本发明专利技术涉及半导体领域，尤其是一种半导体发光二极管测试装置，包括机身以及固定在所述机身底壁四个边角的支架，所述机身内设置有上下贯通的转动腔，所述转动腔内可转动的设置有转动架，所述转动腔后侧端壁内设置有啮合腔，所述啮合腔与所述转动腔之间转动设置有与所述转动架固定连接的第一转轴，所述啮合腔内的所述第一转轴末端固定设置有第一齿轮，本发明专利技术提供的一种半导体发光二极管测试装置，能够实现发光二极管的通电测试，并将测试后能够发光与不能发光的二极管进行分离，设备自动化程度高，能够自动测试，并自动分类，节省大量人力，降低检测成本。
A semiconductor LED testing device
【技术实现步骤摘要】
一种半导体发光二极管测试装置
本专利技术涉及半导体领域，尤其是一种半导体发光二极管测试装置。
技术介绍
在发光二极管生产过程中，二极管有一定的损坏率，如何将不能工作的发光二极管从好的二极管中分离出来给工作人员造成了不小的困扰，传统的检测方式利用人力对二极管逐个通电，观察通电后状态，从而实现区分，但这样效率极低，而且浪费人力成本，因此有必要设置一种半导体发光二极管测试装置改善上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种半导体发光二极管测试装置，能够克服现有技术的上述缺陷，从而提高设备的实用性。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：本专利技术的一种半导体发光二极管测试装置，包括机身以及固定在所述机身底壁四个边角的支架，所述机身内设置有上下贯通的转动腔，所述转动腔内可转动的设置有转动架，所述转动腔后侧端壁内设置有啮合腔，所述啮合腔与所述转动腔之间转动设置有与所述转动架固定连接的第一转轴，所述啮合腔内的所述第一转轴末端固定设置有第一齿轮，所述啮合腔后侧端壁内设置有用于驱动所述转动架转动的动力装置，所述转动架内设置有开口向前的检测腔，所述转动架内转动设置有环形分布的八个转动块，所述转动块远离所述检测腔一侧端壁内设置有固定腔，所述固定腔与所述检测腔之间连通设置有对称设置的两个插槽，所述转动腔前侧端壁上固定设置有凸台，所述凸台左侧端壁内设置有开口向左的第一滑动槽，所述第一滑动槽内可滑动的设置有第一滑动杆，所述第一滑动杆左侧端壁内固定设置有第一电机，所述第一电机输出轴末端固定设置有用于发光二极管接电的接电块，所述第一滑动槽端壁上固定设置有上下对称的第一触点以及前后对称的与所述第一触点极性相反的第二触点，所述第一滑动杆上下端壁内对称设置有可与所述第一触点以及第二触点电联的第三触点，所述第一滑动杆与所述第一滑动槽右侧端壁间设置有处于压缩状态的第一弹簧，所述第一滑动槽右侧端壁内固定设置有第一电磁铁，所述第一滑动槽上下端壁内设置有用于所述第一滑动杆锁定的锁定装置，所述转动架每转动八分之一，所述锁定装置对所述第一滑动杆解锁，此时所述第一滑动杆在所述第一弹簧作用下左移将所述固定腔内放置的二极管通电，所述转动腔左侧端壁内设置有开口向右的导滑槽，所述导滑槽内可滑动的设置有固定块，所述固定块右侧端壁上固定设置有吸盘，所述导滑槽内设置的吸附装置，所述吸附装置在所述导滑槽上下端壁内对称设置的光敏元件未检测到光照时将二极管吸附左移，从而将不发光二极管与发光二极管区分。进一步地，所述动力装置包括所述啮合腔后侧端壁内设置的开口向前的滑动腔，所述滑动腔内可滑动的设置有滑动块，所述滑动块前侧端壁内固定设置有第二电机，所述第二电机输出轴末端固定设置有与所述第一齿轮啮合的第二齿轮，所述滑动腔右侧端壁内固定设置有第二电磁铁，所述第二电磁铁在所述接电块左移时带动所述滑动块左移，同时在所述接电块右移时带动所述滑动块右移。