质谱分析装置及质谱分析方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种质谱分析装置，其特征在于，包括：电离源，其包括ESI探针(201)、ESI电源(24)、电晕针(202)及APCI电源(24)；电离条件存储部(41)，其存储与含有一种至多种成分的液体试样有关的所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件；质谱分析执行部(43)，其使用所述多个电离条件中的每一条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析；以及质谱分析结果选出部(44)，其从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析的结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种同时使用电喷雾电离(ESI)源和大气压化学电离(APCI)源将液体试样中的成分电离并进行质谱分析的质谱分析装置及质谱分析方法。
技术介绍
为了进行试样中所含的各种成分的定性、定量，液相色谱质谱分析装置(LC/MS)被广泛使用，其包括：液相色谱部(LC)，其将这些成分在时间上加以分离；以及质谱分析部(MS)，其将分离后的成分电离并进行质谱分析。作为质谱分析部的电离源，大多数情况下使用电喷雾电离(ESI)源、大气压化学电离(APCI)源。在分析对象成分为高极性化合物的情况下使用ESI源，在分析对象成分为低极性化合物的情况下使用APCI源。在试样中含有多种成分的情况下，大多混存有高极性成分和低极性成分。作为用以对这种试样进行质谱分析的装置，提出有配备有包括ESI源和APCI源两方的、被称为双电离源的电离源的质谱分析装置(例如专利文献1)。双电离源包括：ESI探针，其被导入液体试样；ESI电源，其对该ESI探针供给高电压(ESI电压)；针(电晕针)，其位于ESI探针的出口附近，用以供给高电压而产生电晕放电；以及APCI电源，其对该针供给高电压(APCI电压)。在液相色谱中经成分分离并被导入至ESI探针的液体试样及流动相因施加至ESI探针的ESI电压而成为带电的液滴并喷出，试样中所含的成分中的高极性成分得以电离。另一方面，试样中所含的低极性成分在该阶段不会被电离，而是通过与因电晕针的电晕放电而被电离的流动相之间交换电荷而得以电离。以往技术文献专利文献专利文献1：日本专利特表2005-539358号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题试样中所含的各成分的极性、最适于将它们电离的ESI电压的值、APCI电压的值各不相同。因此，在双电离源中，将ESI电压、APCI电压设定为平均的值来使用。但存在如下问题：对于某些成分而言，施加平均的ESI电压、APCI电压的情况下的电离效率较低，有时无法生成能以足以对该成分进行定量的强度检测到的量的离子。本专利技术要解决的问题在于提供一种质谱分析装置及方法，不论试样中所含的成分的极性等如何，该质谱分析装置及方法均针对各成分而生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而可获得高灵敏度、高精度的质谱分析结果。解决问题的技术手段为了解决上述问题而成的本专利技术的质谱分析装置的特征在于，包括：a)电离源，其具有被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针、配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针、对所述ESI探针供给ESI电压的ESI电压供给部、以及对所述电晕针供给APCI电压的APCI电压供给部；b)电离条件存储部，其存储由分析人员设定的、与所述液体试样有关的所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件；c)质谱分析执行部，其使用所述多个电离条件中的每一条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析；以及d)质谱分析结果选出部，其从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析的结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。上述所谓“以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果”，典型而言是指离子的检测强度为最大的质谱分析结果，但并不一定限于此。例如，质谱分析结果选出部也能以如下方式构成：选出离子的检测强度与噪声强度的比(S/N比)的值为最大的质谱分析结果，或者去掉离子的检测强度超过检测器的动态范围的最大值的质谱分析结果并选择离子的检测强度为最大的质谱分析结果。在本专利技术的质谱分析装置中，从在ESI电压或者/APCI电压的值不同的多个离子条件下将液体试样电离并进行质谱分析而得的结果中，选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。因此，即便在试样中含有极性不同的多种成分的情况下，也针对各成分而生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而可获得高精度的质谱分析结果。本专利技术的质谱分析装置可在LC/MS中较佳地使用。在LC/MS中，在LC的色谱柱中被分离的成分洗脱的时间受到限制，并且在该时间内，洗脱量会发生变化。在这种情况下，较理想为所述质谱分析执行部反复使用所述多个电离条件来进行质谱分析。本专利技术的质谱分析装置也可用于进行预备测定，所述预备测定用以确定对液体试样中所含的成分进行定性或定量的质谱分析中的电离条件。试样中的成分的定性、定量例如通过选择离子监测(SIM)法、多反应监测(MRM)法来进行。