用于无接触式测量物体的方法技术

提供一种用于无接触式测量一个物体（６）的至少一维尺寸的方法，其中，对物体（６）在一个扫描射线场（１）空间上有限的作用区内进行扫描，并从扫描射线（Ｌ）一次或者多次中断的检测中推断出物体（６）所测量维内的尺寸。扫描射线场（１）由多个可直接寻址的单个射线（Ｌ）构成。扫描射线场（１）空间上有限的作用区的射线扫描在使用非线性搜索法的情况下按照可预先规定的步骤模式进行。一种优选的方法在于使用一种二分法。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种依据权利要求1前序部分所述。在工业生产过程中，常常需要以第一近似值确定物体在高度和/或者宽度和/或者长度上的伸展，以便对其在后面的运输、仓储和/或者加工步骤中相应予以考虑。例如在自动化的仓储系统中必须确定所要储存物体的高度。许多物体不能采用接触传感器或者这类装置进行测量，而是必须使用无接触式测量法。因此为这种自动化的测量过程使用例如由物体从其中穿过的光栅或者光幕。通过确定射线的中断进行测量，从中可以反推出在各自尺寸上的伸展。在高度测量时，物体一般从下面凸入光栅内，因为是将其在一个底板或者一个传送带上运送通过光栅或光幕。高度测量涉及找出最上部中断的或最下部不中断的光束。为此顺序扫描光栅或光幕中的单个光束以确定中断。光束扫描在于激活一个发射元件并同时对与其面对面布置的用于所发射光束的接收元件进行计值。扫描或搜索的理论上的持续时间，即根据每个光束的扫描时间乘以光束的数量n加上计值时间产生搜索时间。为此依据公式t搜索＝t光束扫描×n+t计值可能会出现所要自动测量的物体恰好进入刚刚扫描后的扫描射线检测范围内。为消除这种误差源而又识别物体，整个光栅必须进行第二次扫描。因此本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于无接触式测量物体（６；１６）至少一维尺寸的方法，其中，对物体（６；１６）在一个扫描射线场（１；１１）空间上有限的作用区域内进行扫描，并从扫描射线一次或者多次中断的探测中推断出物体（６；１６）所测量维内的尺寸，其特征在于，扫描射线场由多个可直接寻址的单个射线（Ｌ；Ｐ）构成，按照可预先规定的步骤模式进行扫描并为扫描使用一种非线性搜索法。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：B德科伊，
申请(专利权)人：塞德斯股份公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]