一种集成电路测试设备机时管理系统技术方案

技术编号:22721392 阅读:40 留言:0更新日期:2019-12-04 04:59
本发明专利技术公开了一种集成电路测试设备机时管理系统,包括控制中心和电路测试中心,控制中心和电路测试中心实现双向连接,所述控制开关与检测中心实现双向连接,检测中心与机时模块实现双向连接,所述机时模块与机时检测控制中心实现双向连接,本发明专利技术涉及集成电路技术领域。该集成电路测试设备机时管理系统,通过控制中心和电路测试中心实现双向连接,可以大幅度加强机时计时设备的监控能力,不管集成电路测试设备如何运行或者工作都能第一时间得知,并进行正常运行还对使用时间进行记录,避免了丢失工作数据,让人们使用起来更加方便,这解决了目前现有的集成电路测试设备机时管理系统检测及监控措施做得不够好的问题。

A time management system for IC test equipment

The invention discloses an integrated circuit test equipment machine time management system, which includes a control center and a circuit test center, a control center and a circuit test center realize two-way connection, the control switch and the test center realize two-way connection, the test center and the machine time module realize two-way connection, the machine time module and the machine time test control center realize two-way connection Integrated circuit technology. The time management system of the integrated circuit test equipment realizes two-way connection through the control center and the circuit test center, which can greatly strengthen the monitoring ability of the time equipment. No matter how the integrated circuit test equipment runs or works, it can be known at the first time, and the normal operation can also record the use time, avoiding the loss of working data, so that people can use it To make it more convenient, this solves the problem that the current IC test equipment machine time management system detection and monitoring measures are not well done.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试设备机时管理系统
本专利技术涉及集成电路测试机时
,具体为一种集成电路测试设备机时管理系统。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示,它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺,把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上,然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术,主要体现在加工设备,加工工艺,封装测试,批量生产及设计创新的能力上,机时是使用计算机或其他机器、仪器的时间。通常以小时为计时单位。现有的集成电路测试设备机时管理系统检测及监控措施做得不够好,经常容易出现集成电路已经开始使用工作了,而机时计时设备缺没有正常启动,无法运行,这样会丢失大量的使用数据,将会给人们的使用带来巨大的麻烦,这极其不利于人们使用。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种集成电路测试设备机时管理系统,解决了现有的集成电路测试设备机时管理系统检测及监控措施做得不够好的问题。(二)技术方案r>为实现以上目的,本专利技术通过以下技术方案予以实现:一种集成电路测试设备机时管理系统,包括控制中心和电路测试中心,所述控制中心和电路测试中心实现双向连接,所述控制中心均与电路测试中心、结果分析仪、检测中心和机时模块实现双向连接,并且控制中心的输出端与控制开关的输入端连接,所述控制开关与检测中心实现双向连接,并且检测中心与机时模块实现双向连接,所述机时模块与机时检测控制中心实现双向连接,并且机时检测控制中心的输入端与控制中心的输出端连接,所述控制中心的输出端与检测数据存储中心的输入端连接,并且检测数据存储中心与数据输出中心实现双向连接,所述数据输出中心的输入端与控制中心的输出端连接。优选的,所述机时模块的输出端与电路测试中心的输入端连接,并且检测中心的输出端与电路测试中心的输入端连接。优选的,所述结果分析仪的输出端与电路测试中心的输入端连接,并且控制开关与电路测试中心实现双向连接。优选的,所述检测数据存储中心包括机时数据分类模块、电路数据分类模块、机时数据存储器和电路数据存储器。优选的,所述电路测试中心包括电路测试仪、电压测试仪和弱电检测仪,并且电路测试仪的输出端与电压测试仪的输入端连接,所述电压测试仪的输出端与弱电检测仪的输入端连接。优选的,所述数据输出中心包括信号发送模块、无线收发模块、usb接口和Type-c接口,并且信号发送模块和无线收发模块的输出端分别与usb接口和Type-c接口的输入端连接。