用于光学存储介质的最佳功率控制制造技术

本发明专利技术提供一种最佳功率校准方法，其中在光盘（１０）的外侧ＯＰＣ区（１２）以多个写入速度ａ、ｂ和ｃ执行ＯＰＣ过程，并且还以其写入速度在内侧ＯＰＣ区（１４）执行ＯＰＣ过程。通过对于每个速度由每个ＯＰＣ处理获得的最佳功率（和策略）然后被用于产生使写入功率与速度匹配的函数。为了对于所有半径都产生精确的最佳激光功率，可产生两个ＯＰＣ功率因数：介质变化功率因数和速度功率因数。为了产生介质变化功率因数，使用从光盘的最内侧和最外侧半径处获得的Ｎｘ１　　ＯＰＣ信息；而为了产生速度功率因数，使用从盘的最外侧半径处获得的Ｎｘ１、Ｎｘ２…Ｎｘｍ信息。使用上述的两个功率因数，能够对所有半径实现所需的激光功率的更加精确的控制。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术通常涉及用于光学存储介质的最佳功率控制(OPC)，更加具体地说，涉及一种用于对光盘进行写入的方法和装置，借此在盘的外边缘执行光学功率控制(或最佳功率校准)。
技术介绍
光盘(例如，致密盘)已知是一种类型的信息记录介质。根据CD的标准记录格式，CD的记录区包括导入区、程序区和导出区。这些区是以这个顺序在从CD的内圆周到外圆周的方向上设置的。称之为内容表(TOC)的索引信息被记录在导入区中。TOC包括作为子码的管理信息，其用于管理在程序区中记录的信息。例如，如果记录在程序区中的主信息是与音乐歌曲相关的信息，则管理信息可包括歌曲的播放时间。也可以将涉及相应音乐歌曲的轨道号码的信息记录在程序区中。指示信息区结束的导出代码被记录在导出区中。在记录用户数据之前，在介质的一个小段上执行测试写入。测试写入以各种功率电平和写入脉冲形状进行写入。通过读回测试写入图案，设置用于记录用户数据的最佳功率电平和脉冲形状。这一过程被称为“最佳功率控制”或“最佳功率校准(OPC)”。更详细地说，OPC的过程就是首先读取记录在光盘上的推荐记录功率(PO)的值。接着，执行测试记录操作，其中使用基于推荐记录本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在向光学存储装置（１０）写入数据之前针对该光学存储装置（１０）执行最佳功率控制的方法，所述方法包括针对所述光学存储装置（１０）的多个旋转线速度通过下列步骤来执行最佳功率控制过程：ａ．在所述光学存储装置（１０）的一相对小的段（１２ ）上执行测试写入；和ｂ．在执行所述测试写入期间读回写入到所述光学存储装置（１０）中的测试图案；以便获得一个将写入速度映射到功率的函数，对于所述多个旋转线速度中的每一个，在所述光学存储装置（１０）的基本相同的相对小的段（１２） 上执行步骤（ａ）和（ｂ）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2004-3-23 04101200.61.一种在向光学存储装置(10)写入数据之前针对该光学存储装置(10)执行最佳功率控制的方法，所述方法包括针对所述光学存储装置(10)的多个旋转线速度通过下列步骤来执行最佳功率控制过程a.在所述光学存储装置(10)的一相对小的段(12)上执行测试写入；和b.在执行所述测试写入期间读回写入到所述光学存储装置(10)中的测试图案；以便获得一个将写入速度映射到功率的函数，对于所述多个旋转线速度中的每一个，在所述光学存储装置(10)的基本相同的相对小的段(12)上执行步骤(a)和(b)。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述相对小的段包括光学存储装置(10)的最外侧半径(12)。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中在光学存储装置(10)的最内侧(14)和最外侧半径(12)处都执行最佳功率控制过程。4.根据权利要求3所述的方法，其中所述最佳功率控制过程是以与最内侧半径相关的写入速度执...

【专利技术属性】
技术研发人员：TP范恩德特，JJA麦科马克，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]