【技术实现步骤摘要】
组件测试方法及其结构
本专利技术涉及组件测试领域，尤其涉及一种组件测试方法及其结构。
技术介绍
半导体的封装(package)与组件测试(test)为后端制程中最重要的环节，良好的封装与组件测试能够避免过低的组件良率而导致半导体制造商的竞争力下降。然而，在现行技术中，进行完组件测试后，若想找出测试结果有异常的组件，需要从等级分类盒中再次进行组件分析或是识别码识别等方式后，才能找出异常的组件，这将浪费大量的时间和测试人员的资源。因此，为了能够追踪组件于组件测试后的位置，以提高解决异常组件的效率，有必要提供一种组件测试方法及其结构。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种组件测试方法及其结构，进而追踪组件于组件测试后的位置，以提高解决异常组件的效率。为了实现上述目的，本专利技术第一方面提供一种组件测试方法，包括以下步骤：提供具有各别组件编号的组件；将所述组件装载于测试托盘，根据所述测试托盘上的组件位置与所述组件编号，对所述组件生成测试托盘映射表；以及对所述测试托盘上的所述组...
【技术保护点】
1.一种组件测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/n提供具有各别组件编号的组件；/n将所述组件装载于测试托盘，根据所述测试托盘上的组件位置与所述组件编号，对所述组件生成测试托盘映射表；以及/n对所述测试托盘上的所述组件进行组件测试，并于组件测试完成后，依据所述测试托盘映射表，对所述组件的测试结果加入对应的所述组件位置与所述组件编号讯息，用以供后续依据所述组件编号快速找到所述组件。/n
【技术特征摘要】
1.一种组件测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
提供具有各别组件编号的组件；
将所述组件装载于测试托盘，根据所述测试托盘上的组件位置与所述组件编号，对所述组件生成测试托盘映射表；以及
对所述测试托盘上的所述组件进行组件测试，并于组件测试完成后，依据所述测试托盘映射表，对所述组件的测试结果加入对应的所述组件位置与所述组件编号讯息，用以供后续依据所述组件编号快速找到所述组件。
2.根据权利要求1所述的组件测试方法，其特征在于：
当所述组件装载于所述测试托盘后，通过编号视觉系统对所述组件编号进行扫描，以生成所述测试托盘映射表。
3.根据权利要求2所述的组件测试方法，其特征在于：
所述测试托盘映像表系通过通讯连接线传送给组件测试器。
4.根据权利要求3所述的组件测试方法，其特征在于：所述通讯连接线为通用接口总线。
5.根据权利要求1所述的组件测试方法，其特征在于，在对所述测试托盘上的所述组件进行组件测试后还包括以下步骤：
将所述测试托盘上的所述组件进行分类并装载于等级分类盒，根据所述组件在所述等级分类盒上的组件位置与所述组件编号生成等级分类盒映射表，用以供分类并装载于等级分类盒后依据所述组件编号快速找到所述组件。
6.根据权利要求5所述的组件测试方法，其特征在于：
当所述组件装载于所述等级分类...
【专利技术属性】
技术研发人员：何泉，夏方圆，黄雪青，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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