质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序制造方法及图纸

技术编号:2582909 阅读:177 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种能够准确分析质谱的质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序。本发明专利技术的质谱分析装置,是一种分析对多个样本进行测量得到的质谱的质谱分析装置,包括:峰值位置检测装置(14),检测质谱出现峰值的峰值位置;和重合度计算装置(15),基于在多个质谱中关于质量数具有宽度的窗所包含的峰值位置的数,计算峰值的重合度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对测量样本后得到的质谱进行分析的分析装置、分析方法和分析程序。
技术介绍
近年,人们正逐渐开始使用MALDI-TOF-MS(Matrix Assisted LaserDesorption/Ionization-Time Of Flight-Mass Spectrometry基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪)。MALDI-TOF-MS例如能够进行血液中的蛋白质的质量分析,进行疾病的诊断和发病机理在生物化学上的查清等。作为具体的一例,通过对伴随癌的增殖而在血液中增加的蛋白质的质谱进行测量、分析,找出能够划分癌与非癌的图案(pattern),以该图案作为基准来进行判断。在MALDI-TOF-MS中,质谱的峰值的分析变得重要。以往,质谱的分析都是由操作者通过人工作业来进行的。即,分别对健康者和患者抽取多个样本,测量质谱。将该多个质谱进行视觉上的叠合,抽出在健康者和患者之间显现差异的特征性的峰值。但是,凭借人类的知觉的判断存在差异,难以进行再现性高的分析。进而,分析所需要的时间变长。尤其是在样本数多的情况下,不仅分析时间变长,进行分析的效率变差,而且难以进行再现性高的分析。此外,(专利文献1)公开有如下的数据处理装置,即针对2个色谱图(chromatogram)的数据,按每个峰值计算峰值的面积值或者峰值的高度,按每个峰值将所计算出的面积值或者高度的差作成直方图(histogram)。但是,该数据处理装置,是比较2个色谱图的处理装置,不适宜于各种生物样本的质谱的分析。专利文献1日本特开平9-210983号公报
技术实现思路
从生物体抽出的血液等生物样本,一般频谱的变动都大。为此,即便是在比较了患者的数据与健康者的数据的情况下,也并非始终都能观测到确定性的差异。即,因为是生物样本,由生物体本身的个体差异、健康状态的变化,导致即便是从同一患者取得的质谱的峰值,在位置、高度、面积等方面也存在离差。而且,由于存在原子的同位素,多个生物化学物质的共存,导致分析变得复杂。进而,在用不同的质量分析装置测量质谱时,也会由于装置的设定的不同而导致质谱产生差异。即便存在这样的变动因素,却也不至于严重到能使质谱的峰值的特征变得完全无序。结果是峰值的特征表现为通过熟练者凭知觉判断,能够判断患者与健康者的倾向的程度。本专利技术是鉴于上述课题而实施的,目的在于提供一种能够对样本进行准确的质谱分析的质谱分析装置、分析方法和分析程序。本专利技术的第一形式的质谱分析装置,是一种分析对多个样本进行测量得到的质谱的质谱分析装置,包括峰值位置检测装置(例如,本专利技术的实施方式中的峰值位置检测部14),检测上述质谱出现峰值的峰值位置;和重合度计算装置(例如,本专利技术的实施方式中的峰值位置检测部15),基于在多个上述质谱中关于质量数具有宽度的窗所包含的上述峰值位置的数,计算峰值的重合度。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第二形式的质谱分析装置的特征在于,在上述质谱分析装置中,根据上述窗的位置对峰值数进行了加权。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第三形式的质谱分析装置为在上述质谱分析装置中,对于不同的2组样本分别测量上述多个质谱,还包括重合度差计算装置(例如,本专利技术的实施方式中的重合度差计算部16),计算上述不同的2组的上述重合度的差。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第四形式的质谱分析方法,是一种分析对多个样本进行测量得到的质谱的质谱分析方法,包括峰值位置检测步骤(例如,本专利技术的实施方式中的峰值位置检测步骤S102),检测上述质谱出现峰值的峰值位置;和重合度计算步骤(例如,本专利技术的实施方式中的重合度计算步骤S103),基于在多个上述质谱中关于质量数具有宽度的窗所包含的上述峰值位置的数,计算峰值的重合度。