电压降的确定方法、确定装置和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请提供了一种电压降的确定方法、确定装置和计算机可读存储介质。该确定方法，包括：获取芯片的版图数据；获取芯片的设计参数，设计参数至少包括预定功耗值和工作电压；根据版图数据和设计参数，搭建芯片版图的脚本的运行环境；运行脚本的运行环境，得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。该确定方法，避免了现有技术中，获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多，操作较繁琐的问题，使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单，便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。分析芯片的布局问题。分析芯片的布局问题。

【技术实现步骤摘要】
电压降的确定方法、确定装置和计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及半导体领域，具体而言，涉及一种电压降的确定方法、确定装置、计算机可读存储介质和存储器。

技术介绍

[0002]随着半导体工艺金属互连线宽度越来越窄，导致它的电阻值上升，所以在整个芯片范围内将存在一定的电压降，电压降是出现在集成电路中电源和地网络上电压下降或升高的一种现象，电压降的大小取决于从电源焊盘到所计算的逻辑门单元之间的等效电阻的大小，它会影响芯片时序，降低芯片速度，甚至引起芯片功能故障，随着芯片面积变大，速度要求变快，工作电压降低，连线越来越复杂情况下，电压降分析显得尤为重要。
[0003]目前，大部分电压降工具主要以分析专用集成电路为主，电压降分析流程比较复杂。
[0004]因此，亟需一种方法，来解决现有的得到电压降的流程较复杂的问题。
[0005]在
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部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的
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的理解，因此，
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中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

技术实现思路

[0006]本申请的主要目的在于提供一种电压降的确定方法、确定装置、计算机可读存储介质和存储器，以解决现有技术中得到电压降的流程较复杂的问题。
[0007]根据本申请实施例的一个方面，提供了一种电压降的确定方法，包括：获取芯片的版图数据；获取所述芯片的设计参数，所述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压；根据所述版图数据和所述设计参数，搭建芯片版图的脚本的运行环境，所述芯片版图为所述芯片的版图；运行所述脚本的运行环境，得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。
[0008]可选地，所述版图数据为编译器可识别的数据格式，搭建所述芯片版图的脚本的运行环境，包括：按照所述数据格式搭建所述芯片版图的脚本的运行环境。
[0009]可选地，运行所述脚本的运行环境，得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降，包括：确定参考点的坐标；根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降。
[0010]可选地，根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降，包括：根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到所述分析区域的所述电压降的分布示意图，所述分布示意图中，不同的颜色表征不同的电压降；根据所述分布示意图，确定各所述分析区域的各所述位置点的电压降。
[0011]可选地，在根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降之后，所述方法还包括：根据所述分析区域的各所
述位置点的电压降，确定所述分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标。
[0012]可选地，根据所述分析区域的各所述位置点的电压降，确定所述分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标，包括：根据第一分析区域的各所述位置点的电压降，确定所述第一分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标，其中，所述第一分析区域包括第一参考点，所述第一参考点为所述芯片版图的电源线的中心点；根据第二分析区域的各所述位置点的电压降，确定所述第二分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标，其中，所述第二分析区域包括第二参考点，所述第二参考点为所述芯片版图的地线的中心点。
[0013]可选地，获取芯片版图的数据格式，包括：获取所述芯片版图的GDS格式数据；通过Milky-way工具将所述GDS格式数据转换为编译器可识别的所述数据格式。
[0014]可选地，所述编译器为C编译器和/或C++编译器。
[0015]根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种电压降的确定装置，包括第一获取单元、第二获取单元、搭建单元和运行单元，其中，所述第一获取单元用于获取芯片的版图数据；所述第二获取单元用于获取所述芯片的设计参数，所述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压；所述搭建单元用于根据所述版图数据和所述设计参数，搭建芯片版图的脚本的运行环境，所述芯片版图为所述芯片的版图；所述运行单元用于运行所述脚本的运行环境，得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。
[0016]根据本申请实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的方法。
[0017]根据本申请实施例的又一方面，还提供了一种存储器，所述存储器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的方法。
[0018]本申请提供了一种电压降的确定方法，所述的电压降的确定方法，首先获取芯片版图的数据格式，所述数据格式为编译器可识别的数据格式，然后确定所述芯片版图的预定功耗值和工作电压等设计参数；再根据所述设计参数，按照所述数据格式搭建所述芯片版图的脚本的运行环境；最后运行所述脚本的运行环境，得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降，使用该方法，避免了现有技术中，获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多，操作较繁琐的问题，使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单，便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。
附图说明
[0019]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0020]图1示出了根据本申请的实施例的电压降的确定方法生成的流程示意图；
[0021]图2示出了根据本申请的实施例的电压降的确定装置的示意图；
[0022]图3示出了根据本申请的实施例的得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程示意图。
具体实施方式
[0023]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相
互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0024]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
[0025]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0026]应该理解的是，当元件(诸如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电压降的确定方法，其特征在于，包括：获取芯片的版图数据；获取所述芯片的设计参数，所述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压；根据所述版图数据和所述设计参数，搭建芯片版图的脚本的运行环境，所述芯片版图为所述芯片的版图；运行所述脚本的运行环境，得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述版图数据为编译器可识别的数据格式，搭建所述芯片版图的脚本的运行环境，包括：按照所述数据格式搭建所述芯片版图的脚本的运行环境。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，运行所述脚本的运行环境，得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降，包括：确定参考点的坐标；根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降，包括：根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到所述分析区域的所述电压降的分布示意图，所述分布示意图中，不同的颜色表征不同的电压降；根据所述分布示意图，确定各所述分析区域的各所述位置点的电压降。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在根据所述参考点的坐标，运行所述脚本的运行环境，得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降之后，所述方法还包括：根据所述分析区域的各所述位置点的电压降，确定所述分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述分析区域的各...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯助荣，姜鹏，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：