测试电子组件的设备及方法技术

本公开提供一种设备，其包含控制单元及包含计算机程序码的存储器。所述设备能够将具有第一值的第一信号及具有第二值的第二信号施加到电子组件且接收反馈信号。所述设备能够确定与所述第一反馈信号相关联的第一参数。所述设备能够将具有第三值的第三信号及所述第二信号施加到所述电子组件且接收第二反馈信号。所述设备能够确定与所述第二反馈信号相关联的第二参数。如果所述第一参数不同于所述第二参数，那么所述设备能够将具有第四值的第四信号及所述第二信号施加到所述电子组件。

【技术实现步骤摘要】
测试电子组件的设备及方法
本公开大体上涉及一种测试电子组件的设备及测试电子组件的方法。
技术介绍
在制造集成装置/电子组件之后，可进行分析或测试以验证集成装置/电子组件的功能。失败分析为在参数变化(例如，电压、电流及时序)下确定集成设备/电子组件的操作区域。举例来说，失败分析可用于确定集成装置/电子组件在各种输入信号的下可承受的限制。什穆(Shmoo)测试为测试中的一者，其可用于失败分析或用于集成装置的自动测试设备(ATE)中。什穆测试涉及以二维图/图式的形式(即，什穆图)提供集成装置的一系列测量结果的视觉表示。在什穆测试中，对ATE执行的每一个体测量可导致不合格或产生数值结果(例如，失效计数值或误码率)。在比较方法中，在宽参数范围内通过高分辨率且因此大量所需测量来产生什穆图。由于那些测量仅可连续执行，所以什穆图的产生为耗时的。
技术实现思路
提议一种用于改善集成装置的测试速度的方法及设备。在所提议的方法及设备中，完成什穆图需要较少测量，且因此集成装置/电子组件的测试的整体时间可减少。在所提议的方法及设备中，计算复杂度也减少且因此系统过载同样可减少。在一或多个实施例中，提供一种包含控制单元的设备及包含计算机程序码的存储器。存储器及计算机程序码经配置以通过控制单元使设备执行操作。设备能够将具有第一值的第一信号及具有第二值的第二信号施加到电子组件且接收第一反馈信号。设备能够确定与第一反馈信号相关联的第一参数。设备能够将具有第三值的第三信号及第二信号施加到电子组件且接收第二反馈信号。设备能够确定与第二反馈信号相关联的第二参数。如果第一参数不同于第二参数，那么设备能够将具有第四值的第四信号及第二信号施加到电子组件。其中第一差值存在于第三值与第一值之间，且其中第二差值存在于第四值与第一值之间。在一或多个实施例中，提供一种包含控制单元的设备及包含计算机程序码的存储器。存储器及计算机程序码经配置以通过控制单元使设备执行操作。设备能够接收与第一坐标的第一值及第二坐标的第二值相关联的第一参数。设备能够接收与第一坐标的第三值及第二坐标的第二值相关联的第二参数。如果第一参数不同于第二参数，那么设备能够接收与第一坐标的第四值及第二坐标的第二值相关联的第三参数。其中第一差值存在于第三值与第一值之间，且其中第二差值存在于第四值与第一值之间。在一或多个实施例中，提供一种用于测试电子组件的方法。方法包含接收与第一坐标的第一值及第二坐标的第二值相关联的第一参数。方法包含接收与第一坐标的第三值及第二坐标的第二值相关联的第二参数。方法包含如果第一参数不同于第二参数，那么接收与第一坐标的第四值及第二坐标的第二值相关联的第三参数。其中第一差值存在于第三值与第一值之间，且其中第二差值存在于第四值与第一值之间。附图说明当结合附图阅读时，从以下详细描述容易地理解本公开的方面。应注意，各种特征可能未按比例绘制，且各种特征的尺寸可出于论述的清晰起见而任意增大或减小。图1说明根据本公开的一些实施例的用于测试电子组件的设备的示意图。图2A说明根据本公开的一些实施例的受测试装置(DUT)的透视图。图2B说明根据本公开的一些实施例的DUT的一系列测量结果的视觉表示。图3A、3B、3C及3D为根据本公开的一些实施例的用于测试电子组件的各种操作。图4A、4B及4C为根据本公开的一些实施例的用于测试电子组件的各种操作。图5A及5B为根据本公开的一些实施例的在测试完成之后展示测量结果的视觉表示的示意图。图6A为根据本公开的比较实施例的电子组件的测量结果的视觉表示。