元件通电测试方法与通电测试系统技术方案

一种元件通电测试方法，由一通电测试系统执行，以同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述通电测试系统包含一电源供应装置，及一示波装置，所述电源供应装置分别提供一正向电流、一正向电压到所述双端元件的阳极、阴极，及一脉波信号到所述三端元件，所述脉波信号N次切换于一第一准位与一第二准位间，所述脉波信号处于所述第一准位时，所述示波装置得到一关于所述双端元件的第一电流信息，及一关于所述三端元件的第二电流信息，所述脉波信号处于所述第二准位使所述三端元件不导通时，所述示波装置得到各自关于所述双端元件、所述三端元件的第一、第二电压信息。

Power on test method and power on test system of components

【技术实现步骤摘要】
元件通电测试方法与通电测试系统
本专利技术涉及一种测试，特别是指一种离散元件测试技术。
技术介绍
现有的双端电子元件或三端电子元件，特别是指二极管与作为开关的晶体管而言，制造完成后，在测试阶段的可靠度验证项目，主要为对电子元件施以顺向断续通电(IFOL：IntermittentForwardOperatingLife)，及高温逆向偏压(HTRB：HighTemperatureReverseBias)，并长时间的持续反复通电做测试，以观察二极管或晶体管在此两种试验项目下的元件耐受度。由于双端电子元件与三端电子元件接脚数的不同，且顺向断续通电及/或高温逆向偏压为两种独立的验证项目，需由不同电路分开测试，以现有的可靠度测试方法，各自适用的测试电路并不相同而无法同时整合在同一电路做测试，且基于电子元件的可靠度验证需要经过长时间(通常至少为1000小时)的反复试验而甚为费时。倘若考虑到产品交期问题，电子元件制造完成后的测试阶段所花费的时间将是主要考验，因此，现有的双端电子元件或三端电子元件，特别是二极管与晶体管的测试方法有改善的必要。
技术实现思路
本专利技术的一目的在于提供一种可同时测试一个双端元件与一个三端元件的通电测试方法。本专利技术元件通电测试方法，由一通电测试系统执行，以同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，所述通电测试系统包含一电源供应装置，及一示波装置，所述电源供应装置包括一电连接所述双端元件的阳极的电流输出端、一电连接所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端的电压输出端，及一电连接所述三端元件的所述控制端的控制端，所述示波装置耦接于所述双端元件的阳极与阴极，并耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端，所述元件通电测试方法包含一步骤(A)、一步骤(B)、一步骤(C)，及一步骤(D)。所述步骤(A)为所述电源供应装置经由所述电流输出端提供一正向电流到所述双端元件的阳极，且经由所述电压输出端提供一正向电压到所述双端元件的阴极。所述步骤(B)为所述电源供应装置经由所述控制端提供一脉波信号到所述三端元件的所述控制端，且使所述脉波信号N次切换于一使所述三端元件导通的第一准位与一使所述三端元件不导通的第二准位间，N≧1。所述步骤(C)为当所述脉波信号处于所述第一准位使所述三端元件导通时，所述示波装置侦测流经所述双端元件的电流而得到一第一电流信息，且侦测流经所述三端元件的电流而得到一第二电流信息。所述步骤(D)为当所述脉波信号处于所述第二准位使所述三端元件不导通时，所述示波装置侦测所述双端元件的跨压而得到一第一电压信息，且侦测所述三端元件的跨压而得到一第二电压信息。本专利技术元件通电测试方法，所述示波装置包括一示波器、一电连接所述双端元件的阳极的第一电流探棒，及一电连接所述三端元件的所述第一端的第二电流探棒，所述步骤(C)包括以下子步骤：(C1)所述第一电流探棒侦测流经所述双端元件的电流而得到所述第一电流信息，且所述第二电流探棒侦测流经所述三端元件的电流而得到所述第二电流信息，及(C2)所述示波器分别接收来自所述第一电流探棒的所述第一电流信息，与接收来自所述第二电流探棒的所述第二电流信息。本专利技术元件通电测试方法，所述示波装置包括一示波器、一耦接于所述双端元件的阳极与阴极的第一电压探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端的第二电压探棒，所述步骤(D)包括以下子步骤：(D1)所述第一电压探棒侦测所述双端元件的跨压而得到所述第一电压信息，且所述第二电压探棒侦测所述三端元件的跨压而得到所述第二电压信息，及(D2)所述示波器分别接收来自所述第一电压探棒的所述第一电压信息，与接收来自所述第二电压探棒的所述第二电压信息。此外，本专利技术的另一目的，即在提供一种可同时测试一个双端元件与一个三端元件的通电测试系统。本专利技术通电测试系统，适用于同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，所述通电测试系统包含一电源供应装置，及一示波装置。