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单片机数字集成电路测试仪制造技术

技术编号:2640021 阅读:179 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开一种属于电子测量设备领域的单片机数字集成电路测试仪,它由单片机,程序存储器,测试插座,接口电路及键盘与显示电路组成。本实用新型专利技术小巧轻便,易于携带,操作方便,其体积与价格均与一台普通数字万用表相当,可以象万用表一样普及。(*该技术在2003年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种单片机数字集成电路测试仪,包括单片机,程序存储器,测试插座,I/O接口电路,译码接口电路,供电电路,键盘与显示电路,其特征在于:单片机8031是主计算机,控制整个仪器的工作,程序存储器EPROM27256用于存储工作程序及测试集,测试插座用于插放被测芯片,I/O接口电路Z80-PIO用于测试接口及键盘与显示接口,译码接口电路GAL16V8用于产生地址译码,供电电路两个三极管用于为16脚及14脚被测芯片提供电源,键盘与显示电路用于输入测试命令及显示测试命令与测试结果,单片机通过四个并行口及控制线将各部分连接起来。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱梅黄宇星
申请(专利权)人:朱梅黄宇星
类型:实用新型
国别省市:87[中国|西安]

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