一种高精度晶振测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种高精度晶振测试电路，包括用于待检测的测试晶振、用于引起振荡信号的场效应晶体管、用于将振荡信号进行放大的第一三极管、用于将振荡电流进行放大的倍压整流电路、用于导通振荡信号的第二三极管、用于检验提示测试晶振正常与否的发光二极管、测试开关及电源，发光二极管的正极依次经过第一电阻、测试开关并与电源连接。本实用新型专利技术将测试晶振的两端接入电路后，电路振荡，振荡信号通过第一三极管的发射极放大后输出，再经过倍压整流电路的电流放大作用，为第二三极管提供偏置电流，第二三极管导通，发光二极管亮起，以提示测试晶振合格；采用第一三极管及倍压整流电路将振荡信号两级放大的方式，可提高晶振测试的精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度晶振测试电路
本技术涉及晶振测试电路领域，尤其涉及的是一种高精度晶振测试电路。
技术介绍
现有技术中，晶振(石英晶体振荡器)是高精度和高稳定度的振荡器，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中，以及通信系统中用于频率发生器、为数据处理设备产生时钟信号和为特定系统提供基准信号。晶振往往与其他电子元件相互配合使用，在生产过程中，厂家会对晶振进行检验测试，以判断晶振的质量优劣。而现有的晶振测试设备，一般采用万用表进行检测，检测人员需要多次测试晶振的引脚电压进行判断，当大量的晶振需要检测时，由于检测人员的操作不规范，导致测试的精度降低，很多合格的晶振也被检测为坏品，影响晶振的生产合格率。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是：提供一种测试准确率、电路结构简单，可有效降低人工误判率的高精度晶振测试电路。本技术的技术方案如下：一种高精度晶振测试电路，包括用于待检测的测试晶振、用于引起振荡信号的场效应晶体管、用于将振荡信号进行放大的第一三极管、用于将振荡电流进行放大的倍压整流电路、用于导通振荡信号的第二三极管、用于检验提示测试晶振正常与否的发光二极管、测试开关及电源，所述场效应晶体管的栅极经过第一电容与测试晶振的第一端连接，所述场效应晶体管的漏极分别与测试晶振的第二端、第一三极管的基极、第一三极管的集电极连接，所述场效应晶体管的源极与倍压整流电路的第一输入端连接，所述第一三极管的发射极与倍压整流电路的第二输入端连接，所述倍压整流电路的第一输出端与第二三极管的基极连接，所述倍压整流电路的第二输出端与第二三极管的发射极连接，所述第二三极管的集电极与发光二极管的负极连接，所述发光二极管的正极依次经过第一电阻、测试开关并与电源连接。采用上述技术方案，所述的高精度晶振测试电路中，所述倍压整流电路包括第一二极管、第二二极管、第二电容、第三电容及第二电阻，所述第一三极管的发射极分别与第二电阻的第一端、第二电容的第一端连接，所述第二电阻的第二端分别与第一二极管的正极、第三电容的第一端、第二三极管的发射极连接，所述第二电容的第二端分别与第一二极管的负极、第二二极管的正极连接，所述第二二极管的负极分别与第三电容的第二端、第二三极管的基极连接。采用上述各个技术方案，所述的高精度晶振测试电路中，所述场效应晶体管的漏极与第一三极管的集电极之间接有第三电阻。采用上述各个技术方案，所述的高精度晶振测试电路中，所述场效应晶体管与第一三极管之间并联有第四电容。采用上述各个技术方案，所述的高精度晶振测试电路中，所述电源为+6V电压。采用上述各个技术方案，本技术通过场效应晶体管与测试晶振组成一个电容式三点振荡器，当测试晶振的两端接入电路后，电路被振荡，振荡信号通过第一三极管的发射极放大后输出，再经过倍压整流电路的电流放大作用，为第二三极管提供偏置电流，第二三极管导通，发光二极管亮起，以提示该测试晶振合格；采用第一三极管及倍压整流电路将振荡信号两级放大的方式，可提高晶振测试的精确度；采用测试电路代替万用表进行检测的方式，还可有效提高晶振的检测效率。附图说明图1为本技术的电路图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例，对本技术进行详细说明。如图1所示，一种高精度晶振测试电路，包括用于待检测的测试晶振Qt、用于引起振荡信号的场效应晶体管Q0、用于将振荡信号进行放大的第一三极管Q1、用于将振荡电流进行放大的倍压整流电路1、用于导通振荡信号的第二三极管Q2、用于检验提示测试晶振正常与否的发光二极管D0、测试开关S及电源P，所述场效应晶体管Q0的栅极经过第一电容C1与测试晶振Qt的第一端连接，所述场效应晶体管Q0的漏极分别与测试晶振Qt的第二端、第一三极管Q1的基极、第一三极管Q1的集电极连接，所述场效应晶体管Q0的源极与倍压整流电路1的第一输入端连接，所述第一三极管Q1的发射极与倍压整流电路1的第二输入端连接，所述倍压整流电路1的第一输出端与第二三极管Q2的基极连接，所述倍压整流电路1的第二输出端与第二三极管Q2的发射极连接，所述第二三极管Q2的集电极与发光二极管D0的负极连接，所述发光二极管D0的正极依次经过第一电阻R1、测试开关S并与电源P连接。