一种激光模组测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种激光模组测试装置，包括：外壳；输出模块；电路板，所述电路板上设置有主芯片控制模块，第一测试模块以及第二测试模块；其中，所述第一输出模块包括有第一输出模块以及第一采集模块，所述第一输出模块通过所述第一输出接口与所述激光模组内的光敏模块电连接，所述第一采集模块用于采集所述光敏模块的第一电流信息；所述第二测试模块包括第二输出模块以及第二采集模块，所述第二输出模块通过所述第二输出接口与所述激光模组的激光模块电连接，所述第二采集模块用于采集所述激光模块的第二电压信息；所述主芯片控制模块分别与所述第一测试模块以及第二测试模块电连接。本发明专利技术实施例提供的激光模组测试装置能够方便测试激光模组。

A laser module testing device

【技术实现步骤摘要】
一种激光模组测试装置
本专利技术属于摄像头测试领域，特别涉及一种激光模组测试装置。
技术介绍
随着TOF及3D结构光技术被广泛应用手机激光模组上，成为越来越多手机的标配，需要专门的测试盒对这类模组在自动化测试机台上测试。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了激光模组的测试装置。本专利技术实施例提供的激光模组的测试装置，包括：外壳；输出模块，所述输出模块设置在所述外壳上，所述输出模块包括第一输出接口以及第二输出接口；电路板，所述电路板设置在所述外壳内，所述电路板上设置有主芯片控制模块，第一测试模块以及第二测试模块；其中，所述第一测试模块与所述第一输出接口电连接，所述第一输出模块包括有第一输出模块以及第一采集模块，所述第一输出模块通过所述第一输出接口与所述激光模组内的光敏模块电连接，以给所述光敏模块提供第一电压，所述第一采集模块用于采集所述光敏模块的第一电流信息；所述第二测试模块与所述第二输出接口电连接，所述第二测试模块包括第二输出模块以及第二采集模块，所述第二输出模块通过所述第二输出接口与所述激光模组的激光模块电连接，以给所述激光模块提供第二电流，所述第二采集模块用于采集所述激光模块的第二电压信息；所述主芯片控制模块分别与所述第一测试模块以及第二测试模块电连接，以控制所述第一测试模块以及所述第二测试模块。本专利技术实施例提供的激光模组的测试装置，适合自动化批量测试。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的激光模组测试装置的结构框架示意图；图2是本专利技术实施例提供激光模组的结构框架示意图；图3是本专利技术实施例提供的激光模组测试装置的结构示意图。具体实施方式以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本专利技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本专利技术。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本专利技术的描述。为了说明本专利技术所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。如图1-2所示，是本专利技术实施例提供的一种激光模组测试装置以及激光模组的结构框架示意图。如图2所示，是本专利技术实施例提供的激光模组示例性的结构框架示意图。本专利技术实施例所述激光模组，又称为激光二极管模组，是有由一个激光二极管(LD)和光敏探测二极管(PD)组成。进一步的，带温控的激光二极管模组还可以包括一个半导体制冷器(thermoelectriccontroller，TEC)和一个热敏电阻以便对激光二极管工作温度进行精确调节。如图1所示，本专利技术实施例提供的激光模组的测试装置的结构框架示意图。所述激光模组的测试装置包括有外壳，所述外壳具体可以是金属、陶瓷或者塑料制成，所述外壳用于固定或密封所述激光模组测试装置的其他部件。如图1所示，所述激光模组的测试装置可以包括有通信模块，具体的，所述通信模块可以包括但不限于网口、I2C接口或触发接口中的一种或多种；所述通信模块也可以包括其他类型的接口，以与外部设备或者上位机通信。所述激光模组还包括有输出模块，所述输出模块设置在所述外壳上，所述输出模块包括有第一输出接口以及第二输出接口。具体的，所述第一输出接口可以包括有1个或1个以上的导电端口，一种示例性的实施方案，所述第一输出接口包括有1个以上的导电端口，所述1个以上的导电端口可以并排排列。所述第二输出接口可以包括有有1个或1个以上的导电端口，一种示例性的实施方案，所述第二输出接口包括有1个以上的导电端口，所述1个以上的导电端口可以并排排列。所述激光模组的测试装置还包括有电路板，所述电路板包括有主芯片控制模块，所述主芯片控制模块用于对其他模块进行电路控制，以输出相对应的电流或者电压。本专利技术实施例的主芯片可以是MCU(微控制单元MicrocontrollerUnit)，也可以是其他类型的CPU(中央处理器(centralprocessingunit)。所述主芯片控制模块与其他测试模块电连接，来控制其他测试模块对所述激光模组进行测试。一种具体的实施方案，所述主芯片控制模块控制其他模块提供电流或者电压，来激发激光模组内部对应的模块，并采集相应的电流或电压信息，来确定所述激光模组中的各个模块是否正常工作。本专利技术实施例提供的激光模组的测试装置，所述电路板还包括有第一测试模块。所述第一测试模块与所述第一输出接口电连接，所述第一输出接口与所述激光模组中的一个模块进行电连接。一种示例性的实施方案，所述第一测试模块与所述激光模组的光敏模块电连接。为所述光敏模块提供第一电压。所述第一测试模块包括有第一输出模块以及第一采集模块。如图2所示，所述第一输出模块为所述激光模组的光敏模块提供第一电压，所述第一采集模块收集所述光敏模块在第一电压下的电流信息。一种具体的实施方案，所述第一输出模块为第一恒压源模块，所述第一电压为第一恒压电压，即所述第一输出模块为所述光敏模块输出恒定的第一电压。本专利技术实施例提供的激光模组的测试装置内的电路板，还包括有第二测试模块。所述第二测试模块与所述第二输出接口电连接，并通过第二输出接口与所述激光模组的激光模块电连接。所述第二测试模块包括第二输出模块以及第二采集模块。所述第二输出模块通过所述第二输出接口与所述激光模组的激光模块电连接，以给所述激光模块提供第二电流，所述第二采集模块用于采集所述激光模块的第二电压信息。一种具体的实施方案，所述第二输出模块为恒流源输出模块，所述第二电流为恒流电流，即所述第二输出模块为所述激光模块提供恒定的电流。一种具体的实施方案，第二电流为脉冲式恒流电流，这样可以控制激光模组的发光时间以及状态。一种示例性的实施方案，在所述第二测试模块为所述激光模组提供第二电流前后的信息，即所述光敏模块接收到激光模组发射光线前的电流信息，以及所述光敏模块接收到激光模组发射光线后的电流信息。一种具体的实施方案，首先用第二测试模块导通所述激光模块，即为所述激光二极管给定电流(例如恒定电流)，此时激光二极管被点亮，第二测试模块中的第二采集模块(例如电压采集模块)对激光二极管的电压信息进行采集，例如压降信息进行采集。在第二测试模块导通所述激光模块，分别使用第一测试模块中的第一输出模块(例如第一恒压源模块)对光敏二极管施加电压(例如恒压电压)。此时光敏二极管接收到激光二极管发出的激光，此时光敏二极管阻值改变，电流采集模块检测此时对应的光电流值。使用第一测试模块中的第一输出模块(例如第一恒压源模块)对光敏二极管(光电探测器)施加(恒定)电压，而不使用恒流源模块对激光模组内的激光二极管给定恒定电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光模组测试装置，其特征在于，包括：/n外壳；/n输出模块，所述输出模块设置在所述外壳上，所述输出模块包括第一输出接口以及第二输出接口；/n电路板，所述电路板设置在所述外壳内，所述电路板上设置有主芯片控制模块，第一测试模块以及第二测试模块；/n其中，所述第一测试模块与所述第一输出接口电连接，所述第一输出模块包括有第一输出模块以及第一采集模块，所述第一输出模块通过所述第一输出接口与所述激光模组内的光敏模块电连接，以给所述光敏模块提供第一电压，所述第一采集模块用于采集所述光敏模块的第一电流信息；/n所述第二测试模块与所述第二输出接口电连接，所述第二测试模块包括第二输出模块以及第二采集模块，所述第二输出模块通过所述第二输出接口与所述激光模组的激光模块电连接，以给所述激光模块提供第二电流，所述第二采集模块用于采集所述激光模块的第二电压信息；/n所述主芯片控制模块分别与所述第一测试模块以及第二测试模块电连接，以控制所述第一测试模块以及所述第二测试模块。/n