进一步地，所述锁定装置包括所述第一滑动槽上下端壁内对称设置有连通所述检测腔的第二滑动槽，所述第二滑动槽内可滑动的设置有末端伸入所述第一滑动杆上下端壁内对称设置的锁定槽内的第二滑动杆，所述第二滑动杆内设置有左右贯通的斜槽，所述第二滑动杆与所述凸台上下端壁间设置有第二弹簧，所述凸台右侧端壁内设置有开口向右的顶推腔，所述顶推腔左侧端壁内上下对称设置有开口向右的第三滑动槽，所述第三滑动槽内可滑动的设置有第三滑动杆，所述第三滑动杆右侧末端与所述顶推腔内可滑动的设置的顶推块固定连接，所述顶推块与所述凸台左侧端壁间设置有第三弹簧，所述顶推腔后侧端壁内可转动的设置有第二转轴，所述第二转轴外表面固定设置有与所述检测腔端壁内中心对称设置的齿条啮合的第三齿轮，所述第三齿轮与所述顶推腔后侧端壁间设置有扭簧，所述顶推腔前侧端壁内可转动的设置有第三转轴，所述第三转轴与所述第二转轴之间设置有棘轮装置，所述第三转轴外表面固定设置有用于顶推所述顶推块的第一凸轮。进一步地，所述吸附装置包括所述啮合腔前侧端壁内设置的凸轮腔，所述凸轮腔与所述啮合腔之间可转动的设置有第四转轴，所述凸轮腔内的所述第四转轴外表面固定设置有第二凸轮，所述啮合腔内的所述第四转轴末端固定设置有可与所述第二齿轮啮合的第四齿轮，所述凸轮腔与所述导滑槽之间连通设置有第四滑动槽，所述第四滑动槽内可滑动的设置有与所述固定块固定连接的第四滑动杆，所述固定块与所述导滑槽左侧端壁间设置有第四弹簧，所述固定块内设置有三通孔，所述固定块左侧端壁内开口向左设置有贯穿所述三通孔的第五滑动槽，所述第五滑动槽内可滑动的设置有第五滑动杆，所述第五滑动杆与所述第五滑动槽右侧端壁间设置有第五弹簧，所述第五滑动杆内设置有上下贯通的通孔，所述导滑槽底壁内设置有连通所述机身外部的落料槽。本专利技术的有益效果：本专利技术提供的一种半导体发光二极管测试装置，能够实现发光二极管的通电测试，并将测试后能够发光与不能发光的二极管进行分离，设备自动化程度高，能够自动测试，并自动分类，节省大量人力，降低检测成本。附图说明为了更清楚地说明专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1是本专利技术的一种半导体发光二极管测试装置整体结构示意图。图2是图1中A-A的结构示意图。图3是图1中B的放大结构示意图。图4是图1中C的放大结构示意图。具体实施方式下面结合图1-4对本专利技术进行详细说明，其中，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。结合附图1-4所述的一种半导体发光二极管测试装置，包括机身10以及固定在所述机身10底壁四个边角的支架28，所述机身10内设置有上下贯通的转动腔18，所述转动腔18内可转动的设置有转动架23，所述转动腔18后侧端壁内设置有啮合腔30，所述啮合腔30与所述转动腔18之间转动设置有与所述转动架23固定连接的第一转轴37，所述啮合腔30内的所述第一转轴37末端固定设置有第一齿轮36，所述啮合腔30后侧端壁内设置有用于驱动所述转动架23转动的动力装置99，所述转动架23内设置有开口向前的检测腔24，所述转动架23内转动设置有环形分布的八个转动块19，所述转动块19远离所述检测腔24一侧端壁内设置有固定腔20，所述固定腔20与所述检测腔24之间连通设置有对称设置的两个插槽21，所述转动腔18前侧端壁上固定设置有凸台63，所述凸台63左侧端壁内设置有开口向左的第一滑动槽59，所述第一滑动槽59内可滑动的设置有第一滑动杆58，所述第一滑动杆58左侧端壁内固定设置有第一电机25，所述第一电机25输出轴末端固定设置有用于发光二极管接电的接电块26，所述第一滑动槽59端壁上固定设置有上下对称的第一触点64以及前后对称的与所述第一触点64极性相反的第二触点65，所述第一滑本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种半导体发光二极管测试装置，包括机身以及固定在所述机身底壁四个边角的支架，其特征在于：所述机身内设置有上下贯通的转动腔，所述转动腔内可转动的设置有转动架，所述转动腔后侧端壁内设置有啮合腔，所述啮合腔与所述转动腔之间转动设置有与所述转动架固定连接的第一转轴，所述啮合腔内的所述第一转