面向集成电路测试的测试数据转换方法技术

本发明专利技术公开了一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对Ｊ７５０系列测试机实施，包括如下步骤：（１）将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；（２）根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项；（３）在多个芯片并行测试的情况下，首先在所述新建数据文件的列标题处填写预定数据项，然后启动多线程扫描原始数据中同一个坐标的不同测试项得出的数据，分别填写在对应的测试名称下。本方法能够批量处理测试过程中产生的数据，可以做到完全自动化，无需人工干预。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种能够实现集成电路测试数据批量转换的方法，尤 其涉及一种面向大规模集成电路测试的实际需求，能够自动实时地将ASCII码的J750测试数据批量转换为其它数据格式的方法，属于集成电路测试

技术介绍
在集成电路制造过程中，测试是必须但又是耗时而昂贵的过程， 它是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。40年来，随着集成电 路发展到第四代，集成电路测试机也从最初测试小规模集成电路发展 到测试中规模、大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大规 模集成电路测试机进入全盛时期。目前，集成电路测试机已经进入第四代，测量对象为VLSI，可测 管脚数高达1024个，功能测试图形速率高达lOOMHz，测试图形深度 可达4M以上。测试机的智能化水平进一步提高，具备与计算机辅助设 计(CAD)连接能力，利用自动生成测试图形向量，并加强了数字系统 与模拟系统的融合。从1970年仙童(Fair child)公司形成Sentry系 列以来，继而形成系列的还有泰克(Tektronix)公司的3200系列， 泰瑞达(Teradyne)公司的J750系列等。在国内，美国泰瑞达(Teradyne)公司针对微处理器测试需求的 J750系列集成电路测试机得到了广泛的应用。J750是一个将1024个 数字通道完全整合到一个测试头的"零占地"系统，具有强大的并行 测试能力和超过95%的并行测试效率，能够覆盖国内现阶段设计公司 开发设计的产品。因此，很多国内客户用这款测试机作为产品量产的 测试机器。但是，由于泰瑞达公司没有为J750开发完全的软件来支持 生产测试数据的处理，而只是提供了一些接口。所以业界没有一个统 一的标准方法来转换生成的测试数据。有的公司根据自己的实际情况 写了一些简单的脚本完成一些简单的功能，不仅通用性差，也很难移植和扩展。这一缺陷在最新推出的J750Ex测试机中仍然没有得到有效的解决。
技术实现思路
鉴于现有技术所存在的不足，本专利技术的目的是提供一种面向集成电路测试的测试数据转换方法。该方法针对目前业界通用的J750系列测 试机实现，能够将ASCII码的J750测试数据批量转换为用户所需的其 它数据格式。为实现上述的专利技术目的，本专利技术采用下述的技术方案 一种，针对J750系列测试 机实施，其特征在于包括如下步骤(1) 将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按 照预定的格式生成新建数据文件的文件名；(2) 根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项；(3) 在多个芯片并行测试的情况下，首先在所述新建数据文件的列标 题处填写预定数据项，然后启动多线程扫描原始数据中同一个坐标的不 同测试项得出的数据，分别填写在对应的测试名称下。其中，所述步骤(l)中，所述原始数据中包括原始测试数据和复测数 据，所述该原始测试数据放置在Test Data/Device/Lot/Data目录之下， 所述复测数据放置在Test Data/ Device/Lot/Retest目录之下。所述步骤(l)中，通过记事本程序打开所述原始数据文件，识别该项 测试起始时的日期和时间、任务名称和节点名称，再从Lot log文件中 得到晶片的信息，把这些信息拆分并整合，得出新建数据文件的文件名。所述步骤(2)中，根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件 中填写相关项，确定行标题和列标题。所述步骤(3)中，所述预定数据项包括但不限于坐标、地点、ID序列、 自动识别产生的测试名称以及最后测试结果信息。