所述电源供应装置包括一电流输出端、一电压输出端，及一控制端。所述电流输出端电连接所述双端元件的阳极，并提供一正向电流到所述双端元件的阳极。所述电压输出端电连接所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端，并提供一正向电压到所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端。所述控制端电连接所述三端元件的所述控制端，并提供一脉波信号到所述三端元件的所述控制端，使所述脉波信号N次切换于一使所述三端元件导通的第一准位与一使所述三端元件不导通的第二准位间，N≧1。所述示波装置耦接于所述双端元件的阳极与阴极，并耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端，当所述脉波信号处于所述第一准位使所述三端元件导通时，所述示波装置侦测流经所述双端元件的电流而得到一第一电流信息，且侦测流经所述三端元件的电流而得到一第二电流信息，当所述脉波信号处于所述第二准位使所述三端元件不导通时，所述示波装置侦测所述双端元件的跨压而得到一第一电压信息，且侦测所述三端元件的跨压而得到一第二电压信息。本专利技术通电测试系统，所述示波装置包括一示波器、一耦接于所述双端元件的阳极的第一电流探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端的第二电流探棒，所述第一电流探棒侦测流经所述双端元件的电流而得到所述第一电流信息，且所述第二电流探棒侦测流经所述三端元件的电流而得到所述第二电流信息，所述示波器分别接收来自所述第一电流探棒的所述第一电流信息，与接收来自所述第二电流探棒的所述第二电流信息。本专利技术通电测试系统，所述示波装置包括一示波器、一耦接于所述双端元件的阳极与阴极的第一电压探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端的第二电压探棒，所述第一电压探棒侦测所述双端元件的跨压而得到所述第一电压信息，且所述第二电压探棒侦测所述三端元件的跨压而得到所述第二电压信息，所述示波器分别接收来自所述第一电压探棒的所述第一电压信息，与接收来自所述第二电压探棒的所述第二电压信息。本专利技术通电测试系统，所述双端元件为一二极管。本专利技术通电测试系统，所述三端元件为一绝缘栅双极性晶体管(IGBT：InsulatedGateBipolarTransistor)。本专利技术通电测试系统，所述三端元件为一金氧半场效晶体管(MOSFET：Metal-Oxide-Semicondu-ctorField-EffectTransistor)。本专利技术通电测试系统，还包含一限流电阻，电连接所述双端元件的阴极、所述三端元件的所述第一端，及所述电压输出端。本专利技术的有益效果在于：通过所述电源供应装置同时电连接一个双端元件与一个三端元件，并利用三端元件的电气特性，以周期性的脉波输出控制三端元件导通或不导通，进而将用于对双端元件与三端元件的顺向断续通电、高温逆向偏压两种试验整合于同一电路，并通过所述示波装置观察相关于双端元件与三端元件的电流信息或电压信息，节省分开测试的时间。附图说明本专利技术的其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：图1是一电路图，说明一实施本专利技术元件通电测试方法的一实施例的通电测试系统；图2是一方块图，辅助说明所述通电测试系统；图3是一立体图，说明所述通电测试系统的实际外观；图4是一前本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种元件通电测试方法，由一通电测试系统执行，以同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，所述通电测试系统包含一电源供应装置，及一示波装置，所述电源供应装置包括一电连接所述双端元件的阳极的电流输出端、一电连接所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端的电压输出端，及一电连接所述三端元件的所述控制端的控制端，所述示波装置耦接于所述双端元件的阳极与阴极，并耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端，其特征在于，所述元件通电测试方法包含以下步骤：(A)所述电源供应装置经由所述电流输出端提供一正向电流到所述双端元件的阳极，且经由所述电压输出端提供一正向电压到所述双端元件的阴极；(B)所述电源供应装置经由所述控制端提供一脉波信号到所述三端元件的所述控制端，且使所述脉波信号N次切换于一使所述三端元件导通的第一准位与一使所述三端元件不导通的第二准位间，N≧1；(C)当所述脉波信号处于所述第一准位使所述三端元件导通时，所述示波装置侦测流经所述双端元件的电流而得到一第一电流信息，且侦测流经所述三端元件的电流而得到一第二电流信息；及(D)当所述脉波信号处于所述第二准位使所述三端元件不导通时，所述示波装置侦测所述双端元件的跨压而得到一第一电压信息，且侦测所述三端元件的跨压而得到一第二电压信息。...

