一种瞬态电压抑制二极体测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体和若干PTC发热体，测试箱体的侧壁铰接有门板，测试箱体的侧部安装有数字温度计，测试箱体的两侧内壁中心部位均安装有承载块，两组承载块相对的侧壁均安装有弹性导电片，两组弹性导电片之间构成卡接空腔，两组弹性导电片的侧部均安装有线缆，两组线缆均贯穿承载块和测试箱体的侧壁外延至测试箱体的外侧，若干PTC发热体均安装于测试箱体的两侧壁下部，若干PTC发热体的发热端均插入测试箱体的内部。本实用新型专利技术通过PTC发热体对测试箱体的内部进行加热，便于在检测的过程中调整测试箱体的内部温度，模拟二极体工作时的温度，在相应温度下进行测试，达到良好的测试效果。

【技术实现步骤摘要】
一种瞬态电压抑制二极体测试装置
本技术涉及二极体测试
，具体涉及一种瞬态电压抑制二极体测试装置。
技术介绍
瞬态电压抑制二极体功能类似瞬态电压抑制二极管，简称TVS，是一种二极管形式的高效能保护器件，当TVS的两极受到反向瞬态高能量冲击时，它能以10的负12次方秒量级的速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，吸收高达数千瓦的浪涌功率，使两极间的电压箝位于一个预定值，有效地保护电子线路中的精密元器件，免受各种浪涌脉冲的损坏，在电子线路中得到广泛的应用。TVS在生产完毕后，需要对其进行检测，目前的检测一般是通过供电夹对TVS两个接线端进行夹持供电，测试TVS的性能，由于TVS在使用过程中，一般会由于周围其他元器件和本身的发热，温度一般会达到35℃-45℃，而现有的测试装置无法在测试过程中进行加热，不便于模拟TVS实际使用温度下的测试。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种瞬态电压抑制二极体测试装置，通过PTC发热体对测试箱体的内部进行加热，便于在检测的过程中调整测试箱体的内部温度，模拟二极体工作时的温度，在相应温度下进行测试，达到良好的测试效果，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体和若干PTC发热体，所述测试箱体的侧壁铰接有门板，所述测试箱体的侧部安装有数字温度计，所述测试箱体的两侧内壁中心部位均安装有承载块，两组所述承载块相对的侧壁均安装有弹性导电片，两组所述弹性导电片之间构成卡接空腔，两组所述弹性导电片的侧部均安装有线缆，两组所述线缆均贯穿承载块和测试箱体的侧壁外延至测试箱体的外侧，若干所述PTC发热体均安装于测试箱体的两侧壁下部，若干所述PTC发热体的发热端均插入测试箱体的内部。优选的，所述测试箱体的上壁中心部位安装有导料管，所述导料管的下部与承载块的上壁相抵触，所述导料管的下部与卡接空腔连通，所述测试箱体的侧部安装有电动推杆，所述电动推杆的活塞端插入测试箱体的内部并安装有滑动块，所述滑动块与卡接空腔的侧部相对，所述测试箱体的侧部开设有排料孔，所述排料孔的侧部与卡接空腔的侧部相对。优选的，所述门板的侧部安装有观察窗，所述门板的侧部安装有手柄。优选的，两组所述承载块的下部均等距开设有若干贯穿孔，所述承载块的上壁为光滑面。优选的，所述导料管的俯视截面呈矩形设置，所述导料管的内壁为光滑面。优选的，所述排料孔的下侧部设置有导料板，所述导料板安装于测试箱体的侧部，所述导料板向水平面以下倾斜10°-20°。其中，弹性导电片为表面光滑的铜质弹性导电片。其中，PTC发热体有外部的电源供电，并配置有相应的PTC发热体启闭开关。综上所述，由于采用了上述技术，本技术的有益效果是：本技术中，通过在导料管的内部堆叠放置待测试的二极体，两组线缆与外部的测试电路连接，人工按压处于导料管内最上部的二极体，进而使得最下部的二极体卡入两组弹性导电片之间，通过线缆供电进行测试，测试完毕后，运行电动推杆将最下部的二极体从排料孔部位推出，然后电动推杆复位，人工对导料管的内部补料并继续按压最上部的二极体，即可实现下一个二极体的测试，简便的实现进料和排料，方便操作。本技术中，在测试的过程中，通过PTC发热体对测试箱体的内部进行加热，便于在检测的过程中调整测试箱体的内部温度，模拟二极体工作时的温度，在相应温度下进行测试，达到良好的测试效果，且由于导料管的内部放置有多个二极体，在测试一个二极体的同时，对处于导料管内部的其余二极体进行预热。附图说明图1为本技术的侧视剖视示意图；图2为本技术的主视剖视示意图；图3为本技术的测试箱体主视示意图。图中：1、测试箱体；2、PTC发热体；3、门板；4、数字温度计；5、承载块；6、弹性导电片；7、卡接空腔；8、线缆；9、导料管；10、电动推杆；11、滑动块；12、排料孔；13、观察窗；14、手柄；15、贯穿孔；16、导料板。具体实施方式为使本技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施方式中的附图，对本技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术保护的范围。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要理解的是，指示方位或位置关系的术语为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据说明书具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。本技术提供了如图1-3所示的一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体1和若干PTC发热体2，测试箱体1的侧壁铰接有门板3，门板3的侧部安装有观察窗13，门板3的侧部安装有手柄14，测试箱体1的侧部安装有数字温度计4，数字温度计4检测并显示测试箱体1内部的温度，便于根据温度启闭PTC发热体2，测试箱体1的两侧内壁中心部位均安装有承载块5，两组承载块5的下部均等距开设有若干贯穿孔15，承载块5的上壁为光滑面，两组承载块5相对的侧壁均安装有弹性导电片6，两组弹性导电片6之间构成卡接空腔7，两组弹性导电片6的侧部均安装有线缆8，两组线缆8均贯穿承载块5和测试箱体1的侧壁外延至测试箱体1的外侧，若干PTC发热体2均安装于测试箱体1的两侧壁下部，若干PTC发热体2的发热端均插入测试箱体1的内部。测试箱体1的上壁中心部位安装有导料管9，导料管9的下部与承载块5的上壁相抵触，导料管9的下部与卡接空腔7连通，导料管9的俯视截面呈矩形设置，导料管9的内壁为光滑面，测试箱体1的侧部安装有电动推杆10，电动推杆10的活塞端插入测试箱体1的内部并安装有滑动块11，滑动块11在推动滑动块11与卡接空腔7的侧部相对，测试箱体1的侧部开设有排料孔12，排料孔12的侧部与卡接空腔7的侧部相对，排料孔12的下侧部设置有导料板16，导料板16安装于测试箱体1的侧部，导料板16向水平面以下倾斜10°-20°，导料板16方便从排料孔本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体(1)和若干PTC发热体(2)，其特征在于：所述测试箱体(1)的侧壁铰接有门板(3)，所述测试箱体(1)的侧部安装有数字温度计(4)，所述测试箱体(1)的两侧内壁中心部位均安装有承载块(5)，两组所述承载块(5)相对的侧壁均安装有弹性导电片(6)，两组所述弹性导电片(6)之间构成卡接空腔(7)，两组所述弹性导电片(6)的侧部均安装有线缆(8)，两组所述线缆(8)均贯穿承载块(5)和测试箱体(1)的侧壁外延至测试箱体(1)的外侧，若干所述PTC发热体(2)均安装于测试箱体(1)的两侧壁下部，若干所述PTC发热体(2)的发热端均插入测试箱体(1)的内部。/n

