【技术实现步骤摘要】
存储器系统和存储器系统的操作方法相关申请的交叉引用要求于2018年12月11日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2018-0159269号的优先权，其全部内容通过引用结合于此。
本文描述的本专利技术构思涉及一种半导体设备，并且更具体地涉及执行用于放大错误以检查磨损程度的检查读取操作的存储器系统、以及存储器系统的操作方法。
技术介绍
存储器系统可以包括各种半导体存储器设备。例如，半导体存储器设备可以包括在断电时丢失数据的易失性存储器设备，例如静态随机存取存储器(SRAM)或动态随机存取存储器(DRAM)。半导体存储器设备还可以包括在断电时保留数据的非易失性存储器设备，例如像闪存、相变存储器、铁电存储器、磁存储器或电阻存储器。由于重复对半导体存储器设备的访问，所以半导体存储器设备和/或存储在半导体存储器设备中的数据可能劣化。随着劣化进行，存储在半导体存储器设备中的数据的完整性的可靠性降低。在传统的半导体存储器设备中，可以通过监视存储在半导体存储器设备中的数据的错误增加的趋势来监视劣化程度。...
【技术保护点】
1.一种存储器系统，包括：/n包括存储器单元的存储器设备；以及/n控制器，被配置为对存储器设备执行写入操作、读取操作和检查操作，/n其中，在检查操作期间，控制器还被配置为：/n控制存储器设备以通过使用检查电平从存储器单元中的目标存储器单元读取检查数据，/n将检查数据与存储在目标存储器单元中的原始数据进行比较以提供比较结果，以及/n基于比较结果确定目标存储器单元或检查数据的可靠性。/n
【技术特征摘要】
20181211 KR 10-2018-01592691.一种存储器系统，包括：
包括存储器单元的存储器设备；以及
控制器，被配置为对存储器设备执行写入操作、读取操作和检查操作，
其中，在检查操作期间，控制器还被配置为：
控制存储器设备以通过使用检查电平从存储器单元中的目标存储器单元读取检查数据，
将检查数据与存储在目标存储器单元中的原始数据进行比较以提供比较结果，以及
基于比较结果确定目标存储器单元或检查数据的可靠性。
2.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，目标存储器单元存储原始数据和纠错奇偶校验，以及
其中，控制器被配置为从检查数据中移除与纠错奇偶校验对应的部分以生成第二检查数据，并将第二检查数据与原始数据进行比较。
3.根据权利要求2所述的存储器系统，其中，控制器被配置为不对检查数据执行纠错解码。
4.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，在检查操作期间，控制器还被配置为：
控制存储器设备以通过使用普通读取电平从目标存储器单元读取第一数据；以及
对第一数据执行纠错解码以获得原始数据。
5.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，控制器被配置为周期性地从存储器单元中选择目标存储器单元，然后对选择的目标存储器单元执行检查操作。
6.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，控制器被配置为在特定时间从存储器单元中选择目标存储器单元，然后对选择的目标存储器单元执行检查操作。
7.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，控制器被配置为以随机间隔从存储器单元中选择目标存储器单元，然后对选择的目标存储器单元执行检查操作。
8.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，在对从存储器单元中选择的存储器单元执行写入操作和读取操作中的任一者之后，控制器被配置为将选择的存储器单元指定为针对检查操作的目标存储器单元。
9.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，在对从存储器单元中选择的存储器单元执行写入操作和读取操作中的任一者之后，控制器被配置为将与选择的存储器单元邻近的存储器单元指定为针对检查操作的目标存储器单元。
10.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，在对从存储器单元中选择的存储器单元执行写入操作和读取操作中的任一者之后，控制器被配置为将包括选择的存储器单元的特定区域中的存储器单元指定为针对检查操作的目标存储器单元。
11.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，控制器被配置为针对检查操作随机指定存储器单元中的目标存储器单元。
12.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，检查电平包括第一检查电平和第二检查电平，并且检查数据包括第一检查数据和第二检查数据，以及
其中，控制器被配置为通过使用第一检查电平以及通过使用第二检查电...
【专利技术属性】
技术研发人员：慎钒揆，文贵妍，朴成奎，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR
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