自动光学检查装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种对检查对象物的外观进行检查的印刷电路基板的自动光学检查装置。本发明专利技术的印刷电路基板的自动光学检查装置包括：对印刷电路基板的一面照射光线的照明器、利用由印刷电路基板的一面反射的反射光拍摄反射图像的第１摄像部件、利用由印刷电路基板的该面透射向另一面的透射光拍摄透射图像的第２摄像部件、分别从上述第１、２摄像部件接收反射图像和透射图像以判断异物是否存在的控制部。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动光学检查方法，更具体地，涉及用于对检查对象物的外观进行 检査的印刷电路基板的自动光学检查装置方法。
技术介绍
目前，在IC封装用电路基板(PCB)中，板面芯片(Board On Chip:BOC)这 样的产品通常被用作为存储器。作为该基板的特征，通常在安装半导体芯片的部分穿 有孔，但是，在最近的穿孔工艺中，在基板的边缘截面部分往往会存在切去的部分， 或者在边缘会残留辩隹性异物等。这种，将诱发致命的弱点，即在后安装半导体芯 片时使安装性斷氐，在半导体芯片面和基板图形面安装之后使固有功能(导通性)降 低。面对这样的现状，在光学检査业界翻如下方式对其进行检查，即在艘进行 检查的基板面和图像传感器(相机)之间平行定位照明器，对基板面照射光线。可是， 对于该照明，置(反射照明器)，即使在穿孔的边界部存在异物，也因穿孔部位暗 淡而不可能将异物测出。为了检测形形成这种孔的边界部产生的不合格，利用照射透 射光而得至啲图像，来识别形成孔部分的边界部的不合格。为了这样对一个面进行检査，如果采用上部照明器和下部照明器分别获取图像进行检査，则检查速度变慢，由于生产效率降低及数据处理速度导致出现各种问题。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种能够迅速进行检査的印刷电路基板的自动光学检查装本专利技术的目的在于提供一种能够同时实施穿孔部异物检查査和图形外观检査的印刷电路基板的。本专利技术的目的在于提供一种能够容易检查焊MC蚀剂(SR)内异物的印刷电路基板的自动光检查装置及方法。为实现上述目的，根据本专利技术的印刷电路基板的自动光学检装置包括对印 刷电路基板的一面照射光线的照明器、利用由印刷电路基板的一面反射反射光拍摄反射图像的第1摄像部件、利用由印刷电1 ^的该面透射向另一面的,光拍 射图像的第2摄像部件、从Mil^第l、 2摄像部j權收反射图像和透射图像以判 断异物是否雜的控制部。在本实施形态中，i^印刷电^fe为具有形成孔的穿 L部的不,性基阪、 或者在3iMWi:形^^"性图形的柔性,。为实5肚述目的，根据本专利技术印刷秒 ^的自动光学检査方法中，MW印 刷电i^^的一面照射，，利用^: 1"照射有±^光线的印刷顿 ^的一面进 行拍摄，同附,鄉舰照谢有战纖的印刷电^^的另一面进行拍摄，同时 获得蹄光图f斜卩翻光图像，以检查印刷^J^^有无不合格。拨明效果]本专利技术具有M51—次拍摄即可同时获得g图像和透射图像的显著的效果。 本专利技术具有M31—个照明器即可同时获得SM图像和透射图像的显著的效果。本专利技术还具有这样的显著的效果，M;将由一个照明部m寻到的皿图像和透 射图像与已经设定的 的照度*5行比较,會辦同时判断是否在图形上以及图 形之间的空间区:^ 在异物，g肯辦同时判断在图形上是否^E^tl及在穿孔部的 周边是否雜急 附图说明图i为用于说明根据本专利技术实施形态的自动光学检査系统结构的图。图2为示出在一个照明部件具有2个摄像部件的检查部的图。图3A为示出以不itlt性S^作为m获得的g光图像和J^M光图像的^级(照度量)的图表。图3B为示出以不纖性 作为)^^获得的 光图像和翻光图像的離级(照度量)的图表。图4为示出以皿性 作为，获得的目光图像和,光图像的亮度级的图表。 符号说明110装载部120检查部130卸载部140控制部具体实施例方式本专利技术实施形态會^^进行各种各样的变形，本专利技术范围并非解释为P艮于后述的 实施^^之中。本^M皿只是为了會辦更完全》^本领域普 术人员解释专利技术而提供。因此，附图中要素的皿等为更明确的突出说明而进行了夸张。下面将参照附图1到图4对本专利技术实施形态进纟雅细说明。