测试装置、测试系统和测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测试装置，其包含测试基座和反射器。所述测试基座界定容纳空间。所述反射器安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面。所述反射表面界定发射空间。

【技术实现步骤摘要】
测试装置、测试系统和测试方法
本专利技术涉及一种测试装置、一种测试系统和一种测试方法，且涉及用以使用非接触式技术(non-contacttechnique)来测试无线模块(wirelessmodule)的一种测试装置、一种测试系统和一种测试方法。
技术介绍
无线模块(例如：毫米波RF无线模块(mmWaveRFwirelessmodule))可以利用空中发射方式(overtheair，OTA)来做测试。此种测试可在测试房间(testingroom)(或测试室(testingchamber))中执行，其中(例如在其内部表面上)安置了多个吸收器。此种测试房间(或测试室)的体积相当大。举例来说，其大小可为6米(m)×6m×6m，或60厘米(cm)×60cm×60cm。另外，此种测试可能会花费很长时间。因此，此种测试可能不适合用以测试量产的装置，即，此种测试不适合做为大批量生产工艺或量产过程(massproductionprocess)中的一部分。
技术实现思路
根据一个方面，在一些实施例中，一种测试装置包含测试基座(testingsocket)和反射器(reflector)。所述测试基座界定容纳空间(accommodatingspace)。所述反射器安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面。所述反射表面界定发射空间(transmissionspace)。根据另一方面，在一些实施例中，一种测试装置包含测试夹具(testingfixture)和装置托座(deviceholder)。所述测试夹具界定第一开口和与所述第一开口相对的第二开口，且具有多个反射表面。所述反射表面界定所述第一开口与所述第二开口之间的发射空间。所述装置托座安置于所述发射空间中且界定上开口。所述装置托座包含至少一个第一信号发射部分和第二信号发射部分。所述装置托座的所述上开口对应于所述测试夹具的所述第一开口。所述第一信号发射部分和所述第二信号发射部分界定承接空间，且所述第二信号发射部分与所述上开口相对。根据另一方面，在一些实施例中，一种测试系统包含测试装置、电路板和测试器(tester)。所述测试装置包含测试基座、反射器和装置托座。所述测试基座界定第一开口、与所述第一开口相对的第二开口，和所述第一开口与所述第二开口之间的容纳空间。所述反射器安置于所述容纳空间中且具有多个反射表面。所述装置托座安置于所述容纳空间中且界定用以容纳受测装置(deviceundertest，DUT)的承接空间(receivingspace)。所述装置托座包含至少一个第一信号发射部分和第二信号发射部分。所述电路板安置于所述测试基座的所述第一开口上方且经配置以电连接到所述DUT。所述测试器安置于所述测试基座的所述第二开口下且电连接到所述电路板。所述测试器包含对应于所述测试基座的所述第二开口的测试天线。根据另一方面，在一些实施例中，一种测试方法包含：(a)提供测试板和DUT，所述DUT包含第一表面、与所述第一表面相对的第二表面，和邻近于所述第一表面的多个电接点；和(b)在所述DUT的所述第一表面上施加吸力，以使得所述DUT的所述电接点电连接到所述测试板。附图说明当结合附图阅读时，从以下详细描述易于理解本专利技术的一些实施例的方面。应注意，各种结构可能未按比例绘制，且各种结构的尺寸可出于论述清晰起见任意增大或减小。图1说明根据本专利技术的一些实施例的测试装置的剖面图。图2说明图1中所展示的测试装置的俯视图。图3说明图1的测试装置的装置托座的剖面图。图4说明图3中所展示的装置托座的立体图。图5说明根据本专利技术的一些实施例的装置托座的剖面图。图6说明图5中所展示的装置托座的立体图。图7说明图1的测试装置的测试基座的立体图。图8说明图1的测试装置的反射器的立体图。图9说明图1的测试装置的测试夹具的立体图。图10说明根据本专利技术的一些实施例的测试夹具的剖面图。图11说明根据本专利技术的一些实施例的测试夹具的剖面图。图12说明根据本专利技术的一些实施例的测试夹具的剖面图。图13说明根据本专利技术的一些实施例的测试夹具的剖面图。图14说明根据本专利技术的一些实施例的测试装置的剖面图。图15说明图14中所展示的测试装置的俯视图。图16说明图14和图15中所展示的装置托座的立体图。图17说明根据本专利技术的一些实施例的测试装置的剖面图。图18说明图17中所展示的测试装置的俯视图。图19说明图17和图18中所展示的装置托座的立体图。图20说明根据本专利技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图21说明根据本专利技术的一些实施例的测试方法的实例的一或多个阶段。图22说明根据本专利技术的一些实施例的测试方法的实例的一或多个阶段。图23说明图22中所展示的测试方法的一或多个阶段的俯视图。图24说明根据本专利技术的一些实施例的测试方法的实例的一或多个阶段。图25说明根据本专利技术的一些实施例的测试系统的辐射路径。图26说明根据本专利技术的一些实施例的测试系统的辐射路径。图27说明根据本专利技术的一些实施例的测试系统的各种尺寸。