图6B为根据本公开的一些实施例的电子组件的测量结果的视觉表示。图7A为根据本公开的比较实施例的电子组件的测量结果的视觉表示。图7B为根据本公开的一些实施例的电子组件的测量结果的视觉表示。图8A为根据本公开的比较实施例的电子组件的测量结果的视觉表示。图8B为根据本公开的一些实施例的电子组件的测量结果的视觉表示。图9A、9B及9C为根据本公开的一些比较实施例的用于测试电子组件的各种操作。图10A及10B为根据本公开的一些比较实施例的在测试完成之后展示测量结果的视觉表示的示意图。贯穿所述图式及实施方式使用共同参考数字以指示相同或类似元件。结合随附图式，从以下实施方式，本公开将更显而易见。具体实施方式以下公开内容提供用于实施所提供的主题的不同特征的许多不同实施例或实例。组件的特定实例及布置在下文描述。当然，此些仅为实例且不打算为限制性的。在本公开中，在以下描述中提及第一特征形成在第二特征上方或上可包含第一特征与第二特征直接接触地形成的实施例，且还可包含额外特征可在第一特征与第二特征之间形成，使得第一特征与第二特征可不直接接触的实施例。另外，本公开可在各种实例中重复参考标号及/或字母。此重复为出于简单性及清晰的目的，且本身不指示所论述的各种实施例及/或布置之间的关系。在下文更详细地论述本公开的实施例。然而，应了解，本公开提供可在广泛多种特定内容中体现的许多适用的专利技术性概念。所论述特定实施例仅为说明性的且并不限制本公开的范围。图1说明根据本公开的一些实施例的用于测试电子组件的设备的示意图。设备1可用于集成装置/电子组件的失败分析中。设备1可用于集成装置/电子组件的自动测试中。设备1包含计算装置2、控制装置4、测试装置6及负载板8。一或多个电子连接存在于计算装置2与控制装置4之间。一或多个电子连接存在于控制装置4与测试装置6之间。一或多个电子连接存在于测试装置6与负载板8之间。计算装置2包含处理单元10及存储器单元12。处理单元10可包含但不限于，例如，中央处理单元(CPU)、微处理器、专用指令集处理器(ASIP)、机器控制单元(MCU)、图形处理单元(GPU)、物理学处理单元(PPU)、数字信号处理器(DSP)、图像处理器、共处理器、存储控制器、浮点单元、网络处理器、多核处理器、前端处理器等等。处理单元10可电连接到存储器单元12。存储器单元12可包含但不限于随机存取存储器(RAM)，例如静态RAM(SRAM)或动态RAM(DRAM)。在一些实施例中，存储器单元12可包含只读存储器(ROM)。存储器单元12可包含用于存储最近已存取的数据的高速缓存存储器(未图示)，使得可更快地服务对所述数据的未来请求。存储于高速缓存中的数据可包含处理单元10的更早计算的结果。存储于高速缓存中的数据可包含存储于存储器单元12中的数据的副本。计算装置2包含安装于其上的用于产生用于测试的数据的应用程序接口(API)。通过API产生的数据可存储于存储器单元12中。控制装置4包含处理单元14、存储器单元16及一或多个输入/输出(I/O)端口18。处理单元14可包含但不限于，例如，中央处理单元(CPU)、微处理器、专用指令集处理器(ASIP)、机器控制单元(MCU)、图形处理单元(GPU)、物理学处理单元(PP本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种设备，其包括：/n控制单元；/n存储器，其包含计算机程序码；且/n其中所述存储器及所述计算机程序码经配置以通过所述控制单元使所述设备执行：/n将具有第一值的第一信号及具有第二值的第二信号施加到电子组件且接收第一反馈信号；/n确定与所述第一反馈信号相关联的第一参数；/n将具有第三值的第三信号及所述第二信号施加到所述电子组件且接收第二反馈信号；/n确定与所述第二反馈信号相关联的第二参数；及/n如果所述第一参数不同于所述第二参数，那么将具有第四值的第四信号及所述第二信号施加到所述电子组件，其中第一差值存在于所述第三值与所述第一值之间，且其中第二差值存在于所述第四值与所述第一值之间。/n

