A bandgap reference source with high power supply includes a self bias circuit, an adjustment circuit, a band gap core circuit, and a start circuit. The bandgap core circuit in I: PTAT generation circuit of the static working point through the negative feedback amplifier to adjust, is exactly equal to the collector current NPN tube Q1, Q2, NPN transistor Q8 generated I: PTAT current and constant current source circuit with a negative temperature coefficient of V: BE first order temperature compensation to reduce the temperature coefficient. The constant current source circuit can be produced with bias, bias current of I: PTAT circuit. The op amp circuit is a two stage operational amplifier to increase the gain, and the compensation circuit is a two stage operational amplifier for frequency compensation. The adjustment circuit through the negative feedback function to eliminate the reference output V down REF dependence on the voltage of the power supply, in order to improve the PSRR. The start circuit eliminates the \degenerate\ bias point and drives the bias circuit. The bias circuit provides bias voltage for the regulator circuit. The utility model has the advantages of simple and novel circuit structure, no external bias, small circuit occupation, and good temperature coefficient.
【技术实现步骤摘要】
本技术属于数模混合集成电路领域,具体为低功耗高电源抑制的Bi-CMOS带隙基准源,是一种结构简单、低功耗高电源抑制比的带隙基准 电压源,尤其适合应用于混合集成电路的模/数转换器(ADC)、数/模转换 器(DAC)中。
技术介绍
在ADC、 DAC混合集成电路设计中,片内集成的高性能基准源 (Reference)不可或缺。随着电路系统的复杂化和数模混合信号的精致化, 对ADC、 DAC等混合集成电路的要求越来越高,从而对基准源的要求特别 是对它的电源抑制要求也越来越高。制作基准电压源,传统的做法是利用二极管的反向击穿特性。它是利 用二极管与限流电阻配合,并通过调节流过自身的电流来抵消电源电压的 变化对它造成的影响。但是,这需要很高的电源电压才能使二极管反向击 穿,更重要的是它和电源电压的相关性较大,电源抑制比(PSRR)不理想。 也有的是利用正向V^来产生基准电压,但是这会使得温度系数很大。而带 隙基准源由于其具有较低的温度系数、较高的电源抑制比以及稳定的输出 等优点而备受青睐。为了降低带隙的温度系数,人们一般都是通过温度一阶补偿的办法来 达到目的。传统上的带隙基准源的电路结构如图(1),它的电源抑制性 能不是很好,精度也不是很高,而且还对运放的失调非常敏感。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种高电源抑制的带隙基准源,该带隙基 准源的具有低功耗和高电源抑制的优点。本技术提供的高电源抑制的带隙基准源,包括自偏置电路、调整电路、带隙核心电路和启动电路;其中,带隙核心电路包括NPN晶体管 Ql、 Q2、 Q6、 Q7和Q8, PNP晶体管Q3、 Q4和Q5,还包 ...
【技术保护点】
一种高电源抑制的带隙基准源,其特征在于:它包括自偏置电路(1)、调整电路(2)、带隙核心电路(3)和启动电路(4);其中,带隙核心电路(3)包括NPN晶体管Q1、Q2、Q6、Q7和Q8,PNP晶体管Q3、Q4和Q5,还包括电阻R1、 R2、R3、R4以及电容C1;NPN晶体管Q1和Q2的基极分别接在电阻R3的两端,发射极连在一起,共同接在电阻R4上,电阻R4的另一端接地;NPN晶体管Q1和PNP晶体管Q3的集电极接在一起,NPN晶体管Q2和PNP晶体管Q4的集电极接在一起;NPN晶体管Q2和PNP晶体管Q4的基极电位相同,发射极电位均接在基准输出电压V↓[REF]上;PNP晶体管Q5的发射极接在基准输出电压V↓[REF]上、基极接在NPN晶体管Q2与PNP晶体管Q4的集电极上,NPN晶体管Q6的发射极接地、基极和NPN晶体管Q8的基极连在一起,而PNP晶体管Q5和NPN晶体管Q6的集电极接在一起,共同接在NPN晶体管Q7的基极;NPN晶体管Q7的发射极和基极分别接地和基准输出电压V↓[REF];NPN晶体管Q8的集电极和基极连一起,接在电阻R3上;电阻R2的一端接在电阻R ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:邹雪城,陈晓飞,刘占领,雷鑑铭,刘政林,郑朝霞,
申请(专利权)人:华中科技大学,
类型:实用新型
国别省市:83[中国|武汉]
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