一种用于测试LED芯片的运动装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种对LED芯片进行测试的设备中的运动装置，本实用新型专利技术包括包括芯片台底板、安装座、电机、皮带轮，其中安装座安装在芯片台底板上；旋转电机固定于电机转架，旋转电机与小皮带轮连接，小皮带轮通过皮带与大皮带轮连接；大皮带轮的一端与花键轴连接，花键轴与传动板和载盘连接，花键轴由花键轴夹套固定；Z向调整电机与丝杠连接，丝杠安装于轴承座上，丝杠与Z向旋转电机连接，Z向旋转电机安装在滑轨上；通过凸轮，花键轴夹套、花键轴、传动板和载盘连接在一起。本实用新型专利技术的优点是可以有效提高结构的可靠性、以及延长装置的使用寿命，而且操作方便等。本实用新型专利技术可广泛应用于LED生产企业的检测中。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种对LED芯片进行测试的设备中的运动装置，具体是指一种新型的自动Z向θ向运动机构具体是指芯片的载盘在此机构中通过皮带轮进行θ向旋转， 来调整芯片的垂直度；通过丝杠运动进行Z向位置调整；通过凸轮机构实现载盘的上下运动点亮测试的功能。
技术介绍
目前随着绿色环保观念的深入及节能技术与产品的普及，LED做为一种新型绿色节能的光源产品，以其单位亮度高、功耗低、寿命长的实际优点成为用户替代传统光源的首选。其所具有的工作电压低、微型化、易于集成、驱动简单、耐冲击、使用稳定等特点使其应用范围不断增加，除大量用于制造传统的背景屏、景观灯、路灯、室内装饰灯具等，正向更广、更新的产品领域发展。随着LED产品需求量的高速增长，各生产企业的产能和产量的大幅增加，对现有的LED芯片的需求也随着不断地增加，而多个环节都会要求对芯片的质量进行检验；因此对芯片测试设备的功能和性能的要求会不断提高，同时为提高产能也会加大对此类设备的采购；由此可见随着LED产品应用的加深，此类设备和机构会拥有着良好的市场预期。目前市场上此类结构多以Z轴直接马达驱动螺杆结构，与本运动机构相比较，由于Z轴既要承担Z向位置调节功能又要承担Z向往复跳动的功能，因此结构的磨损会加大， 影响结构的精度，本运动结构将Z向调节位置由螺杆结构承担，Z向跳动由凸轮结构承担， 因此从设计阶段提高了结构的可靠性，延长了设备的寿命。
技术实现思路
本机构为LED芯片进行测试的设备中的主要结构部分；具体是实现芯片测试的载盘在此机构中进行θ向旋转，调整芯片的垂直度；通过丝杠运动进行Z向位置调整；通过凸轮机构实现载盘的上下运动点亮测试的功能。本技术采用的方案具体是—种用于测试LED芯片的运动装置，它包括芯片台底板、安装座、电机、皮带轮，其中安装座安装在芯片台底板上；旋转电机固定于电机转架，旋转电机与小皮带轮连接，小皮带轮通过皮带与大皮带轮连接；大皮带轮的一端与花键轴连接，花键轴与传动板和载盘连接，花键轴由花键轴夹套固定；Z向调整电机与丝杠连接，丝杠安装于轴承座上，丝杠与Z向旋转电机连接，Z向旋转电机安装在滑轨上；通过凸轮，花键轴夹套、花键轴、传动板和载盘连接在一起。本专利技术中的Z向是指三维立体中的一个方向，是指上下方向，这是相对于X、Y方向而言的。有益效果本技术可以有效提高结构的可靠性、以及延长装置的使用寿命，而且操作方便等。附图说明图1本技术的结构示意图1、芯片台底板2、安装座3、旋转电机4、电机转架5、小皮带轮6、大皮带轮7、传动板8、载盘9、花键轴10、花键轴夹套11、轴承座12、丝杠13、滑轨14、凸轮15、Z向旋转电机16、Z向调整电机。具体实施方式以下结合附图对本技术的说明实施例1如附图1所示结构，一种用于测试LED芯片的运动装置，包括芯片台底板1、安装座2、电机、皮带轮，其中安装座2安装在芯片台底板1上；旋转电机3固定于电机转架4，旋转电机3与小皮带轮5连接，小皮带轮5通过皮带与大皮带轮6连接；大皮带轮6的一端与花键轴9连接，花键轴9与传动板7和载盘8连接，花键轴9由花键轴夹套10固定；Z向调整电机I6与丝杠I2连接，丝杠12安装于轴承座11上，丝杠12与Z向旋转电机15连接， Z向旋转电机15安装在滑轨13上；通过凸轮14，花键轴夹套10、花键轴9、传动板7和载盘 8连接在一起。