【技术实现步骤摘要】
本专利技术一般而言涉及非晶硅X射线探测器。特别地,本专利技术涉及通过用于x射线成像中金属探测的非晶硅x射线探测器进行电M射探测。
技术介绍
相关申请 職助的研究或研发 敏搬片/版权参考 糊體数字成像系统可用于捕获图像以帮助医生作出准确的诊断。数字射线照相成像系统典型地包括源和探测器。由源产生的肖遣例如X射线穿过将被成像的物体,并且由探测器所探测到。相关的图像处理系统从探测器得到图像数据, 并且在显示器上准备对应的诊断图像。探测器例如可以是非晶硅平板探测器。非晶硅是一种在结构上不是结晶体 的硅。从连接到平紅的开关的非晶硅光电二极管来形成图像像素。闪烁器被腿在平板探测器前面。例如,闪烁織顿自x射线源的x射线,并发射与 所吸收的x射线量相关的 破的光。所述光M)非晶硅平板探测器中的光电二 极管。读出电子设备通过数据线(列)和扫描线(行)从光电二极管得到像素 数据。可以从该像素数据形成图像。图像可被实时显示。平板探测器可以提供 比图像增强器和照相机组合更详细的图像。平板探测器可允许比图像增强器和 照相机组合更快的图像采集,这取决于图像分辨率。执业医生,例如医生、夕卜科 ...
【技术保护点】
一种用于探测成像系统(100)中的电磁场的方法,所述方法包括: 利用电磁发射器(150)来发射电磁场(160); 利用成像系统探测器(120,200)来检测电磁场(160),该成像系统探测器(120,200)能够读取物体图像,该成像系统探测器(120,200)能够读取场图像;以及 至少部分地基于电磁场(160)来从探测器(120,200)读取场图像。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:PK库恩,PT安德森,JR兰伯蒂,
申请(专利权)人:通用电气公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。