一种测试芯片的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种测试芯片的方法，该方法包括：Ａ．设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；Ｂ．可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；Ｃ．待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。本发明专利技术进一步包括把待测芯片处理的结果和软件验证工具（Ｃｍｏｄｕｌｅ）对输入数据进行处理的结果进行比对，还包括通过比对待测芯片对输入数据进行处理的结果和输入数据来观察待测芯片中处理算法实现的效果。本发明专利技术同时公开了用该方法实现测试芯片的系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试技术，特别涉及一种测试芯片的方法及系统。
技术介绍
在芯片进行研发和制造的过程中，必须要进行测试芯片的过程。如图1所示为现有技术测试芯片需要搭建的系统的组成结构示意图，其包括传感器102用来采集需要处理的输入数据并将输出作为待测芯片的输入。待测芯片101用来对传感器102的输出进行处理，并把处理的结果发送给显示器103。不同的芯片具有不同的处理功能，例如多媒体处理芯片中的图像处理芯片，具有对图像进行增益控制、图像格式转化、图像缩放、颜色调整和伽玛较正等处理；声音处理芯片具有对声音进行音效、音质和音量等调整的处理。显示器103对待测芯片101处理的结果进行显示。但是在不同的环境下，传感器102采集的需要处理的输入数据是在不断变化的，因此传感器102输出的数据也是不断变化的，也就是传感器102发送给待测芯片101的输入数据和发送给软件验证工具(Cmodule)的与输入数据对应的文件数据都是不断变化的，这样经过待测芯片101处理的结果是不稳定和确切的，从而发送给显示器103显示的处理的结果也是不稳定和确切的。更进一步地，输入数据对应的文件数据经过Cmodule处理的结果是不稳定和确切的，这个处理结果是文件的形式，可以被PC读取出来并显示在显示器上。所以对经过待测芯片101和Cmodule处理的结果进行比对是很困难的。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种测试芯片的方法，该方法能使待测芯片得到稳定和确切的输入数据。本专利技术的另一个目的在于提供一种测试芯片的系统，该系统能使待测芯片得到稳定和确切的输入数据。为达到上述目的的一个方面，本专利技术提供了一种测试芯片的方法，该方法包括以下步骤A、设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；B、可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；C、待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。所述步骤B之前进一步包括PC通过接口模块向处理器发送控制指令；处理器根据此控制指令通过总线读取输入数据，处理器通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑器件发送控制指令，可编程逻辑单元根据此控制指令执行步骤B。预先设置一个存储器，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是处理器根据控制指令通过总线读取存储器中的输入数据。预先设置一个网络接口，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是处理器根据控制指令通过总线读取外围设备通过网络接口发送的输入数据。所述步骤C之前进一步包括PC向处理器发送控制命令；处理器根据此控制指令控制待测芯片执行步骤C。所述步骤C之后进一步包括待测芯片把对输入数据处理的结果发送给显示模块，显示模块把处理的结果显示出来。预先设置一个存储器来存储输入数据，所述的步骤C后进一步包括 D、待测芯片把处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元把处理的结果发送给总线，处理器把总线上的处理的结果发送到存储器；E、PC通过接口模块向处理器发送控制指令，处理器通过总线读取存储模块上的待测芯片处理的结果和输入数据；F、处理器把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC，PC对待测芯片处理的结果和输入数据进行比对，并把比对结果显示出来。所述的步骤B中可编程逻辑单元模拟传感器的输出信号是时钟信号和决定数据输出方式的信号，其中，时钟信号采用模拟传感器的输出时钟；所述的步骤C中待测芯片采用模拟传感器的输出信号来接收输入数据的步骤是待测芯片根据时钟信号确定输入数据的时钟，根据决定数据输出方式的信号确定输入数据的输出方式，接收输入数据。为达到上述目的的另一个方面，提供一种测试芯片的系统，该系统包括可编程逻辑单元和待测芯片；所述的可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片。所述的系统进一步包括PC、接口模块、网络接口、两个处理器，分别为处理器1和处理器2和总线；所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1通过总线读取外围设备通过网络接口发送的输入数据，并通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑单元发送控制指令；所述的可编程逻辑单元根据此控制指令模拟传感器的输出信号，并把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片；所述的PC向处理器2发送控制指令，处理器2根据此控制指令控制待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据并对输入数据进行处理。所述的网络接口是以太网接口。所述的系统进一步包括PC、接口模块、存储器、两个处理器，分别为处理器1和处理器2和总线； 所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1通过总线读取存储器上的输入数据，并通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑单元发送控制指令；所述的可编程逻辑单元根据此控制指令模拟传感器的输出信号，并把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片；所述的PC向处理器2发送控制指令，处理器2根据此控制指令控制待测芯片用模拟传感器的输出信号来接收输入数据并对输入数据进行处理；所述的待测芯片将处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元将处理的结果发送给总线，处理器1把总线上的处理的结果发送给存储器；所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1读取存储器上的待测芯片处理的结果和输入数据，并把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC。