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本发明公开了一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对Ｊ７５０系列测试机实施，包括如下步骤：（１）将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；（２）根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据...该专利属于北京华大泰思特半导体检测技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京华大泰思特半导体检测技术有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对Ｊ７５０系列测试机实施，包括如下步骤：（１）将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；（２）根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据...