因此，本专利技术的质谱分析装置可设为如下构成，即，还包括：e)电离条件确定部，所述电离条件确定部针对所述一种至多种成分中的每一成分而将与所述所选出的质谱分析结果相对应的电离条件确定为最佳电离条件。此外，为了解决上述问题而成的本专利技术的质谱分析方法为如下质谱分析方法，即，使用配备有电离源的质谱分析装置，对利用该电离源而生成的离子进行质谱分析，所述电离源具有：ESI源，其对被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针施加ESI电压而将该液体试样电离；以及APCI源，其对配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针施加APCI电压而将从所述ESI探针中喷出的所述液体试样电离，该质谱分析方法的特征在于，a)让分析人员设定用以将所述液体试样电离的、所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件，b)在所述多个电离条件中的每一条件下对由试样生成的离子进行质谱分析，c)从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。专利技术的效果通过使用本专利技术的质谱分析装置、质谱分析方法，不论试样中所含的成分的极性等如何，均针对各成分而生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而可获得高灵敏度、高精度的质谱分析结果。附图说明图1为本专利技术的质谱分析装置的一实施例的要部构成图。图2为对实施例1的质谱分析方法进行说明的流程图。图3为说明在实施例1的质谱分析方法中使用的分析条件的表。图4为说明实施例1的质谱分析方法中的分析的流程的图。图5为对实施例1中所获取的总离子流色谱图(TIC)进行说明的图。图6为对实施例1中所制作的质谱进行说明的图。图7为对实施例2的质谱分析方法进行说明的流程图。图8为对通过使用实施例2的质谱分析方法的MRM测定而获取的质谱色谱图进行说明的图。图9为说明在实施例3的质谱分析方法中使用的分析条件的表。图10为说明实施例3的质谱分析方法中的分析的流程的图。图11为说明实施例3的质谱分析方法中的S/N比的值与电离条件的关系的图。图12为对实施例3的质谱分析方法中离子的检测强度成为最大的电离条件下所获取的质谱色谱图、与S/N比的值成为最大的电离条件下所获取的质谱色谱图进行比较的图。具体实施方式下面，参考附图，对作为本专利技术的质谱分析装置的一实施例的、具有串联四极杆构成的质谱分析装置进行说明。本实施例的质谱分析装置像图1所示那样与液相色谱部1组合而构成，作为液相色谱质谱分析装置而进行动作。在本实施例的液相色谱质谱分析装置中，液相色谱部1包括：流动相容器10，其储留有流动相；泵11，其抽吸流动相并以一定流量进行输送；注射器12，其对流动相中注入预先准备的规定量的试样；以及色谱柱13，其将试样中所含的各种化合物在时间方向上加以分离。泵11从流动相容器10中抽本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种质谱分析装置，其特征在于，包括：a)电离源，其具有被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针、配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针、对所述ESI探针供给ESI电压的ESI电压供给部、以及对所述电晕针供给APCI电压的APCI电压供给部；b)电离条件存储部，其存储由分析人员设定的、与所述液体试样有关的所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件；c)质谱分析执行部，其使用所述多个电离条件中的每一条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析；以及d)质谱分析结果选出部，其从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析的结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种质谱分析装置，其特征在于，包括：a)电离源，其具有被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针、配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针、对所述ESI探针供给ESI电压的ESI电压供给部、以及对所述电晕针供给APCI电压的APCI电压供给部；b)电离条件存储部，其存储由分析人员设定的、与所述液体试样有关的所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件；c)质谱分析执行部，其使用所述多个电离条件中的每一条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析；以及d)质谱分析结果选出部，其从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析的结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。2.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，所述质谱分析结果选出部选出离子的检测强度为最大的质谱分析结果。3.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，所述质谱分析结果选出部选出离子的检测强度与噪声强度的比为最大的质谱分析结果。4.根据权利要求1至3中任一项所述的质谱分析装置，其特征在于，所述质谱分析执行部反复使用所述多个电离条件来进行质谱分析。5.根据权利要求1至4中...

【专利技术属性】
技术研发人员：藤田慎二郎，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP