玻璃的识别方法及玻璃识别装置制造方法及图纸

在再循环工序中，玻璃碎片的同质性低，再循环玻璃的质量也降低。为了解决该课题，本发明专利技术在粉碎显示器之前，利用荧光Ｘ线分析器实施各衬底的玻璃组成成分分析，由此判别相同组成的玻璃，进行碎玻璃化并回收。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及识别玻璃的方法及其装置，尤其涉及用于识别显示器用的玻璃衬底的种类的方法及其装置。
技术介绍
近年，伴随显示器装置的大型化和薄型化，例如，等离子体显示面板(以下，称为PDP)装置的开发正在发展，同时其再循环的必要性也提高。如图8所示，PDP通常是由未图示的密封材料密封由玻璃构成的前面衬底81和背面衬底82，并在密封后的前面衬底81和背面衬底82之间封入放电气体而形成放电空间的结构。在前面衬底81上依次形成有显示电极83、总线(bus)电极84、介质层85、保护层86。在背面衬底82上形成地址电极87，在其上经由介质层88涂敷红、绿、蓝中的任一种荧光体89。如图所示，各地址电极87上的红、绿、蓝的各荧光体89由隔壁90相互隔离(例如，参照专利文献1、专利文献2、专利文献3)。历来，在制造工序中产生的不合格品或作为产品而被使用后的电气化产品，通常通过掩埋等进行废弃处理。上述PDP由于在形成于前面衬底81或背面衬底82的上述各层或密封材料中含有铅等有害物质，因此必须在实施有害物的固化处理之后再进行掩埋。另外，为了实现桢面的大型化，前面衬底81或背面衬底82使用大的玻璃衬底。因此，两衬底在产品中所占的容积及重量大，从环境方面及成本方面出发，都希望实现它们的再循环。以往，公开有一种用于将在制造工序中成为不合格品的、PDP的前面/背面衬底所使用的玻璃衬底作为工业用材料而进行再循环的方法(例如，参照专利文献4。)。图9表示在PDP制作工序S10中组合了再循环工序S11的以往的工序。省略S10的详细内容，在老化(ageing)工序S95结束之后，在玻璃检查工序S96中进行不合格品的识别。此时，被识别为不合格品的PDP回到S11中。S11主要包括对所回收的PDP中组合的前面衬底和背面衬底进行分离的工序S98、对在分离后的前面/背面衬底上形成的各层(表面层)进行剥离的工序S99、然后对前面/背面衬底和被剥离的表面层的剥离成分分别进行分离回收的工序S100和S101。在此，在S100中，为了将表面层被剥离的前面/背面衬底作为玻璃原料而进行再循环，使用将前面/背面衬底细小地粉碎成玻璃碎片(glass cullet)(以下，称为碎玻璃)的方法。专利文献1日本特许第2503072号公报专利文献2日本特开平4-366526号公报专利文献3日本特开昭55-70873号公报专利文献4日本特开2002-50294号公报通常，PDP等电气化产品的装配厂家，出于材料质量或价格的目的，大多从多个材料厂家供给材料(在此，为玻璃)。在该情况下，玻璃的组成成分因材料厂家而异。因此，在未按照厂家识别、分类碎玻璃而进行回收的情况下，回收的碎玻璃中将混有来自多个材料厂家的玻璃。其结果是，存在回收的碎玻璃的同质性降低的问题。这样的碎玻璃成为再循环用途被限制的材料，无法期望高的有价性。例如，在将PDP的玻璃衬底的不合格品再循环时，理想的是将该不合格品再次再循环成PDP用的玻璃衬底，但若回收的碎玻璃的同质性低，则由此制作的玻璃衬底的质量也降低。
技术实现思路
本专利技术为解决上述课题，而提供一种识别、分类所回收的碎玻璃的方法。本专利技术的第一技术方案的玻璃识别方法是用于再利用包含玻璃的识别对象物的玻璃识别方法，其中，该识别方法具有对识别对象物照射X线，获得识别对象物的荧光X线光谱的工序；和将识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组进行分析、比较，识别识别对象物中包含的玻璃的种类的工序。识别玻璃的种类的工序，通过进行识别对象物的荧光X线光谱的组成成分分析、和规定的物质组的荧光X线光谱组的组成成分分析，并比较分析结果来判断一致度而进行。由此，回收的识别对象物的同质性提高，再循环的精度提高。第二技术方案的玻璃识别方法是用于再利用包含玻璃的识别对象物的玻璃识别方法，其中，该识别方法具有对识别对象物照射X线，获得识别对象物的荧光X线光谱的工序；和将识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组进行分析、比较，识别识别对象物中包含的玻璃的种类的工序。