一种集成电路测试方法技术

本发明专利技术涉及集成电路测试领域,公开了一种集成电路测试方法，在进行跳变测试时，先确定集成电路输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，即大步距调节信号源输入集成电路的信号值，直至集成电路的输出管脚出现状态跳变，然后将信号源的输出信号值后退两个大步距，接着小步距调节信号源的输出信号值，直至集成电路的输出管脚再次出现跳变，此时信号源的输出信号值便是测量结果。本发明专利技术通过先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，然后在区间内小步距调节信号源的输出信号，进而在保证测试精确度的同时减少测试时间，提高测试效率。

An integrated circuit test method

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试方法
本专利技术涉及集成电路测试领域，具体涉及一种集成电路测试方法。
技术介绍
在对集成电路特别是模拟量芯片进行跳变测试时，会先给芯片一个连续变化的输入值，然后记录芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值，其中输入值可以是电压和电流。现有测试方法在测试时输入值在规格下限和规格上限之间是小步距调节，即输入值从规格下限值开始，每次微量变化，直至芯片输出管脚发生状态跳变或者到达规格上限。但此方法在实际测试时由于输入值每次变化量较小，测试效率较低，如果增加输入值的变化量，芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值会不准确，影响测试精确度。
技术实现思路
鉴于
技术介绍
的不足，本专利技术是提供了一种集成电路测试方法，所要解决的技术问题是在不影响测量精确度的情况下，提高集成电路跳变测试的测试效率。为解决以上技术问题，本专利技术提供了如下技术方案：一种集成电路测试方法，包括以下步骤：S1：集成电路的输入管脚接入信号源，信号源向集成电路输入的信号可调；S2：测试开始，调节信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；S3：将信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；S4：再次测试，调节信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步距调节信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，停止测试。跳变测试有测量起始值和测量终值，信号源输出的信号从测量起始值开始逐渐调节到测量终值，将测量终值减去测量起始值后再除以15至20中任一整数得到大步距，小步距是大步距的十分之一。进一步，信号源包括电压源或者电流源。进一步，信号源输出信号的幅度、频率和占空比可调。在测试时，先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，即信号源的输出信号从规格下限开始，然后每次增加一个大步距，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值。将第一跳变值后退两个大步距为信号源输出信号的第二测试起始值，然后每次增加一个小步距，再次出现状态跳变时信号源的输出信号值就是测量结果。本专利技术与现有技术相比所具有的有益效果是：先确定集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，然后在区间内小步距调节信号源的输出信号，直至集成电路的输出管脚再次出现状态跳变，进而在保证测试精确度的同时减少测试时间，提高测试效率。附图说明本专利技术有如下附图：图1为本专利技术的信号源的大步距调节示意图；图2为本专利技术的信号源的小步距调节示意图。具体实施方式现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。实施例一如图1-2所示，一种集成电路测试方法，包括以下步骤：S1：集成电路的输入管脚接入信号源，信号源用向集成电路输入的信号可调；S2：测试开始，调节信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；S3：将信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；S4：再次测试，调节信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步距调节信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前信号源输出的信号值大小，停止测试。本实施例中，信号源输出的是电压信号，电压幅值是变化可调的，具体变化过程如图1所示，信号源输出的电压信号每次增加一个大步距，当电压信号增加到A处时，集成电路的输出管脚发生状态跳变，此时将电压信号大小调节至B点，即将电压幅值后退两个大步距，然后按照图2进行小步距调节。图2中，电压信号从B处开始调节，每次增加一个小步距，如果电压信号在增加到C处时，集成电路的输出管脚发生状态跳变，则C处便是测量结果。其中，将A处的电压信号后退两个大步距到B处是为了避免退一个步距时，电压信号刚好处于临界状态。进一步，小步距是大步距的十分之一；信号源还可以是电流源，集成电路的输入管脚还可输入不同频率、不同占空比的电压或者电流信号进行测试，具体测试步骤如上。表格1为现有测试方法和本专利技术的测试数据表格，其中，规格下限为测量起始值，规格上限为测量终值。从表格1可以得到，在测量结果相同时，本专利技术所用的时间大约是现有测试方法的四分之一，降低了测试时间，提高测试效率。具体表格如下：表1实施例二本实施例中，信号源是电压信号，测量起始值为3.0V，测量终值为5.0V，将测量终值减去测量起始值，然后除以二十，则大步距为0.1V,小步距为0.01V。跳变测试时，信号源输出的电压从3.0V开始，每次增加0.1V，当信号源输出的电压为4.0V时，集成电路的输出管脚出现状态跳变，则将信号源的输出电压调至3.8V，然后每次增加0.01V，直至集成电路的输出管脚再次出现状态跳变。相比较与从3.0V开始，每次增加0.01V进行测试，先大范围确定出现状态跳变时信号源的数据区间，然后区间内小范围测试出现状态跳变时信号源的具体电压输出值，能节约测试时间。上述依据本专利技术为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项专利技术技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项专利技术的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于：包括以下步骤：/nS1：集成电路的输入管脚接入信号源，所述信号源向集成电路输入的信号可调；/nS2：测试开始，调节所述信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前所述信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；/nS3：将所述信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；/nS4：再次测试，调节所述信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前所述信号源输出的信号值大小，停止测试；/n上述步骤S2与S3中的大步距是将所述信号源输出信号的测量终值减去测量起始值后再除以15到20中的任一整数得到，上述步骤S4中的小步距是大步距的十分之一。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1：集成电路的输入管脚接入信号源，所述信号源向集成电路输入的信号可调；
S2：测试开始，调节所述信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前所述信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；
S3：将所述信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；
S4：再次测试，调节所述信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步...

【专利技术属性】
技术研发人员：周国成，
申请(专利权)人：无锡矽鹏半导体检测有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32