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第五形式的质谱分析方法的特征在于,在上述质谱分析方法中,根据上述窗的位置对峰值数进行了加权。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第六形式的质谱分析装置为在上述质谱分析方法中,对于不同的2组样本分别测量上述多个质谱,还包括重合度差计算步骤(例如,本专利技术的实施方式中的重合度差计算步骤S105),计算上述不同的2组的上述重合度的差。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第七形式的质谱分析程序,是一种分析对多个样本进行测量得到的质谱的质谱分析程序,使计算机执行以下步骤峰值位置检测步骤,检测上述质谱出现峰值的峰值位置;和重合度计算步骤,基于在多个上述质谱中关于质量数具有宽度的窗所包含的上述峰值位置的数,计算出峰值的重合度。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第八形式的质谱分析程序的特征在于,在上述质谱分析程序中,根据上述窗的位置对峰值数进行了加权。由此,能够准确地进行质谱的分析。本专利技术的第九形式的质谱分析程序为在上述质谱分析程序中,对于不同的2组样本分别测量上述多个质谱,还包括重合度差计算步骤,计算上述不同的2组的上述重合度的差。由此,能够准确地进行质谱的分析。根据本专利技术,可以提供一种能够对样本进行准确的质谱分析的质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序。附图说明图1是示意地表示本专利技术的实施方式1的质谱分析装置的结构的框图。图2是表示本专利技术的实施方式1的分析方法的步骤的流程图。图3是表示用本专利技术的测量装置测量的质谱的一例的图。图4A是表示用本专利技术的测量装置测量的健康者的组的质谱及其峰值位置的图。图4B是表示用本专利技术的测量装置测量的患者的组的质谱及其峰值位置的图。图4C是表示用本专利技术的测量装置测量的健康者和患者的组的质谱及其峰值位置的图。图5是表示用本专利技术的测量装置测量的患者的质谱的图。图6是表示用本专利技术的测量装置测量的患者的质谱的图。图7是表示本专利技术的分析方法中的峰值位置和窗的扫描的图。图8是表示本专利技术的分析方法中的窗的形状和峰值位置的图。图9是表示本专利技术的患者的样本的重合度和峰值位置的图。图10是表示本专利技术的健康者的样本的重合度和峰值位置的图。图11是表示本专利技术的分析方法中的重合度的差的图。符号说明10分析装置11数据I/F部12输入部13分析部14峰值位置检测部15重合度计算部16重合度的差的计算部17显示部20测量装置51窗 52窗的形状具体实施方式以下,说明能适用本专利技术的实施方式。以下的说明用于说明本专利技术的实施方式,而本专利技术不受以下实施方式的限制。为了使说明更为明确,以下的记述进行了适当的省略和简化。本领域的技术人员,能够容易地在本专利技术的范围内,对以下的实施方式的各个因素进行变更、追加、转换。另外,各图中赋予了相同的标号的部分,表示同样的结构,适当省略说明。在本专利技术中,为了对患有特定疾病的患者的样本与健康者的样本的质谱进行比较,从多个患者和多个健康者抽取生物样本,对各自的样本测量质谱。然后通过将对患者和健康者测量出的质谱进行比较,求出在质谱中产生的存在特征的峰值。进而,在本实施方式中,为了对本专利技术的分析结果进行比较,表示出熟练者通过手动进行分析的结果。使用图1对于本专利技术的质谱的分析装置进行说明。图1是表示本专利技术的质谱分析装置的结构的框图。10为分析装置,11为数据I/F部,12为输入部,13为分析部,14为峰值检测部,15为重合度计算部,16为重合度差计算部,17为显示部,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种质谱分析装置,分析对多个样本进行测量得到的质谱,其特征在于:包括峰值位置检测装置,检测上述质谱出现峰值的峰值位置;和重合度计算装置,基于关于质量数具有宽度的窗中所包含的在多个上述质谱中检测出的上述峰值位置的个数,计算峰值的重合度。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:内田和彦佐藤优美西口纯也山崎信介
申请(专利权)人:株式会社山武
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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