测试设备和其操作方法技术

本发明专利技术提供一种测试设备，其包含第一绝缘壳体；第二绝缘壳体，其经配置以耦合到所述第一绝缘壳体；和测试板，其包含第一部分和第二部分。所述第一绝缘壳体和所述第二绝缘壳体经配置以覆盖所述测试板的所述第一部分且暴露所述测试板的所述第二部分。

【技术实现步骤摘要】
测试设备和其操作方法
本专利技术大体涉及一种测试设备和其操作方法。
技术介绍
测试装置用于调制解调器电子装置和系统尤其是在相对高频率(例如，射频RF)下操作的电子装置和系统的制造和维护。在测试程序期间，为避免影响测试结果的外部干扰或噪声，受测试装置(DUT)可安置于测试板上，所述测试板放置于绝缘盒内。然而，此类封围或覆盖整个测试板和DUT的绝缘盒的大小和成本相对较大。另外，转换器(例如继电器或滤波器)与绝缘盒集成在一起以用于从测试板到外部测试设备(例如，电力供应器、示波器或数字控制电路)的信号发射(例如直流(DC)信号或相对低频率信号)。然而，此类转换器的设计可随测试板改变而变化且因此增加成本。此外，外部噪声或干扰可经由转换器或绝缘盒与转换器之间的空间进入绝缘盒，这可不利地影响测试结果。
技术实现思路
在一或多个实施例中，根据本专利技术的一个方面，一种测试设备包含第一绝缘壳体；第二绝缘壳体，其经配置以耦合到所述第一绝缘壳体；和测试板，其包含第一部分和第二部分。所述第一绝缘壳体和所述第二绝缘壳体经配置以覆盖所述测试板的所述第一部分且暴露所述测试板的所述第二部分。在一或多个实施例中，根据本专利技术的另一方面，一种测试设备包含第一绝缘罩盖；第二绝缘罩盖，其经配置以耦合到所述第一绝缘罩盖；和测试板，其中所述第一绝缘罩盖与所述第二绝缘罩盖通过所述测试板分隔开。附图说明图1说明根据本专利技术的一些实施例的测试设备的横截面图。图2A说明根据本专利技术的一些实施例的测试设备的横截面图。图2B说明根据本专利技术的一些实施例的测试设备的透视图。图3A、图3B和图3C说明根据本专利技术的一些实施例的测试板的俯视图。图4A、图4B和图4C说明根据本专利技术的一些实施例的用于操作测试设备的方法。贯穿图式和详细描述使用共同参考标号指示相同或类似元件。根据以下结合附图进行的详细描述将容易地理解本专利技术。具体实施方式图1说明根据本专利技术的一些实施例的测试设备1的横截面图。测试设备1包含绝缘盒10、转换器12、夹盘13、受测试装置(DUT)15和测试板19。绝缘盒10包含第一壳体10a(还称为第一罩盖、下部壳体或下部罩盖)和第二壳体10b(还称为第二罩盖、上部壳体或上部罩盖)。第一壳体10a具有底部表面和围绕或环绕其底部表面布置的侧向表面。第二壳体10b具有顶部表面和围绕或环绕其顶部表面布置的侧向表面。第一壳体10a的侧向表面经布置为对应于第二壳体10b的侧向表面(例如与其连续)以形成容纳DUT15和测试板19的空间10s(或室)。第一壳体10a与第二壳体10b紧密连接以防止外部电磁波辐射进入绝缘盒10以及影响测试结果。第二壳体10b在其顶部表面上界定开口或孔洞10bh以容纳夹盘13。在测试操作期间，夹盘13安置于开口10bh内且接触DUT15。绝缘盒10包含安置于第一壳体10a的一或多个侧向表面处的连接部件10c和12。举例来说，连接部件10c和12可穿透第一壳体10a的侧向表面以形成绝缘盒10的内部与绝缘盒10的外部之间的连接接口。在一些实施例中，连接部件10c与连接部件12可安置于第一壳体10a的同一侧向表面中。替代地，连接部件10c与连接部件12安置于第一壳体10a的不同侧向表面中。在一些实施例中，绝缘盒10可取决于设计规范而包含任何数目个连接部件。在一些实施例中，连接部件10c经配置为发射具有相对高频率的信号(例如，RF信号)。举例来说，连接部件10c经配置为发射具有从约500兆赫兹(MHz)到约12吉赫(GHz)、从约500MHz到约3GHz、从约500MHz到约6GHz、从约3GHz到约6GHz和/或从约6GHz到约12GHz的频率的信号。举例来说，连接部件10c是RF连接器。在一些实施例中，连接部件12经配置为发射具有相对低频率的信号或直流(DC)信号。举例来说，连接12经配置为发射供应器功率、数字信号等。举例来说，连接部件10c经配置为发射具有低于约500MHz的频率的信号。举例来说，连接部件12包含转换器、继电器或滤波器。举例来说，连接部件12可为具有连接器(例如，RS-232连接器)的电路板以发射低频率信号或DC信号。DUT15安置于测试板19上。在一些实施例中，DUT15是包含在高频率(例如，大于约500MHz)下操作的电路、模块或装置的芯片或裸片。DUT15可使用例如电线接合技术或倒装芯片技术电连接到测试板19。测试板19是电路板，例如印刷电路板(PCB)。测试板19可为单层PCB、双层PCB或多层PCB。在一些实施例中，测试板19可包含FR-1电路板、CEM-1电路板、CEM-3电路板、FR-4电路板或任何其它适合电路板。测试板19可包含电连接到连接部件10c和DUT15的接脚或节点的端子19a，其经配置以发射或接收高频率信号(例如，RF信号)。举例来说，测试板19的端子19a电连接到连接部件10c以将高频率信号从DUT发射到绝缘盒10外部的装置(例如，测试装置，例如示波器、向量网络分析器、频谱分析器等)和/或从绝缘盒10外部的装置接收高频率信号。测试板19可包含电连接到连接部件12和DUT15的接脚或节点的端子19b，其经配置以发射或接收DC信号或低频率信号(例如，数字信号)。举例来说，测试板19的端子19b电连接到连接部件12以从绝缘盒10外部的装置(例如，电力供应器、数字控制电路等)接收供应器功率或数字信号和/或将低频率信号从DUT15发射到绝缘盒10外部的装置。如图1中所示出，由于DUT15和测试板19被绝缘盒10覆盖或封围，因此由第一壳体10a和第二壳体10b界定的空间10s的宽度W11或长度等于或大于测试板19的宽度W12或长度。举例来说，测试板19的一端或测试板19的两个相对端可接触壳体10。举例来说，空间10s的横截面积等于或大于测试板19的横截面积。为此，可实施大绝缘盒10。然而，此类绝缘盒10可增加测试DUT15的成本。另外，可定制用于支撑绝缘盒10中的测试板19的支撑件(图1中未示出)以匹配测试板19的形状。因此，当使用不同种类的测试板时，可改变支撑件和绝缘盒以匹配测试板19的形状和大小，此还可增加测试DUT15的成本。此外，为了提供功率或数字信号到DUT15，连接部件12(例如，转换器、继电器或滤波器)可集成于绝缘盒10的第一壳体10a的侧向表面上。然而，外部噪声或干扰可经由连接部件12和/或连接部件12与第一壳体10a的侧向表面之间的空间进入绝缘盒10，这可不利地影响测试结果。另外，连接部件12的设计可随测试板的设计而变化且因此增加测试DUT15的成本。图2A说明根据本专利技术的一些实施例的测试设备2的横截面图。测试设备2包含绝缘盒20、夹盘23、受测试装置(DUT)25和测试板29。绝缘盒20包含第一壳体20a(还称为第一罩盖、下部壳体或下部罩盖)和经配置以耦合到第一壳体20a的第二壳体20b(还称为第二罩盖、上部壳体或上部罩盖)。第一壳体20a具有底部表面和围绕或环绕其底部表面布置的侧向表面。第二壳体20b具有顶部表面和围绕或环绕其顶部表面布置的侧向表面。第一壳体20a和第二壳体20b可为绝缘壳体。第一壳体20a的侧向表面经布置为对应于第二壳体20b的侧向表面(例如与其连续)以形成覆盖或容纳DUT25和测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试设备，其包括：第一绝缘壳体；第二绝缘壳体，其经配置以耦合到所述第一绝缘壳体；且其中所述第一绝缘壳体与所述第二绝缘壳体经配置以覆盖测试板的第一部分且暴露所述测试板的第二部分。