【技术特征摘要】
1.一种激光模组测试装置，其特征在于，包括：
外壳；
输出模块，所述输出模块设置在所述外壳上，所述输出模块包括第一输出接口以及第二输出接口；
电路板，所述电路板设置在所述外壳内，所述电路板上设置有主芯片控制模块，第一测试模块以及第二测试模块；
其中，所述第一测试模块与所述第一输出接口电连接，所述第一输出模块包括有第一输出模块以及第一采集模块，所述第一输出模块通过所述第一输出接口与所述激光模组内的光敏模块电连接，以给所述光敏模块提供第一电压，所述第一采集模块用于采集所述光敏模块的第一电流信息；
所述第二测试模块与所述第二输出接口电连接，所述第二测试模块包括第二输出模块以及第二采集模块，所述第二输出模块通过所述第二输出接口与所述激光模组的激光模块电连接，以给所述激光模块提供第二电流，所述第二采集模块用于采集所述激光模块的第二电压信息；
所述主芯片控制模块分别与所述第一测试模块以及第二测试模块电连接，以控制所述第一测试模块以及所述第二测试模块。


2.如权利要求1所述的激光模组测试装置，其特征在于，所述第一输出模块为第一恒压源输出模块，第一电压为第一恒压电压。


3.如权利要求1所述的激光模组测试装置，其特征在于，所述第二输出模块为恒流源输出模块，所述第二电流为恒流电流。


4.如权利要求3所述的激光模组测试装置，其特征在于，所述第二电流为脉冲式恒流电流。


5.如权利要求1所述的激光模组测试装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋思远，张浩，
申请(专利权)人：深圳市度信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44