【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及模拟集成电路
,特别涉及一种具有失调抑制和温度补偿的亚阈值CMOS基准电压源电路。
技术介绍
如今以无线体域网(Wireless Body Area Network,简称WBAN)、能量获取技术为代表的低压低功耗应用受到了越来越多的关注。在这些应用中,需要基准源尽可能满足低电源电压,低功耗、小尺寸以及高精度的要求。传统的CMOS带隙基准源虽然精度较高,但BE结需要正向偏置,因此电源电压要在1V左右。为了满足低电源电压的应用要求,亚阈值MOS的基准源的设计得到了发展。然而,亚阈值MOS在应用中存在以下两个比较严重的问题:第一、温度系数较高。亚阈值MOS产生基准电压的原理与双极结型晶体管(Bipolar Junction Transistor,简称BJT)类似。利用阈值电压Vth的负温度系数和两个亚阈值MOS的栅源电压之差△VGS的正温度系数可以获得零温度系数。但Vth高阶项的值远大于VBE的高阶项,因此亚阈值MOS的温度系数往往较高,在几十ppm/℃。所以,为了进一步降低温度系数,需要考虑高阶项的影响,进行曲率补偿。第二、由于MOS管的失配,箝位电路存在失调。请参见图1,图1为现有技术的一种亚阈值MOS基准源的电路结构示意图。箝位电路的失调会使基准源的△VGS或PTAT(Proportional To Absolute Temperature)电流出现偏差。更进一步的,箝位电路的失调会被电阻的比例放大进而影响基准电压的精度。针对失调的消除,第一种方法是增加MOS器件尺寸,但抑制失调的效果有限,且是以牺牲面积为代价。第二种方法是采用斩波技 ...
【技术保护点】
一种具有失调抑制和温度补偿的亚阈值CMOS基准电压源电路(10),包括启动电路(11)、电流偏置电路(13),箝位运放电路(15)、基准源核心电路(17)、电压源(VDD)、接地端(GND)及输出端(VREF),其特征在于:所述基准源核心电路(17)包括第四电阻(R4)、第五电阻(R5)、第六电阻(R6)、第七电阻(R7)、第十PMOS管(MP10)、第十一PMOS管(MP11)、第十二PMOS管(MP12)、第十三PMOS管(MP13)、第十四PMOS管(MP14)、第十五PMOS管(MP15)、第十一NMOS管(MN11)、第十二NMOS管(MN12)及第十三NMOS管(MN13);其中,所述第四电阻(R4)与所述第十一NMOS管(MN11),所述第五电阻(R5)、所述第十二NMOS管(MN12)与所述第七电阻(R7),所述第六电阻(R6)与所述第十三NMOS管(MN13)分别串接后并接于所述输出端(VREF)与所述接地端(GND)之间;所述第十一NMOS管(MN11)的控制端电连接至所述第五电阻(R5)与所述第十二NMOS管(MN12)串接形成的节点(B)处;所述第十二NMOS管 ...
【技术特征摘要】
1.一种具有失调抑制和温度补偿的亚阈值CMOS基准电压源电路(10),包括启动电路(11)、电流偏置电路(13),箝位运放电路(15)、基准源核心电路(17)、电压源(VDD)、接地端(GND)及输出端(VREF),其特征在于:所述基准源核心电路(17)包括第四电阻(R4)、第五电阻(R5)、第六电阻(R6)、第七电阻(R7)、第十PMOS管(MP10)、第十一PMOS管(MP11)、第十二PMOS管(MP12)、第十三PMOS管(MP13)、第十四PMOS管(MP14)、第十五PMOS管(MP15)、第十一NMOS管(MN11)、第十二NMOS管(MN12)及第十三NMOS管(MN13);其中,所述第四电阻(R4)与所述第十一NMOS管(MN11),所述第五电阻(R5)、所述第十二NMOS管(MN12)与所述第七电阻(R7),所述第六电阻(R6)与所述第十三NMOS管(MN13)分别串接后并接于所述输出端(VREF)与所述接地端(GND)之间;所述第十一NMOS管(MN11)的控制端电连接至所述第五电阻(R5)与所述第十二NMOS管(MN12)串接形成的节点(B)处;所述第十二NMOS管(MN12)的控制端与所述第十三NMOS管(MN13)的控制端均电连接至所述第六电阻(R6)与所述第十三NMOS管(MN13)串接形成的第三节点(C)处;所述第十PMOS管(MP10)与所述第十一PMOS管(MP11)串接后并接于所述第四电阻(R4)的两端,且所述第十PMOS管(MP10)的控制端电连接至所述第十PMOS管(MP10)与所述第十一PMOS管(MP11)串接形成的节点处,所述第十一PMOS管(MP11)的控制端电连接至所述第四电阻(R4)和所述第十一NMOS管(MN11)串接形成的第一节点(A)处;所述第十二PMOS管(MP12)与所述第十三PMOS管(MP13)串接后并接于所述第五电阻(R5)的两端,且所述第十二PMOS管(MP12)的控制端电连接至所述第十二PMOS管(MP12)与所述第十三PMOS管(MP13)串接形成的节点处,所述第十三PMOS管(MP13)的控制端电连接至所述第五电阻(R5)和所述第十二NMOS管(MN12)串接形成的第二节点(B)处;所述第十四PMOS管(MP14)与所述第十五PMOS管(MP15)串接后并接于所述第六电阻(R6)的两端,且所述第十四PMOS管(MP14)的控制端电连接至所述第十四PMOS管(MP14)与所述第十五PMOS管(MP15)串接形成的节点处,所述第十五PMOS管(MP15)的控制端电连接至所述第六电阻(R6)和所述第十三NMOS管(MN13)串接形成的第三节点(C)处。2.如权利要求1所述的基准电压源电路(10),其特征在于,所述启动电路(11)包括第一PMOS管(Mp1)、第二PMOS管(Mp2)、第三PMOS管(Mp3)、第四PMOS管(Mp4)、第十六PMOS管(Mp16)、第十七PMOS管(Mp17)、第十八PMOS管(Mp18)、第十九PMOS管(Mp19)、第一NMOS管(Mn1)、第二NMOS管(Mn2)、第三NMOS管(Mn3)、第四NMOS管(Mn4)、第五NMOS管(Mn5);其中,所述第十六PMOS管(Mp16)、所述第十七PMOS管(Mp17)、所述第十八PMOS管(Mp18)及所述第十九PMOS管(Mp19)和所述第一NMOS管(Mn1)串接于所述电压源(VDD)和所述接地端(GND)之间,且所述第十六PMOS管(Mp16)、所述第十七PMOS管(Mp17)、所述第十八PMOS管(Mp18)和所述第十九PMOS管(Mp19)的控制端串接后电连接至所述接地端(GND);所述第一PMOS管(Mp1)与所述第二PMOS管(Mp2)并接后与所述第二NMOS管(Mn2)串接于所述电压源(VDD)和所述接地端(GN...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘帘曦,廖栩锋,宋宇,沐俊超,朱樟明,杨银堂,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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