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本发明提供一种能够准确分析质谱的质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序。本发明的质谱分析装置，是一种分析对多个样本进行测量得到的质谱的质谱分析装置，包括：峰值位置检测装置（１４），检测质谱出现峰值的峰值位置；和重合度计算装置（１５），基于...
该专利属于株式会社山武所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社山武授权不得商用。

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