另外，战附图中 具有同一功能的结构要素采用同一附图新己表示。本专利技术的检^S和方法非常适于同啦査不翻性繊的夕卜观(异物、变A、 污染等)以皿成于该mh的穿孔的不合格(burr)。图1为用于说明根据本专利技术 形态的自动光学检查系统的结构的图，图2为 示出在一个照明部件具有2个摄像部件的检査部的图。参照图1和图2，本专利技术自动光学检查系统100为會辦对由印刷电1^ 形成的检查m物利用同一光线同时获得反射光图像和3iM光图像以进行检查的系统。在图1中，示出的实线箭头表示检査X^m物移动路径，虚线箭头表示信号传送。自动光学检査系统100包,载部(loader) 110、检查部120、卸载部(unloader) 130鹏制这些构鹏件的各种动作的控制部140。装载部110将膜或带形态的印刷^ ^以巻轴#滚筒形态1续连接的检查 * #1至检査部120， ^将由单品形态的印刷电{1^形成的检査)^ ^ 至检查部120。卸载部130从检^fP 120回收检査结^后的检査)(it^物。检查部120对由装载部110提供的检査)(^^物10的一面照射光线，同时获得透 射图f斜ng图像，并将其^l给控制部140。检査部120包括)^t查)^^物10的上面(形成图形的面)照射光线的照明部件 124、 )^t査)(jm物10的上面进行拍摄以得到g光图像的第1摄像部件122、皿 检査)^^物的底面进行拍摄以得到 光图像的第2摄像部件126。这样，在本专利技术中，照明部件124对第1摄像部件122翻鄉光，而对第2 摄像部件126 ， 光。即特征在于, 一个照明部件124同时照谢目光和 光， 第1、 2摄像部件122、 126即會辦分别離査)^t^物10的上面和TM进行拍摄，以 这样的方式，战第1、 2摄像部件122、 126配魏舰相对。控制部140可以含T^般的计^mm统(一台微机)之中，随着自动光学检査而进行各种动作的控制及处理。并且，控制部140絲1、 2摄像部件122、 126接收 鄉图f斜卩翻图像，以判断检査)^t^物10的不合格。即，控制部140利用已经输 入的程序，利用(1)基准图像的照度值(^g值)和检査)^tm物的透射图像的照度 值的差，和(2)基准图像的照度值(離值)和检查)^ja物的鄉图像的照度值的 差，来判断是否#^#物。(不iW性印刷^Stt^检査)图3A和图3B示出将具有形成有 L的穿孔部12的不鄉性繊作为检查職 物10a、由础图像和鄉图像得至啲離级(照度)的图表。其中，检查的)^t^物 10a为诸如具有穿孔部12的BOC这样的不 性 。图3A的检査)^]^物10在不娜性鎌11上具有图形13和穿 L部12。参照图 2和图3A，如图表g,在利用第1摄像部件122获得的目光图像的场合，由图 形13得到的^比形成图形的mJt得到的^^，穿孔部12处由于没有反射光 而離最暗。而在利用第2摄像部件126获得的鄉光图像的场合，由穿孔部12得 到的^非常亮，其他部分则由于没有M"照明部件124的光而很暗淡。这样，控制部140利用由第1摄像部件122得至啲鄉光图辦除开穿孔部12 的部^S行表面检查，利用由第2摄像部件126得到的,光图像对除开利用MM光 图#^穿孔部12的不合格进行检査。如图3B所示，在穿孔部12雜异物(条痕)12a时，因为由翻光图像与穿 孔部12相当的部分的敲急剧斷氐，所以，控制部140會辦很容易判断穿孔部12 中是否雜异物。当然，位于图形18上的异鹏鼓mil的外观检查(异物、刮 痕、变色、污染等)，倉辦利用由第1摄像部件122麟的鄉光图像以和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种印刷电路基板的自动光学检查装置，其特征在于，包括：　对印刷电路基板的一面照射光线的照明器、　利用由上述照明器照射的、由印刷电路基板的一面反射的反射光拍摄反射图像的第１摄像部件、　利用由上述照明器照射的、由印刷电路基板的一面透射到另一面的透射光拍摄透射图像的第２摄像部件、　分别从上述第１、２摄像部件接收反射图像和透射图像以判断是否存在异物的控制部。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：崔铉镐，金敏秀，
申请(专利权)人：AJU高技术公司，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]