所述数据转换方法在执行前，通过读取wafer log日志文件，判断 此片数据是否已经处理；如果已经进行处理则放弃该数据，转而进行下 一批待处理数据的处理；如果还未进行处理则判断是否有需要进行复测 的数据文件，然后按先原始数据、再复测数据的顺序读取数据文件，获 取数据并把数据写入临时文件中。所述数据转换方法在执行完毕后，在wafer log日志文件中写入表 示数据转换完毕的信息。本专利技术所提供的测试数据转换方法能够批量处理测试过程中产生的ASCII数据，可以做到完全自动化，无人工干预，定时完成数据处理。 附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的说明。图1是在J750系列测试机中，用于放置测试数据的目录示意图2为Lot log文件中晶片信息的示意图3是本测试数据转换方法中，判断Lot目录下的数据是否已经 处理的流程示意图4通过读取wafer log日志文件判断数据是否已经处理的流程示 意图5是在数据未曾处理的情况下，通过读取data文件获取数据并 把数据写入临时文件的流程示意图6执行数据批量转换的流程示意图。 具体实施例方式本专利技术所提供的测试数据转换方法主要针对现有J750系列测试机实 现，其核心的技术思想在于从J750系列测试机所输出的ASCII码格式 的输出文件中提取相关信息，按照用户需要的数据格式进行相应的数据 处理，批量生成符合用户格式要求的数据文件。J750系列测试机的输出数据格式为基于ASCII码的文本文件，输出 数据包括的信息有泖J试时间、Job Name、 Operator、 Tester Name、Channel map以及每颗芯片的X、 Y坐标、IDString、测试结果等。在本专利申请 中，用data文件表示J50的输出数据，BHTC文件表示经过数据转换的文 件，MAP文件表示生成的wafer (晶片)map文件。下面详细介绍本测试数据转换方法的具体实施步骤。首先，按照规定的路径存放测试的原始数据，并且按照规定的格式 生成文件名。图1是在J750系列测试机中，用于放置测试数据的目录示意图。 在J750系列测试机进行测试之后，需要被转换的测试数据分为两类， 一类是原始测试数据。该原始测试数据放置在Test Data/Device/Lot/ Data目录之下；另外一类是复测数据，该复测数据放置在Test Data/ Device/Lot/Retest目录之下。此处将Teradyne J750测试机随时产生的测试数据按照规定的路径存放，并且按照规定的格式生成文件名的处理 方式不需要操作员为大量的检测数据设置存储路径和文件名，降低了操 作员的工作量，避免了操作员的误操作，提高了工作效率。J750系列测试机的输出数据都是采用ASCII码的文件，该文件可以 通过记事本程序打开。文件打开后，自动识别该项测试起始时的date & time (日期和时间)，job name (任务名称)，node name (节点名称)， 在本目录下新建记事本文档，文件名则根据这三个信息的内容按照预定 格式要求编写。例如，在原始数据的Job Name自动获取任务名(例如 Hed0409_bv65—8Site—Sortl)，再从Lot log文件中得到图2所示关于 wafer (晶片)的信息，之后把这些信息拆分并整合，得出文件名(Hed0409—h6x7273一bv65—90_Sortl—01. bhtc)。图3是本测试数据转换方法中，判断Lot目录下的数据是否已经 处理的流程示意图。处理过程从步骤101开始，进入Test Data目录(步骤201)后开始遍历Test Data目录下的文件或目录，对每一个 进行判本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对Ｊ７５０系列测试机实施，其特征在于包括如下步骤：　（１）将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；　（２）根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项；　（３）在多个芯片并行测试的情况下，首先在所述新建数据文件的列标题处填写预定数据项，然后启动多线程扫描原始数据中同一个坐标的不同测试项得出的数据，分别填写在对应的测试名称下。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘炜，郑忠林，吉国凡，张琳，王慧，金兰，孙博，石志刚，赵智昊，陈希，孙杨，
申请(专利权)人：北京华大泰思特半导体检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]