一种TOSA芯片的光学性能测试系统技术方案

本发明专利技术提供TOSA芯片技术领域，具体涉及一种TOSA芯片的光学性能测试系统。包括沿着TOSA芯片的发射光信号光路设置的准直器件、隔离器件和分光器件，以及设置在分光器件两路分光光路的第一聚焦器件和第二聚焦器件，以及且分别与第一聚焦器件和第二聚焦器件聚焦点配合设置的第一光接收器和第二光接收器，所述第一光接收器与一功率测试模块连接，所述第二光接收器与一频谱测试模块连接。本发明专利技术的有益效果在于，与现有技术相比，本发明专利技术通过一种TOSA芯片的光学性能测试系统，成本低，结构简单，便于安装和维护，还能有效解决TOSA芯片功率检测不准确的问题。

An optical performance test system of Tosa chip

【技术实现步骤摘要】
一种TOSA芯片的光学性能测试系统
本专利技术提供TOSA芯片
，具体涉及一种TOSA芯片的光学性能测试系统。
技术介绍
在TOSA工艺中，TOSA芯片的筛选流程极其重要，需要避免不合格的TOSA芯片流到后续流程中，才能顺利避免TOSA性能出现问题。然而，TOSA成品一般是没法进行芯片更换的，这就导致这个TOSA相关的物料全部报废。为了提升TOSA良率，我们需要对所用芯片进行光学性能测试，主要包括特定工作电流条件下芯片的功率和频谱测试。但是，由于TOSA芯片的发散角一般都比较大，实验室常用的功率计探头很难准确测得芯片功率。为了解决上述问题，可采用积分球，但是，积分球成本较高。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种TOSA芯片的光学性能测试系统，解决TOSA芯片的发散角一般都比较大，实验室常用的功率计探头很难准确测得芯片功率的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种TOSA芯片的光学性能测试系统，包括沿着TOSA芯片的发射光信号光路设置的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种TOSA芯片的光学性能测试系统，其特征在于：包括沿着TOSA芯片的发射光信号光路设置的准直器件、隔离器件和分光器件，以及设置在分光器件两路分光光路的第一聚焦器件和第二聚焦器件，以及且分别与第一聚焦器件和第二聚焦器件聚焦点配合设置的第一光接收器和第二光接收器，所述第一光接收器与一功率测试模块连接，所述第二光接收器与一频谱测试模块连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种TOSA芯片的光学性能测试系统，其特征在于：包括沿着TOSA芯片的发射光信号光路设置的准直器件、隔离器件和分光器件，以及设置在分光器件两路分光光路的第一聚焦器件和第二聚焦器件，以及且分别与第一聚焦器件和第二聚焦器件聚焦点配合设置的第一光接收器和第二光接收器，所述第一光接收器与一功率测试模块连接，所述第二光接收器与一频谱测试模块连接。


2.根据权利要求1所述的光学性能测试系统，其特征在于：所述准直器件为非球面透镜，且所述非球面透镜的入射面与TOSA芯片的发射端距离为0.1mm至1mm。


3.根据权利要求1所述的光学性能测试系统，其特征在于：所述分光器件为50/50分光器。


4.根据权利要求1所述的光学性能测试系统，其特征在于：所述第一光接收器和第二光接收器均为多模光纤。


5.根据权利要求1至4任一所述的光学性能测试系统，其特征在于：所述光学性能测试系统包括TOSA芯片放置平台和光路测试平台，所述TOSA芯片放置平台设有放置TOSA芯片的放置位，所述准直器件、隔离器件、分光器件、第一聚焦器件、第...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱腾飞，
申请(专利权)人：昂纳信息技术深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44