【技术特征摘要】
2018.04.18 US 15/956,7031.一种测试设备，其包括：第一绝缘壳体；第二绝缘壳体，其经配置以耦合到所述第一绝缘壳体；且其中所述第一绝缘壳体与所述第二绝缘壳体经配置以覆盖测试板的第一部分且暴露所述测试板的第二部分。2.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试板的所述第一部分包含经配置以发射或接收射频RF信号的第一连接部件。3.根据权利要求2所述的测试设备，其中所述第一绝缘壳体包含经配置以将所述RF信号发射到所述第一连接部件或从所述第一连接部件接收所述RF信号的第二连接部件。4.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试板的所述第二部分包含第一连接部件，且所述第一连接部件经配置以发射或接收低频信号或直流DC信号。5.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试板进一步包括安置于所述第一部分与所述第二部分之间的第三部分；所述第三部分与所述第二绝缘壳体和所述第一绝缘壳体接触；且所述第三部分包括接地元件。6.根据权利要求5所述的测试设备，其中所述接地元件从所述测试板的顶部表面延伸到所述测试板的底部表面。7.根据权利要求6所述的测试设备，其中所述第二绝缘壳体与所述接地元件的从所述测试板的所述顶部表面暴露的部分接触，且所述第一绝缘壳体与所述接地元件的从所述测试板的所述底部表面暴露的部分接触。8.根据权利要求7所述的测试设备，其中所述第一绝缘壳体包含面向所述测试板的所述第三部分的第一辐射吸收层；且所述第二绝缘壳体包含面向所述测试板的所述第三部分的第二辐射吸收层。9.根据权利要求5所述的测试设备，其中所述测试板进一步包含覆盖所述测试板的所述第一部分和所述第二部分且暴露所述测试板的所述第三部分的保护层。10.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述第一绝缘壳体和所述第二绝缘壳体界定一空...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛子宁，
申请(专利权)人：台湾福雷电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71