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本发明涉及集成电路测试领域,公开了一种集成电路测试方法，在进行跳变测试时，先确定集成电路输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区间，即大步距调节信号源输入集成电路的信号值，直至集成电路的输出管脚出现状态跳变，然后将信号源的输出信号值后退两...
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