一种测量直线导轨精度的非接触式测量方法技术

本发明专利技术公开了一种测量直线导轨精度的装置及非接触式测量方法，所述装置包括测量架体、设置在测量架体上的测量传感器和高精度平尺，所述高精度平尺和被测导轨均穿过测量架体，测量传感器的数量为七个，其中第一测量传感器和第二测量传感器分别对准高精度平尺的顶面和侧面，第三测量传感器对准被测导轨的基准侧面，第四测量传感器对准被测导轨的基准底面，第五测量传感器对准被测导轨的非基准侧面，第六测量传感器和第七测量传感器同时对准被测导轨的顶面，该两个测量传感器关于被测导轨的中心面对称。本发明专利技术采用绝对测量与相对测量相结合，并使用非接触式测量传感器获得高精度的测量值，具有通用性好，效率高等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于直线导轨测量领域，特别是一种测量直线导轨精度的装置及非接触式测量方法。
技术介绍
目前，直线导轨精度测量大多采用手工测量或接触式传感器进行测量，手工测量导轨滚道平行度时，将导轨装夹在测量平板的夹具上，将表座与导轨侧基准面和导轨安装平面对齐，并将表头对准导轨滚道面上，然后移动表座进行测量，测量的最大和最小值的差值即为导轨滚道平行度误差，该方法需要繁琐的装夹工作，对试验员素质要求高且测量结果重复性差；中国专利技术公开号CN103438839A，名称为：一种直线导轨精度自动测量装置及其测量方法，该专利介绍了使用气动接触式传感器测量导轨精度，该传感器是在接触式传感器上加装了气动部件，使其在非工作期间不接触被测物体，测量时加装了该种传感器的标准滑块以一定的距离间隔移动，实现对被测导轨高度和平行度的测量，但是该方法测量不同型号导轨时需要制作相应的标准导轨和标准滑块，增加经济成本和维护费用。综上所述，现阶段使用的各种导轨精度测量仪器覆盖的测量项目少，尤其是针对滚道相关精度的测量较少，测量效率与测量精度、重复性都有待提高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测量滚动直线导轨精度的装置及非接触式测量方法。实现本专利技术目的的技术解决方案为：一种测量直线导轨精度的装置，包括测量架体、设置在测量架体上的测量传感器和高精度平尺，所述高精度平尺和被测导轨均穿过测量架体，测量传感器的数量为七个，其中第一测量传感器和第二测量传感器分别对准高精度平尺的顶面和侧面，第三测量传感器对准被测导轨的基准侧面，第四测量传感器对准被测导轨的基准底面，第五测量传感器对准被测导轨的非基准侧面，第六测量传感器和第七测量传感器同时对准被测导轨的顶面，该两个测量传感器关于被测导轨的中心面对称。一种基于上述装置的非接触式测量方法，包括以下步骤：步骤1、构建坐标系，具体为：沿被测导轨长度方向为X轴，沿被测导轨宽度方向为Y轴，沿与被测导轨底面基准垂直方向为Z轴；步骤2、测量平台相对被测导轨运动，在运动过程中测量传感器实时采集被测导轨的数据。步骤3、对测量传感器采集到的数据进行分离处理，将数据分为沿X轴运动时的测量数据和沿Z轴运动时的测量数据；步骤4、对测量传感器的测量数据进行运动补偿；步骤5、对第三测量传感器和第五测量传感器沿Z轴运动时的测量数据进行处理，获得导轨截面上滚道圆弧的半径和圆心；步骤6、计算被测导轨精度误差，具体包括滚道半径、滚道平行度、滚道直线度、侧面基准直线度、底面基准直线度、等高、等宽和扭曲。本专利技术与现有技术相比，其显著优点为：1)本专利技术的装置进行测量时，无需用多个螺栓固定，直接放置利用凸轮自动固定即可，试验效率高，安装方便，某种程度上减小了安装成本；2)本专利技术的测量装置在运动过程中能利用多个传感器测量数据并处理分析，是动态精度测量，更符合实际测量情况；3)本专利技术在进行测试时操作简单，效率高，重复性强，经济实用性强，且利于推广；4)通过激光位移传感器的及时测量，反应了被测导轨全面且又精准的尺寸数据，测试数据连续可靠；5)本专利技术的测量方式与国际接轨，更加先进可靠。附图说明图1为测量滚动直线导轨精度的装置的传感器布局图。