芯片老化测试系统、方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片老化测试系统、方法及装置，该提供的芯片老化测试系统包括上位机、与上位机连接的控制板，以及与控制板连接的测试板，上位机从老化测试请求中选择一个未执行过的老化测试项目作为测试板的当前老化测试项目，并向控制板发送与当前老化测试项目对应的老化测试命令，控制板上与老化测试命令对应的控制模块向测试板发送测试控制命令，测试板上的测试模块接收并执行测试控制命令，以完成当前老化项目的测试，当测试板执行完所有老化测试项目时，上位机输出老化测试结果，从而实现了对多个芯片老化测试项目的自动测试，提高了测试效率，降低了测试成本。

Chip aging test system, method and device

【技术实现步骤摘要】
芯片老化测试系统、方法及装置
本专利技术属于芯片测试
，尤其涉及一种芯片老化测试系统、方法及装置。
技术介绍
随着电子信息行业的迅猛发展，集成电路被广泛应用。近年来，国家出台一系列政策计划，大力扶植本土集成电路产业的发展，加速了我国独立自主设计芯片的进程。芯片老化测试即将芯片置于常温、高温、低温等不同环境下，让芯片运行于某个场景功能，然后对芯片的性能进行检测，属于芯片可靠性测试范畴。以往做芯片老化测试时，当一个测试项目完成后，需要手动切换至另一个测试项目。当涉及到高、低温老化测试时，一个测试项目完成后，需要将高低温箱恢复常温，然后取出测试板重新选择测试项目，再将高低温箱恢复到测试温度进行测试，整个测试过程非常浪费时间，同时不停地开启关闭高低温箱，浪费了大量的电能。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种芯片老化测试系统、方法及装置，旨在解决由于现有技术中芯片老化过程中手动切换测试项目导致的测试效率低下、测试成本高的问题。一方面，本专利技术提供了一种芯片老化测试系统，所述系统包括：上位机，用于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片老化测试系统，其特征在于，所述系统包括：/n上位机，用于从老化测试请求中选择一个未执行过的老化测试项目作为测试板的当前老化测试项目，向控制板发送与所述当前老化测试项目对应的老化测试命令，以及判断是否执行完所述老化测试请求中所有老化测试项目的测试，是则，输出所述老化测试请求对应的老化测试结果，其中，所述老化测试请求中包含多个老化测试项目；/n与所述上位机连接的所述控制板，用于接收所述上位机发送的所述老化测试命令，通过所述控制板上与所述当前老化测试命令对应的控制模块向所述测试板发送测试控制命令；以及/n与所述控制板连接的所述测试板，用于通过所述测试板上与所述当前老化测试项目对应的测试模...

【技术特征摘要】
1.一种芯片老化测试系统，其特征在于，所述系统包括：
上位机，用于从老化测试请求中选择一个未执行过的老化测试项目作为测试板的当前老化测试项目，向控制板发送与所述当前老化测试项目对应的老化测试命令，以及判断是否执行完所述老化测试请求中所有老化测试项目的测试，是则，输出所述老化测试请求对应的老化测试结果，其中，所述老化测试请求中包含多个老化测试项目；
与所述上位机连接的所述控制板，用于接收所述上位机发送的所述老化测试命令，通过所述控制板上与所述当前老化测试命令对应的控制模块向所述测试板发送测试控制命令；以及
与所述控制板连接的所述测试板，用于通过所述测试板上与所述当前老化测试项目对应的测试模块接收并执行所述测试控制命令，以完成所述当前老化测试项目的测试，其中，所述测试板上包含多个所述测试模块，每个所述测试模块用于一种老化测试项目的测试。


2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机与所述测试板连接，所述上位机还用于获取所述当前老化测试项目对应的总老化测试次数，以及获取所述测试板执行一次所述当前老化测试项目的当前测试结果，当所述当前测试结果为被测试芯片通过当前老化测试项目的本次测试时，判断获取到的当前老化测试次数是否达到所述总老化测试次数。


3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述上位机还用于当所述当前测试结果为被测试芯片未通过当前老化测试项目的本次测试时，通过所述上位机控制所述控制板上与所述被测试芯片对应的控制模块停止发送测试控制命令，记录所述被测试芯片的测试信息，和/或发出老化测试异常的提醒。


4.如权利要求1～3任意一项所述的系统，其特征在于，所述控制板上包含多个所述控制模块，以实现多个所述测试板同时执行多个相同或不同的老化测试项目的测试，其中，所述测试板上的多个所述测试模块为复位测试模块、休眠唤醒测试模块和掉电重启测试模块。


5.一种基于权利要求1所述芯片老化测试系统的芯片老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
所述上位机从所述老化测试请求中选择一个未执行过的老化测试项目作为所述测试板的当前老化测试项目，其中，所述老化测试请求中包含多个老化测试项目；
所述上位机向所述控制板发送与所述当前老化测试项目对应的老化测试命令；
所述控制板上与所述老化测试命令对应的控制模块向所述测试板发送测试控制命令；
所述测试板上与所述当前老化测试项目对应的测试模块接收并执行所述测试控制命令，以完成所述当前老化测试项目的测试，其中，所述测试板上包含多个所述测试模块，每个所述测试模块用于一种老化测试项目的测试；
所述上位机判断是否执行完所述老化测试请求中所有老化测试项目的测试，是则，所述上位机输出所述老化测试请求对应的老化测试结果，否则，跳转至所述上位机从所述老化测试请求中选择一个未执行过的老化测试项目作为所述测试板的当前老化测试项目，以对未执行过的老化测试项目进行测试。


6.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：珠海亿智电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44