多晶结构X射线激发的闪烁体及其制备方法技术

技术编号:2657932 阅读:184 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
公开了一种用于X射线照相的多晶陶瓷闪烁体,为减少上述闪烁体受X辐射时的辐射损伤,对其进行受控氧化退火处理,经如此处理的特殊陶瓷材料由具有立方晶系结构的含紧密烧结稀土掺杂氧化钆的金属氧化物组成,所述陶瓷成分包括:约5~50克分子百分比的Gd-[2]O-[3],约0.5~12克分子百分比选自EU-[2]O-[3]和Nd-[2]O-[3]的稀土活性氧化物和约0.0001~0.5克分子百分比至少一种选自Pr-[2]O-[3]和Tb-[2]O-[3]的余辉衰减剂,其余成份为Y-[2]O-[3]。(*该技术在2008年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种多晶结构的、可由X射线激发的闪烁体,包括具有立方晶系结构的、烧结的稀土掺杂氧化钆-氧化钇陶瓷,该闪烁体经过了受控含氧环境下的退火处理,以减少在把上述X射线转换成显示图象的过程中,受X辐射而产生的辐射损伤,所述陶瓷包括:大约5~50个 克分子百分比的Gd↓〔2〕O↓〔2〕、大约0.05~12个克分子百分比的选自Eu↓〔2〕O↓〔3〕和Nd↓〔2〕O↓〔3〕的稀土活性氧化物和0.0001~0.5个克分子百分比的至少一种选自Pr↓〔2〕O↓〔3〕和Tb↓〔2〕O↓〔3〕的余辉衰减剂,上述成份的其余部分为y↓〔2〕O↓〔3〕。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗伯特约瑟夫里德纳埃多根奥默尔吉尔门查理斯戴维德格里斯科维奇多米尼克安索尼库萨诺
申请(专利权)人:通用电气公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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