数字集成电路测试仪器及测试探头制造技术

一种利用数字集成电路的逻辑状态图和真值表来观察判断其功能的在线、离线测试仪器，逻辑状态图是三态实时显示的，可测ＴＴＬ和各种电源电压的ＣＭＯＳ电路，可以对动态运行的电路实行瞬态锁定，还能对被测ＩＣ进行多点同时双向多重强迫驱动，有八种触发驱动信号，可实现多种组合，使被测ＩＣ进入任意工作状态。又能用同型号的ＩＣ进行逻辑比较，同时进行逻辑状态的观察和驱动，还能进行三态离线测试。附有能观察瞬变现象声光显示的逻辑探头。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种数字集成电路测试仪，包括被测ＩＣ夹（６），其特征在于还包括强迫驱动电路（１），逻辑状态判别及选通电路（２）和三态显示及瞬态锁定电路（３），强迫驱动电路（１）的输出信号可加到被测ＩＣ的输入端，被测ＩＣ的各路信号进入逻辑状态判别及选通电路（２），（２）的输出信号则进入三态显示及瞬态锁定电路（３）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈孝一，余元忠，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：51[中国|四川]