【技术特征摘要】
1.一种瞬态电压抑制二极体测试装置，包括测试箱体(1)和若干PTC发热体(2)，其特征在于：所述测试箱体(1)的侧壁铰接有门板(3)，所述测试箱体(1)的侧部安装有数字温度计(4)，所述测试箱体(1)的两侧内壁中心部位均安装有承载块(5)，两组所述承载块(5)相对的侧壁均安装有弹性导电片(6)，两组所述弹性导电片(6)之间构成卡接空腔(7)，两组所述弹性导电片(6)的侧部均安装有线缆(8)，两组所述线缆(8)均贯穿承载块(5)和测试箱体(1)的侧壁外延至测试箱体(1)的外侧，若干所述PTC发热体(2)均安装于测试箱体(1)的两侧壁下部，若干所述PTC发热体(2)的发热端均插入测试箱体(1)的内部。


2.根据权利要求1所述的一种瞬态电压抑制二极体测试装置，其特征在于：所述测试箱体(1)的上壁中心部位安装有导料管(9)，所述导料管(9)的下部与承载块(5)的上壁相抵触，所述导料管(9)的下部与卡接空腔(7)连通，所述测试箱体(1)的侧部安装有电动推杆(10)，所述电动推杆(10)的活塞端插入测试箱体(...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝连国，
申请(专利权)人：苏州联飞国耀电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32