反馈式加工条件校正装置与反馈式加工方法制造方法及图纸

本发明专利技术使用在多个已加工完工件在加工机１０及加工后测量仪１６间待机，加入加工机加工条件的校正值Ｕ的影响不能立即反映在加工后测量仪的测量值Ｘ的加工系统。在根据测量值Ｘ确定校正值Ｕ的反馈式加工条件校正装置中，正确把握校正值Ｕ在测量值Ｘ的反馈时刻，以提高校正值Ｕ的确定精度为目的，用顺序求与测量值Ｕ的此次值和上次值之差的测量值差后差，其测量值前后差出现极值，并且此时的值超过设定以上时，便确定校正值Ｕ的方法实现了此目的。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

Feedback type processing condition correcting device and feedback processing method

The present invention is used in multiple processing workpieces in processing machine and processing 10 after measuring instrument 16 standby, adding machining condition correction value U effect can not be reflected immediately after processing the measuring instrument value processing system X. According to the measurement value of X correction value determined feedback processing conditions U correction device, correctly grasp the correction value U feedback time X in the measurement, in order to improve the accuracy of the correction value for the purpose of determining U, U value and the last value difference between the measured value and the measured value with the difference between order. The measured values before and after differential extremum, and the value exceeds the set above, will determine the correction value U method to realize this purpose.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及到通过反馈用与被加工工件的尺寸误差有关联的信息来校正下次加工条件的反馈式加工条件校正装置及反馈式加工方法。上述反馈式加工条件校正装置(以下将简称为校正装置)一般使用于包括(a)顺序加工多个工件的加工机，和(b)由外部供给的校正值，来确定加工机的加工条件、并按该加工条件对加工机进行控制的加工控制装置，和(c)依次对用加工机进行加工的多个工件的尺寸进行测量的测量仪的加工系统。校正装置包括(1)根据测量仪的测量值确定下次加工工件的加工条件校正值的校正值确定部，和(2)向加工机控制装置提供所确定校正值的校正值供给部。对于由加工机加工出来的工件立即被测量仪测量的系统来说，由于按照受到最新校正值影响的加工条件加工出来的工件直接由测量仪测量，最新校正值的影响直接表现在测量值中，所以能够迅速判断最新校正值是否合适。因此，在这种形式的加工系统中使用上述校正装置的场合，提高加工条件的校正精度比较简单。但是，在加工系统中，存在着在加工机和测量仪之间存在至少一个工件等待测量仪测量的方式(参考图2)，在这种加工系统中，受最新校正值影响的工件不能直接由测量仪测量，最新校正值的响应在经过一段延时的时间后才开始表现在测量值上。因此，在这个存在空载时间的加工系统中使用上述偏移装置的场合，提高加工条件的偏移精度比较困难。并且，这里“空载时间”原来是时间概念，它与由加工机加工后有多个等待测量仪测量的待机工件的“待机工件数”不是严格一致，但是对定义控制系统特性的参考来讲是等价的，以下的“空载时间”和“待机工件数”将作为相互对应的概念来使用。有关这类情况为背景，本专利技术人正在研究这种存在空载时间式的加工系统中适合使用的的校正装置，提出了上述校正装置。每当测量仪测到，按照受最新校正值影响的加工条件加工出来的多个工件中的头一个工件时，前述的校正值确定部就根据测量仪的测量值来确定新的校正值。以该第1偏移装置为例，偏移值确定部依次存储测量仪来的测量值，存储的测量值数到达的设定的个数时，基于存储设定的多个测量值一起确定校正值。每次用测量仪进行测量头一个校正工件时，就从无存储的状态重新进行测量值存储的方式来进行。基于这种实施例的一个校正装置中测量值和校正值之间的关系在图16的图中所示。在此图中，横轴是用测量仪测量的工件数i、纵轴是测量值X。在数据存储阶段依次存储测量值，当这个数达到设定的多个时确定校正值U。但是，这个偏移值U不直接反映在测量值X中，在经过空载时间后才开始反映。该结果，测量值X在不同阶段变化很大。在此之后，开始新的数据存储阶段。