一种瞬态电压抑制二极体测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体和若干PTC发热体，测试箱体的侧壁铰接有门板，测试箱体的侧部安装有数字温度计，测试箱体的两侧内壁中心部位均安装有承载块，两组承载块相对的侧壁均安装有弹性导电片，两组弹性导电片之间构成卡接空腔，两组弹性导电片的侧部均安装有线缆，两组线缆均贯穿承载块和测试箱体的侧壁外延至测试箱体的外侧，若干PTC发热体均安装于测试箱体的两侧壁下部，若干PTC发热体的发热端均插入测试箱体的内部。本实用新型专利技术通过PTC发热体对测试箱体的内部进行加热，便于在检测的过程中调整测试箱体的内部温度，模拟二极体工作时的温度，在相应温度下进行测试，达到良好的测试效果。

【技术实现步骤摘要】
一种瞬态电压抑制二极体测试装置
本技术涉及二极体测试
，具体涉及一种瞬态电压抑制二极体测试装置。
技术介绍
瞬态电压抑制二极体功能类似瞬态电压抑制二极管，简称TVS，是一种二极管形式的高效能保护器件，当TVS的两极受到反向瞬态高能量冲击时，它能以10的负12次方秒量级的速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，吸收高达数千瓦的浪涌功率，使两极间的电压箝位于一个预定值，有效地保护电子线路中的精密元器件，免受各种浪涌脉冲的损坏，在电子线路中得到广泛的应用。TVS在生产完毕后，需要对其进行检测，目前的检测一般是通过供电夹对TVS两个接线端进行夹持供电，测试TVS的性能，由于TVS在使用过程中，一般会由于周围其他元器件和本身的发热，温度一般会达到35℃-45℃，而现有的测试装置无法在测试过程中进行加热，不便于模拟TVS实际使用温度下的测试。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种瞬态电压抑制二极体测试装置，通过PTC发热体对测试箱体的内部进行加热，便于在检测的过程中调整测试箱体的内部温度，模拟二极体工作时的温度，在相应温度下进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体(1)和若干PTC发热体(2)，其特征在于：所述测试箱体(1)的侧壁铰接有门板(3)，所述测试箱体(1)的侧部安装有数字温度计(4)，所述测试箱体(1)的两侧内壁中心部位均安装有承载块(5)，两组所述承载块(5)相对的侧壁均安装有弹性导电片(6)，两组所述弹性导电片(6)之间构成卡接空腔(7)，两组所述弹性导电片(6)的侧部均安装有线缆(8)，两组所述线缆(8)均贯穿承载块(5)和测试箱体(1)的侧壁外延至测试箱体(1)的外侧，若干所述PTC发热体(2)均安装于测试箱体(1)的两侧壁下部，若干所述PTC发热体(2)的发热端均插入测试箱体(1)的内...

【技术特征摘要】
1.一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体(1)和若干PTC发热体(2)，其特征在于：所述测试箱体(1)的侧壁铰接有门板(3)，所述测试箱体(1)的侧部安装有数字温度计(4)，所述测试箱体(1)的两侧内壁中心部位均安装有承载块(5)，两组所述承载块(5)相对的侧壁均安装有弹性导电片(6)，两组所述弹性导电片(6)之间构成卡接空腔(7)，两组所述弹性导电片(6)的侧部均安装有线缆(8)，两组所述线缆(8)均贯穿承载块(5)和测试箱体(1)的侧壁外延至测试箱体(1)的外侧，若干所述PTC发热体(2)均安装于测试箱体(1)的两侧壁下部，若干所述PTC发热体(2)的发热端均插入测试箱体(1)的内部。


2.根据权利要求1所述的一种瞬态电压抑制二极体测试装置，其特征在于：所述测试箱体(1)的上壁中心部位安装有导料管(9)，所述导料管(9)的下部与承载块(5)的上壁相抵触，所述导料管(9)的下部与卡接空腔(7)连通，所述测试箱体(1)的侧部安装有电动推杆(10)，所述电动推杆(10)的活塞端插入测试箱体(...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝连国，
申请(专利权)人：苏州联飞国耀电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32