石英晶片频率自动选分装置制造方法及图纸

一种石英晶片自动测频分选装置，包括上料装置、测量装置、分料装置，测量装置包括测量头和光纤传感器，其特征在于：光纤传感器（１４）设置于测量头内部。（*该技术在2011年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种晶体测频装置，特别是一种石英晶片频率自动选分装置。
技术介绍
石英晶体是目前世界上用量最大的晶体材料，利用石英晶体本身具有的物理特性制造的电子元件，如石英晶体谐振器、晶体滤波器、晶体振荡器等，具有很高的频率稳定性，作为频率基准或频率源，在数字电路、计算机、通讯等领域得到了广泛应用。石英晶体是制作石英晶体元件的基体，在生产加工过程中需要对晶片的参数，特别是谐振频率，做多次检测和分类，因此，石英晶片频率参数的自动选分系统成为生产石英晶体产品必不可少的设备。现有的石英晶片自动选分装置以南京熊猫电子股份有限公司的产品“石英晶片动态测频分选装置”(ZL 97235567)为代表，它主要由控制器和测频分选装置构成，测频分选装置的震荡槽位于定向送料器的出料端，用间隙微调支架实现上下电极的间隙调整。采用计算机连续密集采样和极值判断的方式测频，定向送料器的出料端下方连接有能分离正品、废品的出料分选装置。上述设备使石英晶片频率的检测和选分实现了自动化，并且和日本SANSEL DENSHI公司生产的AT QUART BLANK SORTING SYSTEM MODELAT-24AS-F型转移式静态环境测频自动分选系统装置相比，有了较大改进，具有机械结构简单，晶片破损率降低，分选速度快等优点，但存在以下缺陷1.测频范围窄，对于高基频晶片频率测量不准。2.晶片分档间隔固定，无法对每盒选分频率范围进行独立设定。3.只检测晶片主振频率，无法检测晶片其他参数，如寄生情况，活力情况等，而这些参数直接影响晶片质量。4.晶片定位是靠测量回路的反馈信号实现，定位不准确，容易出现过双片现象。5.操作人员通过间隙微调支架调整上下电极的间隙，调整受人为因素影响较大。对于同一规格的晶片，由于每次调整的间隙不同，容易造成测量误差。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测频范围宽，测量准确，定位精确，测量间隙调整准确方便、并可以可检测晶片的相对活力和寄生情况的石英晶片频率自动选分装置。本技术的技术方案如下一种石英晶片频率自动选分装置，包括上料装置、测量装置和分料装置，测量装置包括测量头和光纤传感器，其特征在于上料装置由圆振(11)和直线料道(12)组成，直线料道(12)位于圆振(11)的出口端，其方向是沿圆振(11)的切线方向；测量装置包括测量头和光纤传感器，光纤传感器(14)设置于测量头内部的中心位置，测量头由上下平行的测量板(13)、(15)和间隙调整垫块(16)构成，上测量板(13)与调整垫块(16)通过螺钉连接为一体，固定在直线料道(12)出口端的螺丝口上；分料装置由出料口(17)、接料盘(18)、分料器(19)、料盒(20)组成，出料口(17)的一端位于直线料道(12)的出料端下方，出料口(17)的另一端对准接料盘孔。测量装置采用数字直接频率合成的扫频测量方式检测晶片频率，计算机实时采集测量数据并判断晶片特征频率，同时可检测晶片的寄生频率以及活力情况。本技术与现有实技术相比，显著优点是1.测量频率范围宽，对高基频晶片的测量尤其具有优势。2.可检测晶片的相对活力和寄生情况，把电阻大和寄生严重的产品直接剔除。3.可在屏幕时实显示晶片谐振波形，包括主振、寄生、频率、活力情况。4.该系统下料采用中继料盒形式，中继料盘匀速转动、晶片平稳滑落，保证晶片无破损。5.采用光纤传感器定位，保证晶片中心自动定位在测量头中心，避免了因位置偏差引起的测量误差。