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本发明的特定实施例提供一种探测成像系统（１００）中的电磁场（１６０）的方法，所述方法包括：利用电磁发射器（１５０）发射电磁场（１６０），利用成像系统探测器（１２０，２００）探测电磁场（１６０），以及至少部分地基于电磁场（１６０）从探测器（１...
该专利属于通用电气公司所有，仅供学习研究参考，未经过通用电气公司授权不得商用。

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