一种高温反偏试验监控柜制造技术

技术编号:26103909 阅读:42 留言:0更新日期:2020-10-28 18:05
本实用新型专利技术公开了一种高温反偏试验监控柜,属于试验设备技术领域,包括柜体,其特征在于:柜体下部设置电源放置区域,电源放置区域内部设置电源,电源放置区域背面一侧设置电源通讯接口,电源放置区域上方设置操作台,操作台上方前侧设置工业控制计算机,操作台上方后侧设置驱动板,工业控制计算机上方横向并排设置启动按钮、停止按钮,柜体背面底部设置通讯控制板,柜体右侧设置侧门,侧门上部设置对接座,对接座通过引线与外置独立试验箱电性连接,本实用新型专利技术解决了现有高温反偏试验系统试验工位少,无法满足检测需求的问题,且避免了一体设计的试验箱、监控柜给安装和移动带来的不便,同时独立设计的监控柜制造成本明显降低。

【技术实现步骤摘要】
一种高温反偏试验监控柜
本技术涉及试验设备
,具体是一种高温反偏试验监控柜。
技术介绍
在封装的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT等器件的生产领域,为保证器件的可靠性,厂家在器件出厂前会采用一系列可靠性试验进行考核、筛选,针对器件不同的使用环境,采用的可靠性试验的种类、条件也会有所差异,对于高压器件来说,HTRB试验,即高温反向偏压试验,是器件出厂前必做的试验之一,根据国际电工委员会(IEC)的标准,该试验的条件为:试验过程中的结温优选器件所能承受的最高结温,施加的电压优选最大反偏电压的80%,考核时长随器件应用环境的不同而不同,在电力系统中的应用一般要达到1000h,在试验过程中,器件内部仅有很小的反向漏电流通过,几乎不消耗功率,该试验对剔除具有表面效应缺陷的早期失效器件特别有效,这些器件的失效与时间和应力有关,如未经该试验,这些器件在正常的使用条件下会发生早期失效,此外,该试验还能揭示与时间和应力有关的电气失效模式,对于器件可靠性的保证有着重要作用,该试验需要通过专门的高温反偏试验系统完成,但现有的高温反偏试验系统存在一些不足本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高温反偏试验监控柜,包括柜体(1),其特征在于:所述柜体(1)下部设置电源放置区域,所述电源放置区域内部设置电源(4),所述电源放置区域背面一侧设置电源通讯接口(13),所述电源放置区域上方设置操作台(3),所述操作台(3)上方前侧设置工业控制计算机(2),所述操作台(3)上方后侧设置驱动板(14),所述工业控制计算机(2)上方横向并排设置启动按钮(9)、停止按钮(8),所述柜体(1)背面底部设置通讯控制板(11),所述启动按钮(9)、停止按钮(8)与所述电源(4)电性连接,所述工业控制计算机(2)与所述启动按钮(9)电性连接,所述通讯控制板(11)与所述工业控制计算机(2)电性连接,...

【技术特征摘要】
1.一种高温反偏试验监控柜,包括柜体(1),其特征在于:所述柜体(1)下部设置电源放置区域,所述电源放置区域内部设置电源(4),所述电源放置区域背面一侧设置电源通讯接口(13),所述电源放置区域上方设置操作台(3),所述操作台(3)上方前侧设置工业控制计算机(2),所述操作台(3)上方后侧设置驱动板(14),所述工业控制计算机(2)上方横向并排设置启动按钮(9)、停止按钮(8),所述柜体(1)背面底部设置通讯控制板(11),所述启动按钮(9)、停止按钮(8)与所述电源(4)电性连接,所述工业控制计算机(2)与所述启动按钮(9)电性连接,所述通讯控制板(11)与所述工业控制计算机(2)电性连接,所述电源通讯接口(13)与所述通讯控制板(11)电性连接,所述电源通讯接口(13)与所述电源(4)电性连接,所述驱动板(14)与所述电源(4)电性连接。


2.根据权利要求1所述的一种高温反偏试验监控柜,其特征在于,所述柜体(1)右侧设置侧门(16),所述侧门(16)上部设置对接座(15),所述对接座(15)与所述驱动板(14)电性连接。


3.根据权利要求2所述的一种高温反偏试验监控柜,其特征在于,所述对接座(15)通过引线与外置独立试验箱电性连接,所述驱动板(14)通过所述对接...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡久恒安浙文
申请(专利权)人:杭州高坤电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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