具有与介质和温度相关的功率控制方案的记录设备制造技术

技术编号:3054668 阅读:196 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种记录设备,一种记录载体,以及一种方法,控制用于将数据记录在记录载体特别是染料介质上的辐射功率,其中在与温度和盘相关的参数的基础上执行写入功率控制,以便解决写入性能问题。为此,将指示由于记录载体的不均匀性的辐射功率的变化的第一控制参数作为记录位置的函数预测,并且基于测量的温度预测指示辐射功率的温度相关性的第二控制参数。由此,可以提高写入功率控制的准确度,特别是在任意记录位置之间跳转的情况下。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种记录设备,和一种将数据记录在记录载体上时控制使用的辐射功率的功率控制方法,以及一种可以使用所述记录设备和功率控制方法写入信息的记录载体。
技术介绍
按照惯例,将记录光盘分成两种一般的类型一次写入盘和可擦/可重写盘。而且,具有两种将信息记录到一次写入光盘上的方法。根据第一种记录方法,将激光束投射到记录表面上以熔化该表面,由此在其上形成凹坑。根据第二种记录方法,将有机染料薄膜用作信号记录表面,其中通过将激光束投射到所述表面改变反射系数,由此在其上形成可光学检测的标记。一次写入盘如CD-R和DVD+R盘具有称作预刻沟槽的导轨。这些预刻沟槽在中心频率周围沿盘的径向方向轻微地摆动。在预刻沟槽的摆动中,通过FSK(频移键控)调制记录信息。这种信息包括例如称作ATIP(预刻沟槽中的绝对时间)的记录时间地址的信息,或者称作ADIP(预刻沟槽中的地址)的记录地址的信息。通过这种一次写入盘,进行被称作最佳功率控制(OPC)的记录功率校准过程,以便将记录装置的激光束设置在最佳记录功率。光盘的记录表面包括用于记录多种数据的数据区,和用于测试记录的功率校准区(PCA),以便将激光束设置到其最佳记录功率。通常在盘的最内圈轨道提供PCA,并且该PCA又由测试区和计数区组成。记录时的最佳记录功率的设置需要为每个盘单独地设置最佳记录功率。这是因为盘的记录特性从一个制造者到下一个制造者是不同的。由此可见,不能获得盘的最佳记录功率会导致后期记录误差率和抖动的急剧增加。除了最佳功率控制(OPC),还可以在信息记录期间实施运行OPC(ROPC)机制,该运行OPC机制是具有高带宽的硬件特征,或步行(walking)OPC(WOPC)机制,该步行OPC机制是具有低带宽的软件特征。ROPC是必要时连续监视和调整记录功率的过程,通过将在OPC过程期间当设置最佳记录功率时从凹坑(或标记)反射的光的强度与在信息记录期间从凹坑(或标记)反射的光的强度比较,并且基于该比较结果适当地校正记录功率。结果,该ROPC机制可以连续地调整激光记录功率,即使从盘的内圆周向着外圆周径向移动在盘上记录信息以及在该最佳记录功率不同于在OPC过程期间设置的最佳记录功率也是如此。在WOPC中,监视参数β(表示记录凹坑或标记的不对称性),以实现连续的最佳写入功率。通过该与功率线性的参数,可以确定调节方向。这在监视抖动或比特误差率(或BLER)时是不可能的,由于相对于功率的二次关系。因此当(暂时)停止写入过程时,在特定时刻在已经写入的部分测量参数β。将这些值与β的特定目标值比较,将该特定目标值作为OPC程序期间确定的参考值。将两个值之间的差异转换成确定功率。该WOPC程序是软件程序,并且能够实现对径向方向上变化的补偿。然而,不连续的记录程序如在盘的外侧写入之后在盘的内侧写入会导致下面的问题。假设写入完整的DVD+R盘。在记录的结尾,必须升级位于盘内侧的文件系统区。由于通过WOPC机制升级功率,以便补偿例如记录过程期间的温度和盘变化,盘内侧的最佳功率是未知的。这会在盘的内侧在升级的文件系统区的写入期间导致坏的写入性能。按照惯例,该问题通过在文件系统区的升级之前开始OPC程序解决。然而,在多区段(session)盘的情况下,具有许多填充在不同位置的预留轨道,这也会造成问题,特别是由于功率校准区具有限制的尺寸,由此限制了OPC程序的数量。如果打算在盘的外侧写入,特别是在染料盘的情况下,在盘内侧的OPC之后,面临进一步的问题。则功率由于不均匀的盘可能是错误的。在视频记录之后在盘的外侧暂时写入一些部分的编辑阶段会出现相同的问题。按照惯例,该问题可以通过在记录的中断期间执行额外的倾斜校准解决,以便尽可能地提高容限(margins)。然而,这会导致增加在盘上记录的记录时间的缺点。文献US2002/0001270A1描述了一种用于将信息记录到一次写入或可擦光盘上的光盘记录设备的功率控制方案,其中提供预记录校正曲线表,该预记录校正曲线由对应于多种不同光盘中每一类型的径向位置的记录功率校正值构成。在记录区段的开始,参考该校正值表,以便可以自始至终以最佳记录功率在多区段记录过程期间在盘的任意径向位置进行信息的写入,而没有受到任何光盘翘曲(warpage)的影响。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种改进的功率控制方案,借此即使在不需要额外的空间和记录时间的不连续记录的情况下也可以提高功率设置。