本实施例中，测试晶振Qt与第一电容C1及场效应晶体管Q0组成一个电容三点式振荡器，当需要检测的测试晶振Qt接入至电路中后，电容式三点式振荡器可产生振荡信号，振荡信号通过第一三极管Q1发射极的放大作用，再经过倍压整流电路1的电流放大作用，将接入测试晶振Qt的信号电流进行放大，来为第二三极管Q2提供一个偏置电流，并导通第二三极管Q2，此时，发光二极管D0亮起，以提示该测试晶振Qt是合格的产品。反之，当测试晶振Qt内部断路，则电容式三点式振荡器无法起振，发光二极管D0也无法亮起。需要说明的是，测试开关S可对该电路进行切断或导通；本测试电路的晶振测试频率为410KHz～51MHz，测试频率范围广。作为优选的，所述倍压整流电路1包括第一二极管D1、第二二极管D2、第二电容C2、第三电容C3及第二电阻R2，所述第一三极管Q1的发射极分别与第二电阻R2的第一端、第二电容C2的第一端连接，所述第二电阻R2的第二端分别与第一二极管D1的正极、第三电容C3的第一端、第二三极管Q2的发射极连接，所述第二电容C2的第二端分别与第一二极管D1的负极、第二二极管D2的正极连接，所述第二二极管D2的负极分别与第三电容C3的第二端、第二三极管Q2的基极连接。本实施例中，倍压整流电路1可将较低的交流电压，利用二极管及电容的整流作用，得到一个较高的直流电压，为输出端的第二三极管Q2提供一个偏置电流以便导通。作为优选的，所述场效应晶体管Q0的漏极与第一三极管Q1的集电极之间接有第三电阻R3。作为优选的，所述场效应晶体管Q0与第一三极管Q1之间并联有第四电容C4。作为优选的，所述电源P为+6V电压。本实施例中，该测试电路可采用四颗1.5V的常用5号电池作为电源P，方便实用。采用上述各个技术方案，本技术通过场效应晶体管与测试晶振组成一个电容式三点振荡器，当测试晶振的两端接入电路后，电路被振荡，振荡信号通过第一三极管的发射极放大后输出，再经过倍压整流电路的电流放大作用，为第二三极管提供偏置电流，第二三极管导通，发光二极管亮起，以提示该测试晶振合格；采用第一三极管及倍压整流电路将振荡信号两级放大的方式，可提高晶振测试的精确度；采用测试电路代替万用表进行检测的方式，还可有效提高晶振的检测效率。以上仅为本技术的较佳实施例而已，并不用于限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度晶振测试电路，其特征在于：包括用于待检测的测试晶振、用于引起振荡信号的场效应晶体管、用于将振荡信号进行放大的第一三极管、用于将振荡电流进行放大的倍压整流电路、用于导通振荡信号的第二三极管、用于检验提示测试晶振正常与否的发光二极管、测试开关及电源，所述场效应晶体管的栅极经过第一电容与测试晶振的第一端连接，所述场效应晶体管的漏极分别与测试晶振的第二端、第一三极管的基极、第一三极管的集电极连接，所述场效应晶体管的源极与倍压整流电路的第一输入端连接，所述第一三极管的发射极与倍压整流电路的第二输入端连接，所述倍压整流电路的第一输出端与第二三极管的基极连接，所述倍压整流电路的第二输出端与第二三极管的发射极连接，所述第二三极管的集电极与发光二极管的负极连接，所述发光二极管的正极依次经过第一电阻、测试开关并与电源连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种高精度晶振测试电路，其特征在于：包括用于待检测的测试晶振、用于引起振荡信号的场效应晶体管、用于将振荡信号进行放大的第一三极管、用于将振荡电流进行放大的倍压整流电路、用于导通振荡信号的第二三极管、用于检验提示测试晶振正常与否的发光二极管、测试开关及电源，所述场效应晶体管的栅极经过第一电容与测试晶振的第一端连接，所述场效应晶体管的漏极分别与测试晶振的第二端、第一三极管的基极、第一三极管的集电极连接，所述场效应晶体管的源极与倍压整流电路的第一输入端连接，所述第一三极管的发射极与倍压整流电路的第二输入端连接，所述倍压整流电路的第一输出端与第二三极管的基极连接，所述倍压整流电路的第二输出端与第二三极管的发射极连接，所述第二三极管的集电极与发光二极管的负极连接，所述发光二极管的正极依次经过第一电阻、测试开关并与电源连接。


2.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏涛，
申请(专利权)人：深圳市奥宇达电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44