优选的,所述机时检测控制中心包括身份确认模块、指令验证模块、指令接收模块和指令发送模块。(三)有益效果本专利技术提供了一种集成电路测试设备机时管理系统。具备以下有益效果:(1)、该集成电路测试设备机时管理系统,通过控制中心和电路测试中心实现双向连接,控制中心均与电路测试中心、结果分析仪、检测中心和机时模块实现双向连接,控制中心的输出端与控制开关的输入端连接,控制开关与检测中心实现双向连接,检测中心与机时模块实现双向连接,机时模块与机时检测控制中心实现双向连接,机时检测控制中心的输入端与控制中心的输出端连接,控制中心的输出端与检测数据存储中心的输入端连接,检测数据存储中心与数据输出中心实现双向连接,数据输出中心的输入端与控制中心的输出端连接,可以大幅度加强机时计时设备的监控能力,不管集成电路测试设备如何运行或者工作都能第一时间得知,并进行正常运行还对使用时间进行记录,避免了丢失工作数据,让人们使用起来更加方便,利于人们使用,这解决了目前现有的集成电路测试设备机时管理系统检测及监控措施做得不够好的问题。(2)、该集成电路测试设备机时管理系统,通过机时模块的输出端与电路测试中心的输入端连接,检测中心的输出端与电路测试中心的输入端连接,结果分析仪的输出端与电路测试中心的输入端连接,控制开关与电路测试中心实现双向连接,检测数据存储中心包括机时数据分类模块、电路数据分类模块、机时数据存储器和电路数据存储器,可以将集成电路测试设备和机时计时设备运行所收集到的数据全部进行单独保存,让后续有使用者需要提取数据时可以立即找到,而且能够保证数据的保密性,需啊哟有相应的权限才能进行使用,这让人们及时想要提取很长时间以前的数据仍然能够快速完整的找到相应的数据,利于人们使用,这解决了目前现有的集成电路测试设备机时管理系统对数据的保存不够隐秘和安全的问题。附图说明图1为本专利技术系统原理的结构框图;图2为本专利技术检测数据存储中心系统原理的结构框图;图3为本专利技术数据输出中心系统原理的结构框图;图4为本专利技术机时检测控制中心系统原理的结构框图。图中,1、控制中心;2、电路测试中心;3、结果分析仪;4、检测中心;5、机时模块;6、控制开关;7、机时检测控制中心;8、检测数据存储中心;9、数据输出中心;10、机时数据分类模块;11、电路数据分类模块;12、机时数据存储器;13、电路数据存储器;14、电路测试仪;15、电压测试仪;16、弱电检测仪;17、信号发送模块;18、无线收发模块;19、usb接口;20、Type-c接口;21、身份确认模块;22、指令验证模块;23、指令接收模块;24、指令发送模块。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-4,本专利技术实施例提供一种技术方案:一种集成电路测试设备机时管理系统,包括控制中心1和电路测试中心2,控制中心1和电路测试中心2实现双向连接,控制中心1均与电路测试中心2、结果分析仪3、检测中心4和机时模块5实现双向连接,结果分析仪3的输出端与电路测试中心2的输入端连接,控制开关6与电路测试中心2实现双向连接,检测数据存储中心8包括机时数据分类模块10、电路数据分类模块11、机时数据存储器12和电路数据存储器13,电路测试中心2包括电路测试仪14、电压测试仪15和弱电检测仪16,电路测试仪14的输出端与电压测试仪15的输入端连接,电压测试仪15的输出端与弱电检测仪16的输入端连接,机时模块5的输出端与电路测试中心2的输入端连接,检测中心4的输出端与电路测试中心2的输入端连接,控制中心1的输出端与控制开关6的输入端连接,控制开关6与检测中心4实现双向连接,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试设备机时管理系统,包括控制中心(1)和电路测试中心(2),所述控制中心(1)和电路测试中心(2)实现双向连接,其特征在于:所述控制中心(1)均与电路测试中心(2)、结果分析仪(3)、检测中心(4)和机时模块(5)实现双向连接,并且控制中心(1)的输出端与控制开关(6)的输入端连接,所述控制开关(6)与检测中心(4)实现双向连接,并且检测中心(4)与机时模块(5)实现双向连接,所述机时模块(5)与机时检测控制中心(7)实现双向连接,并且机时检测控制中心(7)的输入端与控制中心(1)的输出端连接,所述控制中心(1)的输出端与检测数据存储中心(8)的输入端连接,并且检测数据存储中心(8)与数据输出中心(9)实现双向连接,所述数据输出中心(9)的输入端与控制中心(1)的输出端连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试设备机时管理系统,包括控制中心(1)和电路测试中心(2),所述控制中心(1)和电路测试中心(2)实现双向连接,其特征在于:所述控制中心(1)均与电路测试中心(2)、结果分析仪(3)、检测中心(4)和机时模块(5)实现双向连接,并且控制中心(1)的输出端与控制开关(6)的输入端连接,所述控制开关(6)与检测中心(4)实现双向连接,并且检测中心(4)与机时模块(5)实现双向连接,所述机时模块(5)与机时检测控制中心(7)实现双向连接,并且机时检测控制中心(7)的输入端与控制中心(1)的输出端连接,所述控制中心(1)的输出端与检测数据存储中心(8)的输入端连接,并且检测数据存储中心(8)与数据输出中心(9)实现双向连接,所述数据输出中心(9)的输入端与控制中心(1)的输出端连接。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备机时管理系统,其特征在于:所述机时模块(5)的输出端与电路测试中心(2)的输入端连接,并且检测中心(4)的输出端与电路测试中心(2)的输入端连接。


3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备机时管理系统,其特征在于:所述结果分析仪(3)的输出端与电路测试中心(2)的输入端连接,并且控制开关(6)与电路测...

【专利技术属性】
技术研发人员:向彦瑾
申请(专利权)人:四川豪威尔信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:四川;51

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