图28说明根据本专利技术的一些实施例的测试系统的示意图。具体实施方式贯穿图式和实施方式使用共同参考编号以指示相同或相似组件。从结合附图的以下详细描述将更容易理解本专利技术的实施例。以下揭示内容提供用于实施所提供主题的不同特征的许多不同实施例或实例。在下文描述组件和布置的特定实例以阐明本专利技术的特定方面。当然，这些组件、值、操作、材料和布置仅为实例且不希望为限制性的。举例来说，在本文中所提供的描述中，第一特征在第二特征上方或上的形成可包含第一特征以及第二特征直接接触地形成或安置的实施例，且也可包含额外特征可在第一特征与第二特征之间形成或安置使得第一特征与第二特征可不直接接触的实施例。另外，本专利技术可在本文中所提供的各种实例中重复参考数字和/或字母。此重复是出于简化和清楚的目的，且本身并不指示所论述各种实施例和/或配置之间的关系。在比较性测试过程中，受测装置(deviceundertest，DUT)可具有第一表面和与第一表面相对的第二表面。DUT可包含多个焊料凸块和天线。焊料凸块可安置于第一表面上，且天线可安置于第二表面上。在测试过程期间，测试夹具(testingfixture)从DUT的第二表面拾取(picksup)DUT。因此，测试夹具的硬材料(例如金属材料)可能会接触第二表面上的天线。因此，会不利地影响天线的效率(例如经由天线的变形)。如果DUT包含多个天线，那么DUT的天线可从不同方向发射信号。然而，用以接收DUT的天线的信号的测试天线处于固定位置。因此，在测试过程期间，DUT和测试夹具必须旋转360度，以使得来自DUT的所有信号可被测试天线接收到。此种测试夹具非常难以设计。本公开提供一种可在大批量生产(即，量产)期间用于生产线中的测试装置。在一些实施例中，测试装置包含安置于测试基座的容纳空间中的反射器，以使得反射器可将来自DUT的信号反射到测试天线。因此，可有效地减小测试装置的大小。本专利技术的一些实施例至少提供一种测试方法，其在DUT的第一表面上提供吸力以使得DUT的第一表面上的电接点电连接到测试板。图1说明根据本专利技术的一些实施例的测试装置1的剖面图。图2说明图1中所展示的测试装置1的俯视图。应注意，图1是沿着图2的线I-I截取的剖面图。测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其包括：测试基座，其界定容纳空间；以及反射器，其安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面，其中所述反射表面界定发射空间。

【技术特征摘要】
2017.11.28 US 62/591,674;2018.04.03 US 15/944,6721.一种测试装置，其包括：测试基座，其界定容纳空间；以及反射器，其安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面，其中所述反射表面界定发射空间。2.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述反射器界定第一开口和与所述第一开口相对的第二开口，且所述第一开口的宽度不同于所述第二开口的宽度。3.根据权利要求2所述的测试装置，其中所述第一开口的所述宽度大于所述第二开口的所述宽度。4.根据权利要求1所述的测试装置，其进一步包括：装置托座，其安置于所述反射器的所述发射空间中且界定承接空间。5.根据权利要求4所述的测试装置，其中所述装置托座包含承接部分和延伸部分，所述承接部分界定所述承接空间，且所述延伸部分从所述承接部分延伸到所述测试基座的上表面。6.根据权利要求5所述的测试装置，其中所述承接部分界定上开口、下开口和至少一个侧向开口，且由所述装置托座的所述承接部分界定的所述承接空间通过所述下开口和所述侧向开口与所述反射器的所述发射空间连通。7.根据权利要求4所述的测试装置，其中所述装置托座具有多个外部表面，其接触所述反射器的所述反射表面。8.一种测试装置，其包括：测试夹具，其界定第一开口和与所述第一开口相对的第二开口，且具有多个反射表面，所述反射表面界定所述第一开口与所述第二开口之间的发射空间；以及装置托座，其安置于所述发射空间中且界定上开口，所述装置托座包含至少一个第一信号发射部分和第二信号发射部分，其中所述装置托座的所述上开口对应于所述测试夹具的所述第一开口，所述第一信号发射部分和所述第二信号发射部分界定承接空间，且所述第二信号发射部分与所述上开口相对。9.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述装置托座进一步包含多个外部表面，所述外部表面接触所述测试夹具的所述反射表面。10.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述装置托座进一步包含至少一个延伸部分，所述延伸部分从所述第一信号发射部分延伸到所述测试夹具的上表面。11.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述第一信号发射部分界定侧向开口，所述第二信号发射部分界定下开口，且所述装置托座的所述承接空间通过所述下开口和所述侧向开口与所述发射空间...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄泓仁，王彦淳，朱镇国，刘伊浚，
申请(专利权)人：台湾福雷电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71