并且，本申请人还提出了另外的校正装置。校正值确定部依次存储来自测量仪的测量值。并根据存储的多个测量值依次确定应加工工件加工条件的校正值。把从各个校正值的确定时期开始到按照用测量仪测量最初加工先头校正的工件时期为止的期间，存储用测量仪测量的多个测量值，用相应的校正值来偏移，于是，此第2校正装置为了不必等待先头校正的工件被测量仪测量，就可以确定新的校正值，最好假定校正值原封不动地在测量值中反映出来，在从各个校正值的确定时期开始到有赖于校正值的先头校正工件用测量仪测定时期为止的期间中，为了存储用测量仪测量的多个工件(以下称“前次校正工件组”)的多个测量值以及校正和等量移位，属于前次校正工件组的各个工件根据大多受此校正值的影响的加工条件来加工，并且，在假定直接用测量仪测量的场合预测取得的有效测量值，基于该预测后的测量值确定新的校正值。在图17中图解地示出了做为第2校正装置中的校正值和测量值的关系的例子。如图17，该图与图16的图是同样的图，在空载时间的工序中也进行数据存储，在此数据存储阶段，测量值X不是原封不动地存储，在图中用虚线示出了偏置后存储。还有，此第2校正装置有可能在确定某校正值后，不等待该校正值反映在测量值，就确定其它校正值。因此，存在在某校正值确定时间和校正值反映在测量值期间确定其他校正值的场合。在此场合中，反映测量值的校正值不是最新校正值，它还是没反映测量值的校正值，称为最早没反映的校正值。上面，本申请人分别说明了优选的第1校正装置和第2校正装置的构成。这类校正装置的校正精度好，为了能够迅速确定，有必要正确地把握用测量仪测量先期校正工件的时间。在经常对要保证待机工件数即空载时间一定的场合，每隔上述空载时间长事先求出实际值，在校正装置完全可以按实际空载时间来设定与内部参数有关的空载时间(以下称设定空载时间)。但是，在这样设定空载时间为固定值的场合，在实际空载时间变化的场合就有问题。首先对第1校正装置具体说明此问题的发生原因。尤其，在实际空载时间在比设定空载时间更长的场合中特别严重。例如，如图26中的图所示，在这种场合中，不经过实际空载时间，在测量值X中不反映校正值U时，新的存储阶段开始。在此数据存储阶段存储有未反映校正值的测量值X。这个问题在把设定空载时间设定为比实际空载时间最大值更长时可以得到解决。但是，因为在这种场合，即使实际空载时间过后，设定空载时间还没到，不能开始新的数据存储阶段，产生像不能一旦确定新的校正值时就迅速确定校正值之类的其它问题。如图27所示为例，存在一个测量仪经由多个个别加工线联合成为复合加工线的场合。在此场合中，实际空载时间的最大值因为受到某个加工线及其它个别加工线上存在的待机工件数的影响，变得相当大。为此，特别是在这种场合，因为从确定某校正值到确定新的校正值占用相当长的时间，所以不能对工件加工尺寸的实际变化迅速反应。其次，对在第2校正装置中设定空载时间为固定值场合问题产生的原因进行具体说明。例如，在设定空载时间比实际空载时间长的场合，实际空载时间过后也对测量值进行预测，这个结果如在图28的图中所示，对在从这个实际空载时间过后开始到设定空载时间结束期间，对于已经反映了校正值U的测量值X，也进行了多余的移位，对同一个测量值，校正影响和预测影响会重合，因此，存储了不正确的测量值，校正值的确定精度降低。并且，反过来说，在设定空载时间比实际空载时间短的场合，在实际空载时间结束之前，即测量值反映了校正值之前，结束了对测量值的预测，在从实际空载时间结束开始到设定空载时间结束之前的时间中，本来应该进行预测，但实际上没有进行预测。在这种场合下，存储了不正确的测量值，校正值的确定精度降低。上面分别具体地说明了在第1校正装置和第2校正装置中尽管实际空载时间变动而设定空载时间为固定值的场合，通过用实际测量空载时间的装置，如加工机中，通过设置每当工件加工完毕后，测量加工机和测量仪之间存在的工件数即待机工件数的工件数计数器，能够在一定程度上消除这类问题。但是，不能完全消除。因为在实际加工中，结束加工某工件后，在通过工件数计数器测得待机工件数后，操作者有因何种原因拿出工件或因何种原因插入已加工完工件的可能。上面分别具体地说明了在第1校正装置和第2校正装置中的不能正确把握实际空载时间确定校正值而降低校正精度的问题，在第2校正装置中还存在如下的其他问题。如前所述，在这个第2校正装置中，测量值的预测是在假定测量值完全反映校正值的情况下，对各测量值进行了与校正值同量的偏移。但是在实际中，如图29的图所示，存在测量值X不能完全反映校正值U的场合。在这个场合中，如图30的图所示，在空载时间工序中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
反馈式加工条件校正装置， 它备有（ａ）顺序进行多工件加工的加工机和（ｂ）根据由外部所供给的校正值，确定前述加工机加工条件，并按此加工条件控制前述加工机的加工机控制器与（ｃ）顺序测量已由前述加工机加工的多工件尺寸的测量仪，并用于在加工机及测量仪间至少存在一个等待测量仪测量的工件的加工系统中，其特征在于它包括校正值确定部分，它根据前述测量仪测量的此次测量值与上次测量值之差的测量值前后差，来确定应由前述加工机下次加工工件的加工条件校正值，和将其校正值供给前述加工机控制装置的校正值供给部。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：加藤千智，山川芳彦，
申请(专利权)人：丰田自动车株式会社，丰通工程和制造株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]