通过激光对准的磁编码器测试平台制造技术

本实用新型专利技术提供了通过激光对准的磁编码器测试平台，其包括用于安装角度电机的测试底座、用于安装磁编码器芯片的磁编码器搭载台和用于安装激光器的激光台，角度电机的电机轴上设置有径向充磁磁铁，磁编码器搭载台通过磁编码器方位调节机构安装在测试底座上，且磁编码器搭载台与磁编码器方位调节机构为转动连接，激光台通过激光台方位调节机构安装在测试底座上，且激光台与激光台方位调节机构转动连接，磁编码器搭载台上设置有用于调节磁编码器芯片温度的温度调节器。通过本实用新型专利技术可以获得不同厂家的磁编码器在不同安装偏差以及不同温度下的详细数据。同温度下的详细数据。同温度下的详细数据。

【技术实现步骤摘要】
通过激光对准的磁编码器测试平台


[0001]本技术涉及测试
，特别是涉及通过激光对准的磁编码器测试平台。

技术介绍

[0002]磁编码器通过巨磁效应或者霍尔效应感应径向充磁的圆柱磁铁磁场的旋转来读取磁铁旋转的角度，将磁铁安装于电机轴上，可以读出电机旋转的角度。由于磁铁与磁编码器在机械安装过程中不可避免的会出现偏差，对于不同品牌型号的磁编码器的偏差会不一样，因此，使用过程中需要了解磁编码器的安装偏差对于磁编码器的读数影响，有些厂家提供了较为详细的参数，但是有些厂家并未提供，或者不详细。除此之外，温度变化对磁编码器的性能有着重要影响，对于温度参数，有的厂家没有提供。因此现有技术中缺乏一种能够测量不同磁编码器在不同安装偏差以及不同温度下的性能测试装置。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中的上述问题，本技术提供了通过激光对准的磁编码器测试平台，解决了现有技术中没有能够检测安装偏差和温度偏差的磁编码器测试装置的问题。
[0004]为了达到上述专利技术目的，本技术采用的技术方案如下：
[0005]提供通过激光对准的磁编码器测试平台，其包括用于安装角度电机的测试底座、用于安装磁编码器芯片的磁编码器搭载台和用于安装激光器的激光台，角度电机的电机轴上设置有径向充磁磁铁；
[0006]磁编码器搭载台通过带着其在沿着X、Y和Z方向移动的磁编码器方位调节机构安装在测试底座上，且磁编码器搭载台与磁编码器方位调节机构为转动连接；
[0007]激光台通过带着其在沿着Y和Z方向移动的激光台方位调节机构安装在测试底座上，且激光台与激光台方位调节机构转动连接，磁编码器搭载台位于激光台径向充磁磁铁之间；
[0008]磁编码器搭载台上设置有用于调节磁编码器芯片温度的温度调节器。
[0009]进一步地，温度调节器通过温度调节底座固定安装在磁编码器搭载台上，温度调节器和磁编码器芯片分别位于温度调节底座的两侧，且温度调节器与磁编码器芯片的背面贴合。
[0010]进一步地，温度调节器包括内部设置有冷循环管道和热循环管道的温度基座，且冷循环管道和热循环管道均设置有进口和出口，温度调节底座为平板结构。
[0011]进一步地，磁编码器方位调节机构包括与磁编码器搭载台转动连接的编码器Z向底座、与编码器Z向底座滑动连接的编码器Y向底座和与编码器Y向底座滑动连接的编码器X向底座，且编码器X向底座与测试底座滑动连接。
[0012]进一步地，滑动连接均采用滑轨机构，滑轨机构的滑轨上均设置有磁编码器标尺，且编码器Z向底座、编码器Y向底座和编码器X向底座均设置有与磁编码器标尺配合的磁编码器刻线，编码器Z向底座设置有磁编码器角度标尺，且磁编码器搭载台设置有与磁编码器
角度标尺配合的编码器角度刻线。
[0013]进一步地，磁编码器搭载台包括与编码器Z向底座转动连接的编码器连接端和用于放置编码器器芯片的编码器放置端，且编码器连接端和为圆柱端，编码器X向底座、编码器Y向底座和编码器Z向底座均为平板结构，且外形均呈 L型。
[0014]进一步地，激光台方位调节机构包括与激光台转动连接的激光器Z向底座和与激光器Z向底座滑动连接的激光器Y向底座，激光器Y向底座与测试底座滑动连接。
[0015]进一步地，滑动连接采用滑轨机构，滑轨机构的滑轨上设置有激光器标尺，且激光器Y向底座和激光器Z向底座均设置有与激光器标尺配合的激光器刻线，激光器Z向底座和激光台分别设置有相互配合的激光器角度标尺和角度刻线。
[0016]进一步地，激光台包括与激光器Z向底座转动连接的激光转动端和用于放置激光器的激光放置端，且激光转动端为圆柱状，激光器Z向底座和激光器Y 向底座均为平板结构，且外形均呈L型。
[0017]进一步地，测试底座的底面设置有高度调节脚，角度电机通过电机支架安装在测试底座的顶面上，测试底座为平板结构。
[0018]本技术的有益效果为：本方案通过设置在激光台上的激光器发射出的激光精确对准径向充磁磁铁的中心，然后磁编码器芯片中心根据激光对准径向充磁磁铁，磁编码器芯片与径向充磁磁铁之间的对准误差小。通过磁编码器方位调节机构和激光台方位调节机构可以对激光台和磁编码器进行微调，以保证激光器发射出的射线同时穿过编码器芯片和径向充磁磁铁的中心，极大的保证了测试精度。通过温度调节器，可以调节磁编码器的温度，进而测量不同温度下磁编码器的读数误差。