在本技术中，将芯片台底板1安装到设备的XY运动装置上实现整个装置的X 向和Y向的运动及二者的复合运动，安装座2安装到芯片台底板1承载着机构的各个零件； 机构的θ向旋转调整角度的功能的实现通过启动安装在电机转架4上的旋转电机3、动力通过小皮带轮5传递到大皮带轮6上、大皮带轮6带动花键轴9、传动板7和载盘8 一起旋转进行角度调整；当要求对Z向高度进行调整来将载盘和上面的芯片提高到预备点亮位置时，通过启动Z向调整电机16，带动安装在轴承座11上的丝杠12、使安装在滑轨13上的Z向旋转电机上下移动；通过凸轮14、花键轴夹套10、花键轴9、传动板7和载盘8 一起实现系统的Z 向调整功能；当达到芯片预备点亮位置后，启动Z向旋转电机15带动凸轮14进行回转运动，通过花键轴9、花键轴夹套10、传动板7和载盘8，实现设备的功能。通过系统控制Z向往复跳动点亮过程循环重复进行，将整个蓝膜上的芯片都测试完毕，更换一新的蓝膜后继续重复工作，循环测试下一蓝膜上的芯片。本技术中的丝杠12上下运动带动花键轴9实现Z向位置调整；通过凸轮14 与花键轴9来实现载盘8的上下运动点亮测试的功能，通过皮带轮进行θ向旋转，来调整芯片的垂直度。本技术中，Z向θ向运动机构通过花键轴9的安装来保证精度，通过花键轴9 和花键轴夹套10来实现Z向的位置调整与Z向往复点亮功能的实现。通过安装在安装座 2后方的由丝杠12、轴承座11，滑轨13和上面的滑块组成的运动系统；Z向旋转电机15安装到上述的滑块上调节Z向位置；同样此结构也可安装到安装座的任一侧边和前方。Z向往复跳动点亮功能由Z向旋转电机15带动凸轮14旋转，通过花键轴夹套10实现花键轴9、 传动板7和载盘8的往复点亮芯片的功能。 本技术是芯片测试机的主要组成部分，将Z向位置调节功能和Z向重复点亮机构分开，可以提高机构的可靠性和寿命，同时凸轮机构能提高机构的运行效率。权利要求1. 一种用于测试LED芯片的运动装置，它包括芯片台底板(1)、安装座O)、电机、皮带轮，其特征在于安装座⑵安装在芯片台底板⑴上；旋转电机⑶固定于电机转架G)，旋转电机C3)与小皮带轮( 连接，小皮带轮( 通过皮带与大皮带轮(6)连接；大皮带轮(6)的一端与花键轴(9)连接，花键轴(9)与传动板(7)和载盘(8)连接，花键轴(9)由花键轴夹套(10)固定；Z向调整电机(16)与丝杠(12)连接，丝杠(12)安装于轴承座(11)上，丝杠(12)与Z向旋转电机(1 连接，Z向旋转电机(1 安装在滑轨(1 上；通过凸轮(14)，花键轴夹套(10)、花键轴(9)、传动板(7)和载盘(8)连接在一起。专利摘要本技术公开了一种对LED芯片进行测试的设备中的运动装置，本技术包括包括芯片台底板、安装座、电机、皮带轮，其中安装座安装在芯片台底板上；旋转电机固定于电机转架，旋转电机与小皮带轮连接，小皮带轮通过皮带与大皮带轮连接；大皮带轮的一端与花键轴连接，花键轴与传动板和载盘连接，花键轴由花键轴夹套固定；Z向调整电机与丝杠连接，丝杠安装于轴承座上，丝杠与Z向旋转电机连接，Z向旋转电机安装在滑轨上；通过凸轮，花键轴夹套、花键轴、传动板和载盘连接在一起。本技术的优点是可以有效提高结构的可靠性、以及延长装置的使用寿命，而且操作方便等。本技术可广泛应用于LED生产企业的检测中。文档编号G01M11/00GK202330634SQ20112047253公开日2012年7月11日 申请日期2011年11月24日 优先权日2011年11月24日专利技术者张九六, 李春生, 毛居全 申请人:杭州中为光电技术股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：毛居全，张九六，李春生，
申请(专利权)人：杭州中为光电技术股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：