芯片检测方法及相关装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种对样品中、特别是生物样品中的目标物进行定性和／或定量芯片分析的方法，其包括在芯片试剂盒制备过程或／和样品检测信号形成过程中对芯片进行不同于标记的着色，以使背景与目标之间色差比最大化。特别是通过着色使芯片弱目标信号－背景比小于０．８０、优选小于０．５０、更优选小于０．２５，以提高检测灵敏度。本发明专利技术还涉及上述芯片试剂盒制备过程制备的含着色剂或着色物的芯片片基、芯片基片、芯片探针板及芯片试剂盒。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹方霖，陈春生，王建霞，
申请(专利权)人：成都夸常医学工业有限公司，成都夸常科技有限公司，
类型：发明
国别省市：90[中国|成都]