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本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片老化测试系统、方法及装置，该提供的芯片老化测试系统包括上位机、与上位机连接的控制板，以及与控制板连接的测试板，上位机从老化测试请求中选择一个未执行过的老化测试项目作为测试板的当前老化测试项目，并向...
该专利属于珠海亿智电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海亿智电子科技有限公司授权不得商用。

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