基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法，本方法是在常规PIM测试方法的基础上，在测试系统中加入缝隙波导结构，实现近场耦合PIM测试功能。包括低PIM带开缝的波导，调控耦合强度的介质板，缝隙尺寸及分布的优化方法。本发明专利技术能够用来评估微波部件材料非线性和接触非线性的大小，为微波部件低PIM设计和工艺控制提供指导，为生产环节中PIM来源提供检测方法，提高产品良率。

【技术实现步骤摘要】
基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法
本专利技术涉及一种基于缝隙波导近场耦合的针对微波部件金属连接结的无源互调测试装置及测试方法，属于无源互调测试

技术介绍
无源互调(PassiveInter-Modulation，简称“PIM”)是指两个或更多的不同频率的载波信号通过非线性无源器件所引起的对系统的额外干扰信号。在无线通信系统中，常见非线性无源器件有双工器、天线、馈线、射频线连接头等。如果这些互调失真信号落入接收频带内，且功率超过系统中的有用信号的最小幅度，则会使接收信号的信噪比下降，使接收机的灵敏度降低甚至无法正常工作，严重影响通信系统的容量和质量。随着通信系统的发展和系统质量的提高，对器件无源互调的测量越来越受到重视。目前PIM产物的主要测试方法是让43dBm(20W)的载波信号激励待测件，然后测量无源互调值。因为微波的特殊性，待测件多以完整的成品出现，只有当部件加工完成并装配后，才能进行检测。对于腔体器件，待测件成为一个黑盒子，潜在的PIM故障点存在于待测件内部。对于天线，需要在开阔的暗室中测试，而天线收发系统自身体积也较大。这些方法都只能评判器件PIM合格率，但不本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法，其特征在于，在常规PIM测试方法的基础上，在测试系统中加入缝隙波导结构，实现近场耦合PIM测试功能：具体步骤如下：1)测试时，待测件DUT放在缝隙波导上，在缝隙波导外壁的缝隙处，覆盖高介电常数的介质板以减弱外泄电磁场远场的强度，缝隙波导并没有形成辐射远场，在测试频段内，缝隙波导两端口的S21近似为0dBm，通过调控介质板的厚度以及波导缝隙的长度，可以控制待测件表面电流的强弱；2)待测件DUT，Device Under Test放置于介质板上，DUT的结构包括点线面类型的结构,其典型应用场景为：平板压接、圆柱插接和丝网搭接三类金属接触结构；根据研究的金属接...

【技术特征摘要】
1.基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法，其特征在于，在常规PIM测试方法的基础上，在测试系统中加入缝隙波导结构，实现近场耦合PIM测试功能：具体步骤如下：1)测试时，待测件DUT放在缝隙波导上，在缝隙波导外壁的缝隙处，覆盖高介电常数的介质板以减弱外泄电磁场远场的强度，缝隙波导并没有形成辐射远场，在测试频段内，缝隙波导两端口的S21近似为0dBm，通过调控介质板的厚度以及波导缝隙的长度，可以控制待测件表面电流的强弱；2)待测件DUT，DeviceUnderTest放置于介质板上，DUT的结构包括点线面类型的...

【专利技术属性】
技术研发人员：高凡，赵小龙，张松昌，贺永宁，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61