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本发明提供了一种修正参与性介质影响的辐射测温方法。当受到参与性介质影响时，通过建立辐射测温正、反问题模型及辐射测温反问题迭代算法，借助介质辐射特征的相关辅助信息，实现对辐射测温仪在参与性介质影响下的实际测量温度值进行反演修正，得到被测表面温...
该专利属于北京科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京科技大学授权不得商用。

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