具体实施方式结合图1，一种测量直线导轨精度的装置，包括测量架体1、设置在测量架体上的测量传感器和高精度平尺3，所述高精度平尺3和被测导轨4均穿过测量架体1，测量传感器的数量为七个，其中第一测量传感器2-1和第二测量传感器2-2分别对准高精度平尺3的顶面和侧面，第三测量传感器2-3对准被测导轨4的基准侧面，第四测量传感器2-4对准被测导轨4的基准底面，第五测量传感器2-5对准被测导轨4的非基准侧面，第六测量传感器2-6和第七测量传感器2-7同时对准被测导轨4的顶面，该两个测量传感器关于被测导轨4的中心面对称。所述七个测量传感器位于同一平面上。所述被测导轨4与高精度平尺3相互平行。所述测量架体4运动时的位置Xt通过位置传感器获得，其中t为时间变量。一种基于上述装置的非接触式测量方法，包括以下步骤：步骤1、构建坐标系，具体为：沿被测导轨长度方向为X轴，沿被测导轨宽度方向为Y轴，沿与被测导轨底面基准垂直方向为Z轴；步骤2、测量平台相对被测导轨4运动，在运动过程中测量传感器实时采集被测导轨4的数据。测量平台相对被测导轨4运动时，包括沿X轴的直线运动和沿Z轴的直线运动，上述两轴运动相互独立，每当沿X轴运动到设定距离Si＝i·L时，停止该方向的运动，启动沿Z轴的往返运动，行程为2h，如此运动至到达设定行程为止；其中L为单位移动间隔，h为被测导轨高度，(i＝1,2...m-1)，m为间隔数；其中第一测量传感器2-1、第二测量传感器2-2、第三测量传感器2-3、第四测量传感器2-4、第五测量传感器2-5、第六测量传感器2-6和第七测量传感器2-7对准的测量点分别为P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7；7个测量传感器实时记录测量距离，分别为S1{s1(xt,zt)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量直线导轨精度的装置，其特征在于，包括测量架体[1]、设置在测量架体上的测量传感器和高精度平尺[3]，所述高精度平尺[3]和被测导轨[4]均穿过测量架体[1]，测量传感器的数量为七个，其中第一测量传感器[2‑1]和第二测量传感器[2‑2]分别对准高精度平尺[3]的顶面和侧面，第三测量传感器[2‑3]对准被测导轨[4]的基准侧面，第四测量传感器[2‑4]对准被测导轨[4]的基准底面，第五测量传感器[2‑5]对准被测导轨[4]的非基准侧面，第六测量传感器[2‑6]和第七测量传感器[2‑7]同时对准被测导轨[4]的顶面，该两个测量传感器关于被测导轨[4]的中心面对称。

【技术特征摘要】
1.一种测量直线导轨精度的装置，其特征在于，包括测量架体[1]、设置在测量架体上的测量传感器和高精度平尺[3]，所述高精度平尺[3]和被测导轨[4]均穿过测量架体[1]，测量传感器的数量为七个，其中第一测量传感器[2-1]和第二测量传感器[2-2]分别对准高精度平尺[3]的顶面和侧面，第三测量传感器[2-3]对准被测导轨[4]的基准侧面，第四测量传感器[2-4]对准被测导轨[4]的基准底面，第五测量传感器[2-5]对准被测导轨[4]的非基准侧面，第六测量传感器[2-6]和第七测量传感器[2-7]同时对准被测导轨[4]的顶面，该两个测量传感器关于被测导轨[4]的中心面对称。2.根据权利要求1所述的测量直线导轨精度的装置，其特征在于，所述七个测量传感器位于同一平面上。3.根据权利要求1所述的测量直线导轨精度的装置，其特征在于，被测导轨[4]与高精度平尺[3]相互平行。4.根据权利要求1所述的测量直线导轨精度的装置，其特征在于，测量架体[4]运动时的位置Xt通过位置传感器获得，其中t为时间变量。5.一种基于权利要求1所述装置的非接触式测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、构建坐标系，具体为：沿被测导轨长度方向为X轴，沿被测导轨宽度方向为Y轴，沿与被测导轨底面基准垂直方向为Z轴；步骤2、测量平台相对被测导轨...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧屹，王柳，冯虎田，
申请(专利权)人：南京理工大学，张家港斯克斯精密机械科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32