一种参与性介质遮蔽高温表面的辐射测温方法技术

技术编号:2550875 阅读:179 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种修正参与性介质影响的辐射测温方法。当受到参与性介质影响时,通过建立辐射测温正、反问题模型及辐射测温反问题迭代算法,借助介质辐射特征的相关辅助信息,实现对辐射测温仪在参与性介质影响下的实际测量温度值进行反演修正,得到被测表面温度。其特征在于:设计参与性介质影响下辐射测温问题的物理模型,建立相应的数学模型及数值求解方法,并针对测温模型定义辐射测温正、反问题,最后开发出由测温仪实测温度值反演被测表面真实值的预测-校正迭代算法。其优点在于:当被测表面受到参与性介质干扰时,可以实现对辐射测温仪的实际测量值进行反演修正,得到更为准确的被测表面温度。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于冶金工业生产过程测温
,提供了一种有参与性介质遮蔽时准确测定高温物体表面温度的辐射测温方法。适用于轧钢加热炉、连铸二冷区等冶金生产过程中的测温。
技术介绍
在工业生产过程中,当被测物体表面受到辐射、吸收和散射性参与介质的遮盖时,辐射测温方法的测温准确性会大大降低,所测得的温度并不是被测表面的真实温度。如在轧钢加热炉中,二氧化碳、水蒸气以及悬浮颗粒等燃烧产物的存在,对板坯表面温度测量的准确性影响很大;在连铸二冷区,汽雾冷却或喷水冷却使得铸坯表面附近存在大量水蒸气或含有液滴的水雾介质,从而不仅增大了测温困难,并且降低了温度测量的准确性。因此,参与性介质遮蔽的高温表面辐射测温方法的准确性问题是广泛存在于工业生产过程中的共性问题。随着电子、计算机技术的发展及半导体材料科学的进步,辐射测温技术的发展很快,但对辐射、吸收和散射性介质遮蔽表面的辐射测温问题却一直没有得到很好的解决,主要困难在于对参与性介质对辐射测温方法的影响机理认识不够深入,从而无法找出避免或消除其干扰的有效方法。为了解决这一问题,现有技术中的主要方法是利用辅助设施设法避开参与性介质的影响。如使用光导纤维使本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种参与性介质遮蔽高温表面的辐射测温方法,在受到参与性介质遮蔽时用辐射测温方法准确测定高温物体表面温度的方法,考虑参与性介质的辐射换热对辐射测温仪的影响,通过建立辐射测温正、反问题数学模型及辐射测温反问题迭代算法,借助参与性介质辐射特征的辅助信息,实现对参与性介质影响所造成的测量温度偏差的修正,得到更为准确的被测表面温度;其特征在于:首先设计参与性介质影响下辐射测温问题的物理模型,然后建立相应的数学模型及数值求解方法,并针对该测温模型定义辐射测温正、反问题,最后给出由测温仪测量值反演被测表面真实值的预测-校正迭代算法。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张欣欣刘玉英于帆黄志伟乐恺
申请(专利权)人:北京科技大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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