轴末端固定设置有第一齿轮，所述啮合腔后侧端壁内设置有用于驱动所述转动架转动的动力装置，所述转动架内设置有开口向前的检测腔，所述转动架内转动设置有环形分布的八个转动块，所述转动块远离所述检测腔一侧端壁内设置有固定腔，所述固定腔与所述检测腔之间连通设置有对称设置的两个插槽，所述转动腔前侧端壁上固定设置有凸台，所述凸台左侧端壁内设置有开口向左的第一滑动槽，所述第一滑动槽内可滑动的设置有第一滑动杆，所述第一滑动杆左侧端壁内固定设置有第一电机，所述第一电机输出轴末端固定设置有用于发光二极管接电的接电块，所述第一滑动槽端壁上固定设置有上下对称的第一触点以及前后对称的与所述第一触点极性相反的第二触点，所述第一滑动杆上下端壁内对称设置有可与所述第一触点以及第二触点电联的第三触点，所述第一滑动杆与所述第一滑动槽右侧端壁间设置有处于压缩状态的第一弹簧，所述第一滑动槽右侧端壁内固定设置有第一电磁铁，所述第一滑动槽上下端壁内设置有用于所述第一滑动杆锁定的锁定装置，所述转动架每转动八分之一，所述锁定装置对所述第一滑动杆解锁，此时所述第一滑动杆在所述第一弹簧作用下左移将所述固定腔内放置的二极管通电，所述转动腔左侧端壁内设置有开口向右的导滑槽，所述导滑槽内可滑动的设置有固定块，所述固定块右侧端壁上固定设置有吸盘，所述导滑槽内设置的吸附装置，所述吸附装置在所述导滑槽上下端壁内对称设置的光敏元件未检测到光照时将二极管吸附左移，从而将不发光二极管与发光二极管区分。/n...
【技术特征摘要】
1.一种半导体发光二极管测试装置，包括机身以及固定在所述机身底壁四个边角的支架，其特征在于：所述机身内设置有上下贯通的转动腔，所述转动腔内可转动的设置有转动架，所述转动腔后侧端壁内设置有啮合腔，所述啮合腔与所述转动腔之间转动设置有与所述转动架固定连接的第一转轴，所述啮合腔内的所述第一转轴末端固定设置有第一齿轮，所述啮合腔后侧端壁内设置有用于驱动所述转动架转动的动力装置，所述转动架内设置有开口向前的检测腔，所述转动架内转动设置有环形分布的八个转动块，所述转动块远离所述检测腔一侧端壁内设置有固定腔，所述固定腔与所述检测腔之间连通设置有对称设置的两个插槽，所述转动腔前侧端壁上固定设置有凸台，所述凸台左侧端壁内设置有开口向左的第一滑动槽，所述第一滑动槽内可滑动的设置有第一滑动杆，所述第一滑动杆左侧端壁内固定设置有第一电机，所述第一电机输出轴末端固定设置有用于发光二极管接电的接电块，所述第一滑动槽端壁上固定设置有上下对称的第一触点以及前后对称的与所述第一触点极性相反的第二触点，所述第一滑动杆上下端壁内对称设置有可与所述第一触点以及第二触点电联的第三触点，所述第一滑动杆与所述第一滑动槽右侧端壁间设置有处于压缩状态的第一弹簧，所述第一滑动槽右侧端壁内固定设置有第一电磁铁，所述第一滑动槽上下端壁内设置有用于所述第一滑动杆锁定的锁定装置，所述转动架每转动八分之一，所述锁定装置对所述第一滑动杆解锁，此时所述第一滑动杆在所述第一弹簧作用下左移将所述固定腔内放置的二极管通电，所述转动腔左侧端壁内设置有开口向右的导滑槽，所述导滑槽内可滑动的设置有固定块，所述固定块右侧端壁上固定设置有吸盘，所述导滑槽内设置的吸附装置，所述吸附装置在所述导滑槽上下端壁内对称设置的光敏元件未检测到光照时将二极管吸附左移，从而将不发光二极管与发光二极管区分。
2.如权利要求1所述一种半导体发光二极管测试装置，其特征在于：所述动力装置包括所述啮合腔后侧端壁内设置的开口向前的滑动腔，所述滑动腔内可滑动的设置有滑动块，所述滑动块前侧端壁内固定设置有第二电机，所述第二电机输出轴末端固定设置有与所述第一齿轮啮合...
【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：青田林心半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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