【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，前述测试探针装置 的探针部位可以接触被测物的接触端子，前述探针部位的下端延伸有 可提供弹性力的弹簧部位并成为 一体。
技术介绍
在繁杂多样的电子产品内部通常都会安装多个芯片，前述芯片是 决定电子产品性能的重要因素。芯片是一种凭借薄形小雕刻板表面上的逻辑元件而实现各种功能 的集成电路，来自印刷电路板的电气信号之类的外部信号通过总线等 元件进入后就能实现前述功能。印刷电路板(PCB: printed circuit board)是在环氧树脂或胶木树脂等 绝缘体所制成的薄基板上由导电体铜涂覆电路线而制成，集成电路、 电阻或开关等电气元件被焊接到电路线上并安装到电路板上。微芯片(Micro-chip)是前述电路板的电子回路以高密度方式集成后 制成的芯片，把芯片安装到电子产品上并完成组装之前，为了确认前 迷芯片是否正常而必须使用检查装置进行测试。其中 一个检查方法为把芯片置于测试插座装置上进行测试，为了 在前述插座装置里测试芯片时避免破坏芯片，需要安装测试探针装置 后使用。附图说明图1是通过现有测试探针装置对被测物进行检查的状态图。如图所示，检查用电路...
【技术保护点】
一种测试探针装置，其特征为：在前述探针装置的上侧安装了具有可以接触被测物的接触端子的探针部位，前述探针部位下端延伸出可以提供弹性力的弹簧部位并与其成为一体，使电流从被测物通到前述弹簧部位的下侧。
【技术特征摘要】
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