附图说明
[0019]图1为通过激光对准的磁编码器测试平台的示意图。
[0020]图2为通过激光对准的磁编码器测试平台的正视图。
[0021]图3为通过激光对准的磁编码器测试平台的左视图。
[0022]图4为通过激光对准的磁编码器测试平台的俯视图。
[0023]图5为通过激光对准的磁编码器测试平台的激光器方位调节机构示意图。
[0024]图6为通过激光对准的磁编码器测试平台的磁编码器方位调节机构示意图。
[0025]图7为通过激光对准的磁编码器测试平台的温度调节器内部结构示意图。
[0026]图8为通过激光对准的磁编码器测试平台的磁编码器角度标尺示意图。
[0027]图9为通过激光对准的磁编码器测试平台的激光器角度标尺示意图。
[0028]其中，1、测试底座；101、高度调节脚；102、水平横向指示；103、水平纵向指示；2、磁编码器搭载台；201、编码器连接端；202、编码器放置端；3、激光台；301、激光转动端；302、激光放置端；4、径向充磁磁铁；5、温度调节器；501、温度基座；502、冷循环管道；503、热循环管道；6、温度调节底座；7、编码器Z向底座；8、编码器X向底座；9、编码器Y向底座；10、磁编码器标尺；11、磁编码器刻线；12、磁编码器角度标尺；13、编码器角度刻线；14、激光器Z向底座；15、激光器Y向底座；16、激光器标尺；17、激光器刻线；18、激光器角度标尺；19、角度刻线；20、角度电机；21、电机支架； 22、磁编码器芯片。
具体实施方式
[0029]下面对本技术的具体实施方式进行描述，以便于本
的技术人员理解本技术，但应该清楚，本技术不限于具体实施方式的范围，对本
的普通技术人员来讲，只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本技术的精神和范围内，这些变化是显而易见的，一切利用本技术构思的专利技术创造均在保护之列。
[0030]如图1～图9所示，该通过激光对准的磁编码器测试平台包括用于安装角度电机20的测试底座1、用于安装磁编码器芯片22的磁编码器搭载台2和用于安装激光器的激光台3。测试底座1为平板结构，测试底座1的底面设置有四个高度调节脚101，进一步地，测试底座1顶面上设置水平横向指示102和水平纵向指示103，通过水平横向指示102和水平纵向指示103判断测试底座1是否水平。角度电机20通过电机支架21安装在测试底座1的顶面上，角度电机20的电机轴上设置有径向充磁磁铁4本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.通过激光对准的磁编码器测试平台，其特征在于，包括用于安装角度电机(20)的测试底座(1)、用于安装磁编码器芯片的磁编码器搭载台(2)和用于安装激光器的激光台(3)，所述角度电机(20)的电机轴上设置有径向充磁磁铁(4)；所述磁编码器搭载台(2)通过带着其在X、Y和Z方向移动的磁编码器方位调节机构安装在测试底座(1)上，且磁编码器搭载台(2)与磁编码器方位调节机构为转动连接；所述激光台(3)通过带着其在Y和Z方向移动的激光台方位调节机构安装在测试底座(1)上，且激光台(3)与激光台方位调节机构转动连接，所述磁编码器搭载台(2)位于激光台(3)径向充磁磁铁(4)之间；所述磁编码器搭载台(2)上设置有用于调节磁编码器芯片温度的温度调节器(5)。2.根据权利要求1所述的通过激光对准的磁编码器测试平台，其特征在于，所述温度调节器(5)通过温度调节底座(6)固定安装在磁编码器搭载台(2)上，温度调节器(5)和磁编码器芯片分别位于温度调节底座(6)的两侧，且温度调节器(5)与磁编码器芯片的背面贴合。3.根据权利要求2所述的通过激光对准的磁编码器测试平台，其特征在于，所述温度调节器(5)包括内部设置有冷循环管道(502)和热循环管道(503)的温度基座(501)，且冷循环管道(502)和热循环管道(503)均设置有进口和出口，所述温度调节底座(6)为平板结构。4.根据权利要求1所述的通过激光对准的磁编码器测试平台，其特征在于，所述磁编码器方位调节机构包括与磁编码器搭载台(2)转动连接的编码器Z向底座(7)、与编码器Z向底座(7)滑动连接的编码器Y向底座(9)和与编码器Y向底座(9)滑动连接的编码器X向底座(8)，且编码器X向底座(8)与测试底座(1)滑动连接。5.根据权利要求4所述的通过激光对准的磁编码器测试平台，其特征在于，滑动连接均采用滑轨机构，所述滑轨机构的滑轨上均设置有磁编码器标尺(10)，且编码器Z向底座(7)、编码器Y向底座(9)和编码器X向底座(8...

【专利技术属性】
技术研发人员：李亮亮，潘波，辜睿智，
申请(专利权)人：成都赛力康电气有限公司，
类型：新型
国别省市：