【技术实现步骤摘要】
一种PCB损耗测试方法
本专利技术涉及PCB测试
,尤其是涉及一种PCB损耗测试方法。
技术介绍
5G时代的来临使得印制电路板行业进入了高速高频化进程,当信号传输达到Gbps时,信号高低电平切换的上升和下降速度非常快,损耗、反射和串扰等因素对信号质量的影响巨大。评价信号质量的优劣,损耗是第一因素。目前,业内认可的测量损耗的方法有五种:EBW(有效带宽法)、RIE(根脉冲能量法)、SPP(短脉冲传播法)、SET2DIL(单端TDR差分插入损耗法)、FD(频域法),以上五种测量方法最精确的为FD(频域法),但该方法耗时长,测试一次损耗平均要耗费两个小时或以上,严重降低了从事者的工作效率。一直以来,业内从事者都想得到如何能在保证得到准确的损耗的同时提高测量速率的方法。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本专利技术提出一种PCB损耗测试方法,能够有效提高测量损耗的效率,更便捷地得到传输线的损耗。本专利技术的一个实施例提供了一种PCB损耗测试方法,所述方法包括:< ...
【技术保护点】
1.一种PCB损耗测试方法,其特征在于,所述方法包括:/n选取长度不等的第一传输线和第二传输线,所述第一传输线和所述第二传输线为PCB板上的传输线;/n用线缆连接网络分析仪和电子标准件,利用所述网络分析仪和所述电子校准件校准所述线缆,校准完毕后分离所述电子校准件;/n在所述第一传输线的两端连接第一SMA夹具测试模块,在所述第二传输线的两端连接第二SMA夹具测试模块;/n将SMA连接器连接到所述第一SMA夹具测试模块,将所述线缆连接到所述SMA连接器,通过读取所述网络分析仪的读数获取所述第一传输线的损耗值;/n将SMA连接器连接到所述第二SMA夹具测试模块,将所述线缆连接到所 ...
【技术特征摘要】
1.一种PCB损耗测试方法,其特征在于,所述方法包括:
选取长度不等的第一传输线和第二传输线,所述第一传输线和所述第二传输线为PCB板上的传输线;
用线缆连接网络分析仪和电子标准件,利用所述网络分析仪和所述电子校准件校准所述线缆,校准完毕后分离所述电子校准件;
在所述第一传输线的两端连接第一SMA夹具测试模块,在所述第二传输线的两端连接第二SMA夹具测试模块;
将SMA连接器连接到所述第一SMA夹具测试模块,将所述线缆连接到所述SMA连接器,通过读取所述网络分析仪的读数获取所述第一传输线的损耗值;
将SMA连接器连接到所述第二SMA夹具测试模块,将所述线缆连接到所述SMA连接器,通过读取所述网络分析仪的读数获取所述第二传输线的损耗值;
根据所述第一传输线的损耗值和所述第二传输线的损耗值计算PCB损耗。
2.根据权利要求1所述的一种PCB损耗测试方法,其特征在于,所述第一传输线和所述第二传输线为单端传输线。
3.根据权利要求1所述的一种PCB损耗测试方法,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢健鸿,陈钟俊,李艳国,王国,
申请(专利权)人:广州兴森快捷电路科技有限公司,深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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