【技术特征摘要】
1.一种元件通电测试方法，由一通电测试系统执行，以同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，所述通电测试系统包含一电源供应装置，及一示波装置，所述电源供应装置包括一电连接所述双端元件的阳极的电流输出端、一电连接所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端的电压输出端，及一电连接所述三端元件的所述控制端的控制端，所述示波装置耦接于所述双端元件的阳极与阴极，并耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端，其特征在于，所述元件通电测试方法包含以下步骤：(A)所述电源供应装置经由所述电流输出端提供一正向电流到所述双端元件的阳极，且经由所述电压输出端提供一正向电压到所述双端元件的阴极；(B)所述电源供应装置经由所述控制端提供一脉波信号到所述三端元件的所述控制端，且使所述脉波信号N次切换于一使所述三端元件导通的第一准位与一使所述三端元件不导通的第二准位间，N≧1；(C)当所述脉波信号处于所述第一准位使所述三端元件导通时，所述示波装置侦测流经所述双端元件的电流而得到一第一电流信息，且侦测流经所述三端元件的电流而得到一第二电流信息；及(D)当所述脉波信号处于所述第二准位使所述三端元件不导通时，所述示波装置侦测所述双端元件的跨压而得到一第一电压信息，且侦测所述三端元件的跨压而得到一第二电压信息。2.根据权利要求1所述的元件通电测试方法，其特征在于，所述示波装置包括一示波器、一耦接于所述双端元件的阳极的第一电流探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端的第二电流探棒，所述步骤(C)包括以下子步骤：(C1)所述第一电流探棒侦测流经所述双端元件的电流而得到所述第一电流信息，且所述第二电流探棒侦测流经所述三端元件的电流而得到所述第二电流信息，及(C2)所述示波器分别接收来自所述第一电流探棒的所述第一电流信息，与接收来自所述第二电流探棒的所述第二电流信息。3.根据权利要求1所述的元件通电测试方法，其特征在于，所述示波装置包括一示波器、一耦接于所述双端元件的阳极与阴极的第一电压探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端的第二电压探棒，所述步骤(D)包括以下子步骤：(D1)所述第一电压探棒侦测所述双端元件的跨压而得到所述第一电压信息，且所述第二电压探棒侦测所述三端元件的跨压而得到所述第二电压信息，及(D2)所述示波器分别接收来自所述第一电压探棒的所述第一电压信息，与接收来自所述第二电压探棒的所述第二电压信息。4.一种通电测试系统，适用于同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，其特征在于，所述通电测试系统包含：一...

【专利技术属性】
技术研发人员：江惠民，武仲良，陈智铭，黄稚为，
申请(专利权)人：强茂股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71