识别玻璃的种类的工序，通过获得识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组的各光谱的差分，并判断一致度而进行。由此，回收的识别对象物的同质性提高，再循环的精度提高。第三技术方案的玻璃识别方法，在第一或第二玻璃的识别方法中，其特征在于，识别对象物、规定的物质组中的至少任一方是显示器用的玻璃衬底。由此，可进行显示器用的玻璃衬底的再循环。第四技术方案的玻璃识别方法，在第一或第二玻璃的识别方法中，其特征在于，识别对象物及规定的物质组具有从钾、钙、铁、锶、锆、钡、铪中选择的至少一种元素。由于显示器用的玻璃衬底大多在上述元素的含有率中具有特征，因此通过分析这些元素，可实现玻璃的种类的识别。第五技术方案的玻璃的识别装置具备X线管，其对包含玻璃的识别对象物照射X线；检测器，其测定从识别对象物放射的荧光X线的强度；存储部，其存储规定的物质组的荧光X线光谱组的数据；和运算器，其由检测器的测定结果求出识别对象物的荧光X线光谱，并通过分析、比较识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组的数据，来识别识别对象物中包含的玻璃的种类。由此，可识别识别对象物的同质性。以上，根据本专利技术，由于回收的碎玻璃的同质性提高，因此可防止再循环的PDP玻璃的质量降低，从而有价性提高。附图说明图1是本专利技术的PDP的制作工序和再循环工序的流程图；图2是表示本专利技术的识别装置的结构的图；图3是样本试料的荧光X线光谱图；图4是参考试料1的荧光X线光谱图；图5是参考试料2的荧光X线光谱图；图6是表示样本试料和参考试料1的荧光X线光谱图的差分结果的图；图7是表示样本试料和参考试料2的荧光X线光谱图的差分结果的图；图8是表示PDP的结构的图；图9是以往的PDP的制作工序和再循环工序的流程图。图中1-衬底，2-X线管，3-X线，4-荧光X线，5-检测器，6-放大器，7-存储部，8-运算部，9-显示器，10-载物台，11-荧光X线分析器，81-前面衬底，82-背面衬底，83-显示电极，84-总线电极，85、88-介质层，86-保护层，87-地址电极，89-荧光体，90-隔壁。具体实施例方式在本方式中，将识别对象物作为PDP用的玻璃衬底进行说明。本专利技术在表面层的剥离及粉碎显示器之前，实施回收的PDP的玻璃衬底的组成成分分析，仅收集组成成分相同的PDP玻璃，进行碎玻璃化，由此提高碎玻璃的同质性，从而再次作为高质量的PDP用的玻璃衬底而进行再循环。以下，更为详细地对本专利技术进行说明，但本专利技术并不限定于此。(实施方式)图1是表示包括本专利技术的再循环工序的PDP的制作工序的流程图。本专利技术的要点在于，对于在PDP制作工序S1的玻璃检查工序S16中成为NG的前面衬底及背面衬底，通过再循环工序S2的玻璃组成成分分析工序S19识别玻璃的组成成分，并按此对碎玻璃进行分类。图2表示执行该S19工序的玻璃识别装置即荧光X线分析器11(エスアイアイ·超精加工技术公司制荧光X线分析器(SEA-2210A))的结构。使用荧光X线是由于在测定时不破坏衬底本身，还能够抑制设备成本的增大。另外，由于荧光X线分析器能够进行数10ppm级的组成成分分析，因此在识别上述衬底时，精本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃的识别方法，其用于再利用包含玻璃的识别对象物，其中，具有：对所述识别对象物照射Ｘ线，获得所述识别对象物的荧光Ｘ线光谱的工序；和将所述识别对象物的荧光Ｘ线光谱和规定的物质组的荧光Ｘ线光谱组进行分析、比较，识别所述识别对象物中包含的所述玻璃的种类的工序，识别所述玻璃的种类的工序，通过进行所述识别对象物的荧光Ｘ线光谱的组成成分分析、和所述规定的物质组的荧光Ｘ线光谱组的组成成分分析，并比较分析结果来判断一致度而进行。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：谷美幸，久角隆雄，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]