6.测量间隙调整准确方便，具有一致性，避免了人为调整误差，并能很好保持上下测量板之间的平行度。7.分档方法灵活，其特点在于每挡参数可独立设置，适用于与生产工艺相结合。8.料斗振动的频率和幅度采用数字调节方式，性能稳定，不受环境温度影响。上料装置由于振动使晶片产生行进式移动，保证晶片单片行进到测量头下面。测量头由上测量板、下测量板和光纤传感器共同组成，上下测量板之间有一定间隙，允许晶片单片通过。当光纤传感器探测到一片晶片时，此时晶片正好位于上下测量板中心，上料装置停止振动，测量装置在上下测量板之间产生振荡信号，使晶片起振，计算机采集测量数据并判断晶片特征频率。测量完毕后直线料道恢复振动，晶片落入分料装置中；电机带动接料盘与分料器继续顺时针转动，当装有A档晶片的分料器转动至A料盒上方时，此电磁铁与分料器挡片吸合，晶片即滑落到此料盒中。附图说明图1是本技术的总体结构示意图；图2是本技术的上料装置示意图；图3是本技术的测量及测量头间隙调整装置示意图；图4是本技术的分料装置示意图。具体实施方式如图1所示石英晶片频率自动选分装置的整体结构，包括显示器1，打印机2，上料装置3，测量盒4，分料装置5，控制盒6，机身7，工作台面8，地脚9，报警灯10，其中，工作台面8具体分为上台面8A、中台面8B、下台面8C三个台面，显示器1位于上台面8A上，打印机2放置于中台面8B上，测量盒4和控制盒6固定面，即主工作台面上，分料装置5与机身7内部的电机连为一体，上料装置3直接放置在主工作台面上。可以看到，石英晶片频率自动选分装置，主要由上料装置、测量装置、分料装置三大部分构成。图2为上料装置3的结构图；如图2所示，上料装置由圆振11和直线料道12组成，其功能是使晶片产生行进式移动，保证晶片自动行进到测量头下面。如图3所示，测量及测量头间隙调整装置，由上下平行的测量板13、15和光纤传感器14组成。光纤传感器14设置于下测量板15内部中心位置，上下测量板之间设有间隙调整垫块16。光纤传感器14的作用是使晶片准确定位在上下测量板的中心位置，间隙调整垫块16的作用是使上下测量板之间保持一定间隙。由于被测晶片的规格不同，需要的测量间隙不同，通过更换间隙调整垫块，得到所需的测量间隙。如图4所示，分料装置由出料口17、接料盘18、分料器19、料盒20组成，测量完毕时，晶片从出料口17经接料盘18落入分料器19中；电机带动接料盘18与分料器19继续顺时针转动，当装有A档晶片的分料器转动至A料盒上方时，此电磁铁与分料器挡片吸合，晶片即滑落。权利要求1.一种石英晶片自动测频分选装置，包括上料装置、测量装置、分料装置，测量装置包括测量头和光纤传感器，其特征在于光纤传感器(14)设置于测量头内部。2.根据权利要求1所述的石英晶片自动测频分选装置，其特征在于测量头由上下平行的测量板(13)、(15)和间隙调整块(16)构成，通过更换间隙调整块(16)来调整测量间隙。专利摘要本技术公开了一种石英晶片频率自动选分装置。它由上料装置、测量装置、分料装置构成,其特征是测量装置由上下平行的测量板和间隙调整垫块构成,光纤传感器设置于测量头内部。本技术实现了对晶片采用扫频测量,可同时检测晶片的频率,寄生频率以及活力情况。可在屏幕时实显示晶片谐振波形,包括主振、寄生、频率、活力情况。且分档方法灵活,可以按照晶片的频率、活力、寄生情况直接分档,每挡参数可独立设置,适用于与生产工艺相结合。文档编号G01R31/01GK2505846SQ01271098公开日2002年8月14日 申请日期2001年11月22日 优先权日2001年11月22日专利技术者殷雪梅 申请人:殷雪梅本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：殷雪梅，
申请(专利权)人：殷雪梅，
类型：实用新型
国别省市：