各种数据输入和控制脚甚多，使用RAM的测试设备体积较大。另外，由于不同容量的RAM接脚不同，因此测试设备的适应度较差。又因为目前现有的集成电路的某些接脚可能不仅做为单一的输入或输出，有时一个接脚同时具有输入/输出的功能。这样本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用先入先出存储单元构成的集成电路测试装置，它由被测集成电路ＩＣ和ＰＣ机组成，其特征在于：ＰＣ机的输出接先入先出存储单元ＦＩＦＯ－ＩＮ，ＰＣ机的写控制接ＦＩＦＯ－ＩＮ，ＰＣ机的读控制接ＦＩＦＯ－ＯＵＴ；读写控制器读控制接ＦＩＦＯ－ＩＮ，写控制接ＦＩＦＯ－ＯＵＴ；ＦＩＦＯ－ＩＮ输出接被测ＩＣ，ＩＣ的输出接储存测试结果的先入先出存储单元ＦＩＦＯ－ＯＵＴ，ＦＩＦＯ－ＯＵＴ的输出又输入至ＰＣ机；读写控制电路与ＰＣ机相接。２、根据权利要求书１所述的利用先入先出存储单元构成的集成电路测试装置，其特征在于：所述的先入先出存储单元ＦＩＦＯ－ＩＮ与ＩＣ之间接一切换开关，ＦＩＦＯ控制器控制切换开关的开或关，Ｆ...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴乾弥，
申请(专利权)人：吴乾弥，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]