【技术特征摘要】
20190509 US 16/408,3281.一种设备，其包括：
控制单元；
存储器，其包含计算机程序码；且
其中所述存储器及所述计算机程序码经配置以通过所述控制单元使所述设备执行：
将具有第一值的第一信号及具有第二值的第二信号施加到电子组件且接收第一反馈信号；
确定与所述第一反馈信号相关联的第一参数；
将具有第三值的第三信号及所述第二信号施加到所述电子组件且接收第二反馈信号；
确定与所述第二反馈信号相关联的第二参数；及
如果所述第一参数不同于所述第二参数，那么将具有第四值的第四信号及所述第二信号施加到所述电子组件，其中第一差值存在于所述第三值与所述第一值之间，且其中第二差值存在于所述第四值与所述第一值之间。


2.根据权利要求1所述的设备，其进一步包括：
将具有第五值的第五信号及具有第六值的第六信号施加到所述电子组件且接收第三反馈信号：
将具有第七值的第七信号及所述第六信号施加到所述电子组件且接收第四反馈信号；
将具有第八值的第八信号及具有第九值的第九信号施加到所述电子组件且接收第五反馈信号；及
将具有第十值的第十信号及所述第九信号施加到所述电子组件且接收第六反馈信号；
其中与所述第三反馈信号相关联的第三参数不同于与所述第四反馈信号相关联的第四参数，且其中与所述第五反馈信号相关联的第五参数不同于与所述第六反馈信号相关联的第六参数。


3.根据权利要求2所述的设备，其进一步包括：
响应于所述第四信号及所述第二信号从所述电子组件接收第七反馈信号；
确定与所述第七反馈信号相关联的第七参数；及
如果所述第七参数不同于所述第一参数，那么将所述第一信号及具有第十一值的第十一信号施加到所述电子组件；
其中第三差值存在于所述第十一值与所述第二值之间。


4.根据权利要求2所述的设备，其进一步包括：
响应于所述第四信号及所述第二信号从所述电子组件接收第七反馈信号；
确定与所述第七反馈信号相关联的第七参数；及
如果所述第七参数等同于所述第一参数，那么将具有第十一值的第十一信号及所述第二信号施加到所述电子组件，其中所述第二差值存在于所述第十一值与所述第四值之间。


5.根据权利要求4所述的设备，其进一步包括：
响应于所述第十一信号及所述第二信号从所述电子组件接收第八反馈信号；
确定与所述第八反馈信号相关联的第八参数；及
在所述第八参数等同于所述第七参数且所述第十一值等于或大于第一阈值的情况下：
将具有第十二值的第十二信号及所述第六信号施加到所述电子组件；
其中所述第十二值在所述第五值与所述第七值之间。


6.根据权利要求5所述的设备，其进一步包括：
响应于所述第十二信号及所述第六信号从所述电子组件接收第九反馈信号；
确定与所述第九反馈信号相关联的第九参数；及
在所述第九参数等同于所述第三参数且所述第十二值等于或大于所述第一阈值的情况下：
将具有第十三值的第十三信号及所述第九信号施加到所述电子组件；
其中所述第十三值在所述第八值与所述第十值之间。


7.根据权利要求3所述的设备，其进一步包括：
如果所述第十一值等于第二阈值，那么将具有第十二值的第十二信号及所述第六信号施加到所述电子组件；
其中所述第十二值在所述第五值与所述第七值之间，且其中与所述第四反馈信号相关联的第四参数不同于与所述第三反馈信号相关联的第三参数。


8.根据权利要求6所述的设备，其进一步包括：
将所述第一参数、所述第二参数、所述第三参数、所述第四参数、所述第五参数、所述第六参数、所述第七参数、所述第八参数及所述第九参...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙俊宏，刘益廷，
申请(专利权)人：台湾福雷电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71