一种集成电路测试方法技术

本发明专利技术涉及集成电路测试领域,公开了一种集成电路测试方法，在进行跳变测试时，先确定集成电路输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，即大步距调节信号源输入集成电路的信号值，直至集成电路的输出管脚出现状态跳变，然后将信号源的输出信号值后退两个大步距，接着小步距调节信号源的输出信号值，直至集成电路的输出管脚再次出现跳变，此时信号源的输出信号值便是测量结果。本发明专利技术通过先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，然后在区间内小步距调节信号源的输出信号，进而在保证测试精确度的同时减少测试时间，提高测试效率。

An integrated circuit test method

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试方法
本专利技术涉及集成电路测试领域，具体涉及一种集成电路测试方法。
技术介绍
在对集成电路特别是模拟量芯片进行跳变测试时，会先给芯片一个连续变化的输入值，然后记录芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值，其中输入值可以是电压和电流。现有测试方法在测试时输入值在规格下限和规格上限之间是小步距调节，即输入值从规格下限值开始，每次微量变化，直至芯片输出管脚发生状态跳变或者到达规格上限。但此方法在实际测试时由于输入值每次变化量较小，测试效率较低，如果增加输入值的变化量，芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值会不准确，影响测试精确度。
技术实现思路
鉴于
技术介绍
的不足，本专利技术是提供了一种集成电路测试方法，所要解决的技术问题是在不影响测量精确度的情况下，提高集成电路跳变测试的测试效率。为解决以上技术问题，本专利技术提供了如下技术方案：一种集成电路测试方法，包括以下步骤：S1：集成电路的输入管脚接入信号源，信号源向集成电路输入的信号可调；S2：测试开始，调节信号源的输出信号值至测量起始值本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于：包括以下步骤：/nS1：集成电路的输入管脚接入信号源，所述信号源向集成电路输入的信号可调；/nS2：测试开始，调节所述信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前所述信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；/nS3：将所述信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；/nS4：再次测试，调节所述信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1：集成电路的输入管脚接入信号源，所述信号源向集成电路输入的信号可调；
S2：测试开始，调节所述信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前所述信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；
S3：将所述信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；
S4：再次测试，调节所述信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步...

【专利技术属性】
技术研发人员：周国成，
申请(专利权)人：无锡矽鹏半导体检测有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32