一种支持CRC校验的智能卡的寿命测试方法和系统技术方案

本申请提供一种支持CRC校验的智能卡的寿命测试方法，包括：配置智能卡的CRC校验类型和文件内容更新列表；读取智能卡，保存各种CRC校验类型对应的初始值、文件内容更新列表中的初始文件内容；根据初始文件内容进行读写测试，同时辅以进行CRC校验测试和功能测试。通过将智能卡的读写测试、CRC校验测试和智能卡的功能测试相结合，使得在测试时可以尽早发现智能卡的故障问题，提高智能卡寿命测试的准确性和测试效率。本申请还提供一种智能卡的寿命测试系统，具有上述有益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种支持CRC校验的智能卡的寿命测试方法和系统
本申请涉及集成电路领域，特别涉及一种支持CRC校验的智能卡的寿命测试方法和系统。
技术介绍
智能卡是一种含有集成电路芯片的卡片，包含了微处理器、I/O接口及存储器等。提供数据的运算、访问控制及存储等功能，又称“集成电路卡”。英文名称为“IntegratedCircuitCard”或“SmartCard”，智能卡就是一个超微型的计算机系统，包括硬件(集成电路芯片)、操作系统(COS)、基于COS的文件系统及卡片应用等。常见的手机卡、银行卡、社保卡、身份证、物联网卡等都是智能卡。每一张智能卡都是有寿命的，使用的次数多了，工作时间长了也会老化，同时不适宜的外部环境还会加速智能卡的老化。当它接近或达到它的使用寿命时可能会出现各种各样的问题，有些可能还会给使用者带来一定程度的损失。一般地，同一类型的智能卡在相同的外部环境中的寿命基本上在一个稳定的范围之内。现有的技术一般是不停地对卡片上的特定的常用文件进行重复的读写，直到读出的值与写入的值不同即可判断卡片已老化。该方法虽简单直接，但存在误差，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种支持CRC校验的智能卡的寿命测试方法，其特征在于，包括：/n配置所述智能卡的CRC校验类型、系统运行权限和文件内容更新列表；其中，所述智能卡置于预设量度的测试环境中，所述预设量度包括温度、湿度、酸碱度和盐度中一种或任意几种的组合；/n设置卡片功能测试次数、寿命测试总次数、当前测试次数和校验频率；/n读取所述智能卡，计算并保存各种CRC校验类型对应的初始值；/n利用卡片功能测试脚本对所述智能卡进行功能检测，若功能检测失败次数超过所述卡片功能测试次数，则智能卡测试失败；/n若在所述卡片功能测试次数内检测成功，根据所述文件内容更新列表进行读写测试；/n若读写测试成功，则判断所述当前测试次数是...

【技术特征摘要】
1.一种支持CRC校验的智能卡的寿命测试方法，其特征在于，包括：
配置所述智能卡的CRC校验类型、系统运行权限和文件内容更新列表；其中，所述智能卡置于预设量度的测试环境中，所述预设量度包括温度、湿度、酸碱度和盐度中一种或任意几种的组合；
设置卡片功能测试次数、寿命测试总次数、当前测试次数和校验频率；
读取所述智能卡，计算并保存各种CRC校验类型对应的初始值；
利用卡片功能测试脚本对所述智能卡进行功能检测，若功能检测失败次数超过所述卡片功能测试次数，则智能卡测试失败；
若在所述卡片功能测试次数内检测成功，根据所述文件内容更新列表进行读写测试；
若读写测试成功，则判断所述当前测试次数是否满足校验频率；
若当前测试次数满足所述校验频率，根据所述各种CRC校验类型对应的初始值对所述智能卡进行CRC校验；
若CRC校验成功，对所述智能卡进行功能校验；
若读写测试失败，则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命；若CRC校验失败或功能校验失败，则将所述当前测试次数的修正值作为所述智能卡的寿命；
若功能校验成功，则当前测试次数加一；
判断当前测试次数是否小于寿命测试总次数；
若是，返回执行根据所述文件内容更新列表进行读写测试的步骤；
若否，则将所述寿命测试总次数作为所述智能卡的寿命。


2.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，根据所述文件内容更新列表进行读写测试包括：
利用文件内容更新校验脚本对所述文件内容更新列表中的文件内容进行更新，并与初始文件内容比对。


3.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，包括：
CRC校验类型包括COSCRC校验和EEPROMCRC校验。


4.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张六一，张汉就，李京宣，李子一，
申请(专利权)人：东信和平科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44