该目的通过提供如权利要求1所述的记录设备,如权利要求10所述的功率控制方法,以及如权利要求11所述的记录载体实现。因此,可以通过基于预测的第一和第二控制参数校正记录或写入功率提供记录功率的准确度。第一控制参数涉及相对于记录位置的记录载体的不均匀性,而第二控制参数涉及与温度相关的波长改变。由此,可以补偿盘相关性和系统相关性。这对DVD+R盘或者其它对波长改变非常敏感的染料介质是特别有利的。可以将第一预测装置设置成基于学习机制预测控制参数。为此,可以提供存储器装置,以便存储作为记录位置的函数的功率值表。通过这种学习机制,可以在早期记录期间,或者在最初的学习过程期间基于经验确定盘对记录功率的影响。另外,第一预测装置可以包括近似装置,该近似装置基于从学习机制获得的值执行回归操作。然后,可以将从该回归操作获得系数用于预测第一控制参数。这样,可以仅存储描述近似函数的系数,并且可以基于下面的近似函数计算第一控制参数。将第二预测装置设置成基于从温度传感器提供的测量激光温度以及指示相对于辐射波长的标准辐射功率相关性的预定控制信息计算第二控制参数。这提供了下面的优点可以基于使用预定的控制信息和测量的温度值的简单计算操作容易地确定或预测与温度相关的第二控制参数。术语标准表示辐射功率相关性的值涉及预定的值,如例如其最大值、其最小值,或者其平均值。在特定的例子中,可以将预定的控制信息存储在记录载体上,并且可以由相应的读取装置读取。由此,可以将预定的控制信息直接提供在记录载体上,以便在该记录设备中不必为不同的盘类型存储相应的控制信息表。可以将功率控制信息作为新的或额外的ADIP信息写入该记录载体。附图说明现在,参照附图在优选实施方式的基础上描述本专利技术,其中 附图1是表示根据优选实施方式的记录设备的示意性方框图;以及附图2是表示根据优选实施方式的功率控制方法的示意性流程图。具体实施例方式下文中将相对于DVD+R盘的光盘记录器描述优选的实施方式。DVD+R/+RW格式对于数字视频记录以及所有PC(个人计算机)数据存储应用来说变得日益普及。DVD+R/+RW格式在竞争格式之上的主要优点在于其与DVD只读系统向后兼容,并且允许在现有的DVD播放器中再现。附图1表示根据本专利技术优选实施方式的光盘播放器的示意性方框图。在附图1中,将输入数据DI提供到光学单元10,以便将其记录或写入光盘。在光盘上,提供薄的有机染料膜作为数据存储层。记录原则基于不可逆地修改染料的物理和化学结构,并且通过由光学单元10产生的聚焦辐射束加热该染料感应。记录标记(即修改染料的区域)具有不同于它们未修改的环境的光学性质,并且给出可与当读取只读盘时获得的信号比较的读出信号。将数字信息包含在记录标记的长度以及它们之间未修改的空间中。可以注意到,附图1的方框图仅本文档来自技高网
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【技术保护点】
通过具有辐射功率的聚焦辐射束照射记录载体将数据记录在所述记录载体上的记录设备,所述设备包括:-产生所述聚焦辐射束的装置(10);-预测作为记录位置的函数的第一控制参数的第一预测装置(20,24),所述第一控制参数指示补偿所述 记录载体的不均匀性所需的辐射功率变化;-预测第二控制参数的第二预测装置(30),所述第二控制参数指示所述辐射功率的温度相关性;以及-依靠所述第一和第二控制参数控制所述辐射功率的功率控制装置(10)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2004-2-24 04100715.41.通过具有辐射功率的聚焦辐射束照射记录载体将数据记录在所述记录载体上的记录设备,所述设备包括-产生所述聚焦辐射束的装置(10);-预测作为记录位置的函数的第一控制参数的第一预测装置(20,24),所述第一控制参数指示补偿所述记录载体的不均匀性所需的辐射功率变化;-预测第二控制参数的第二预测装置(30),所述第二控制参数指示所述辐射功率的温度相关性;以及-依靠所述第一和第二控制参数控制所述辐射功率的功率控制装置(10)。2.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一预测装置(20,24)设置成基于学习机制预测所述控制参数。3.根据权利要求2所述的设备,其中所述第一预测装置(20,24)包括将辐射功率值表存储为所述记录位置的函数的存储器装置(20)。4.根据权利要求2或3所述的设备,其中所述第一预测装置(20,24)包括基于从所述学习机制获得的值执行回归操作的近似装置(24)。5.根据权利要求4所述的设备,其中所述第一预测装置(20,24)设置成使用从所述回归操作获得的系数预测所述第一控制参数。6.根据前面任一权利要求所述的设备,其中所述第二预测装置(30)设置成基于从温度传感器(32)提供的测量激光温度和指示相对于辐射波长的标准辐射功率相关性的预定控制信息来计算所述第二控制参数。7.根据权利要求6所述的设备,进一步包括从所述记录载体读取...

【专利技术属性】
技术研发人员:TP范恩德特
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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