所述的待测芯片包括接口Sif、接口Biu和接口Lcdif；所述的接口Sif接收可编程逻辑单元发送的模拟传感器的输出信号和输入数据；所述的接口Biu接收处理器2发送的控制指令；所述的接口Lcdif接收待测芯片对输入数据处理的结果，并将处理的结果发送给显示模块或/和将处理的结果发送给可编程逻辑单元。所述的PC采用的是测试平台Dragon；所述的接口模块包含接口Uart或/和接口Usb；所述的处理器1的型号是S3c2410；所述的处理器2的型号是S3c44box、所述的存储器包括动态随机存储器Sdram、闪存Norflash和闪存Nandflash。所述的系统进一步包括显示模块；所述的待测芯片将对输入数据处理的结果发送给显示模块；所述的显示模块将处理的结果显示出来。所述的显示模块是显示器。所述的可编程逻辑单元是现场可编程门阵列FPGA或者复杂的可编程逻辑器件CPLD。由以上的技术方案可见，本专利技术的一种芯片测试的方法和系统，通过设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑器件，把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片，待测芯片用模拟传感器的输出信号来接收输入数据，从而待测芯片得到稳定和确切的输入数据并对输入数据进行处理。本专利技术进一步包括把待测芯片处理的结果和Cmodule对输入数据进行处理的结果进行比对，还包括通过比对待测芯片对输入数据进行处理的结果和输入数据来观察待测芯片中处理算法实现的效果。本专利技术中的输入数据还可以人为设置，这样就可以在本专利技术中设置在一些环境中不容易通过传感器采集的输入数据。附图说明图1为现有技术测试生产的芯片需要搭建的系统的组成结构示意图；图2为本专利技术的一种测试芯片的系统的组成结构示意图；图3为本专利技术的一种测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试芯片的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：Ａ、设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；Ｂ、可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；Ｃ 、待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。

【技术特征摘要】
1.一种测试芯片的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤A、设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；B、可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；C、待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤B之前进一步包括PC通过接口模块向处理器发送控制指令；处理器根据此控制指令通过总线读取输入数据，处理器通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑器件发送控制指令，可编程逻辑单元根据此控制指令执行步骤B。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，预先设置一个存储器，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是处理器根据控制指令通过总线读取存储器中的输入数据。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，预先设置一个网络接口，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是处理器根据控制指令通过总线读取外围设备通过网络接口发送的输入数据。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之前进一步包括PC向处理器发送控制命令；处理器根据此控制指令控制待测芯片执行步骤C。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之后进一步包括待测芯片把对输入数据处理的结果发送给显示模块，显示模块把处理的结果显示出来。7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，预先设置一个存储器来存储输入数据，所述的步骤C后进一步包括D、待测芯片把处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元把处理的结果发送给总线，处理器把总线上的处理的结果发送到存储器；E、PC通过接口模块向处理器发送控制指令，处理器通过总线读取存储模块上的待测芯片处理的结果和输入数据；F、处理器把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC，PC对待测芯片处理的结果和输入数据进行比对，并把比对结果显示出来。8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的步骤B中可编程逻辑单元模拟传感器的输出信号是时钟信号和决定数据输出方式的信号，其中，时钟信号采用模拟传感器的输出时钟；所述的步骤C中待测芯片采用模拟传感器的输出信号来接收输入数据的步骤是待测芯片根据时钟信号确定输入数据的时钟，根据决定数据输出方式的信号确定输入数据的输出方式，接收输入数据。9.一种测试芯片的系统，其特征在于，该系统包括可编程逻辑单元和待测芯片；所述的可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片。10.如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述的系统进一步包括PC、接口模块、网络接口、两个处理器，分别为处理器1和处理器2和总...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄鑫，游明琦，
申请(专利权)人：北京中星微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]