一种扫描链故障诊断方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种扫描链故障诊断方法及系统。该方法包括：将待测芯片的扫描链中的扫描单元组成候选扫描单元集合，并在集合中选定待测候选对；根据故障类型，为所述待测候选对建立相应的固定型故障诊断装置；利用该装置为所述待测候选对生成诊断向量，并存储于诊断向量集合，用于对待测芯片进行扫描链故障诊断；还包括步骤：将诊断向量集合中所有的诊断向量逐一加载至待测芯片得到故障响应，并依据故障响应，对待测芯片进行扫描链故障诊断。该方法能够在没有任何面积和布线开销的情况下对故障扫描链进行诊断，且不改变传统的扫描链诊断流程，从而降低逻辑诊断成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路可诊断性设计领域，属于一种逻辑集成电路的固定型 故障定位方法，特别是涉及一种扫描链故障诊断方法及系统。
技术介绍
近年来集成电路的设计广泛采用深亚微米和超深亚微米工艺以提升性能。 同时，随着工艺尺度的縮小，芯片的缺陷密度逐渐增加，每代工艺中的量产学 习过程也变得更加复杂。因此，在电路设计过程中广泛采用扫描设计技术以提升电路的可测性(Design-For-Testability， DFT)和可诊断性，从而提升芯片质量 以及芯片生产的优良率。扫描设计技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计(DFT)技术。该技 术中基于扫描的逻辑诊断己经成为量产加速阶段(yieldramp-up)不可缺少的 手段，通过逻辑诊断可以帮助失效分析设备快速寻找到引起失效的缺陷位置， 从而加速失效分析过程。通过扫描设计技术，在电路中插入一种称为扫描链的移位寄存器结构，通 过扫描链可以非常方便地实现测试数据的有效传递以及内部状态的有效导出。在电路中实现的扫描又分为"全扫描"和"部分扫描"两种。全扫描是将电路 中所有的时序单元都置换为扫描单元，并且接入一个或者多个扫描链中，这样 可以非常容易地实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种扫描链故障诊断方法，其特征在于，包括步骤：步骤Ａ．将待测芯片的扫描链中的扫描单元组成候选扫描单元集合，并在候选扫描单元集合中选定待测候选对；步骤Ｂ．根据扫描链的固定型故障类型，为所述待测候选对建立相应的固定型故障诊断装置；步骤Ｃ．利用所述固定型故障诊断装置为所述待测候选对生成诊断向量，并存储于诊断向量集合，用于对待测芯片进行扫描链故障诊断。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王飞，胡瑜，李晓维，
申请(专利权)人：中国科学院计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]